產品詳細介紹

LYFA3300變頻CT分析儀的(de)使(shi)用范圍與技術指(zhi)標

1.1 C T分析儀(yi)的(de)功能與使用場合

C T分析儀用(yong)于(yu)電(dian)流互感器的以下試驗：

1）勵磁特性(xing)試驗

2）匝數(shu)比(bi)檢(jian)測

3）比差與角差校驗

4）極(ji)性校驗

5）二(er)次繞組(zu)電阻測量

6）二次(ci)負荷測量(liang)

7）5%和10%誤差曲線測量

8）CT暫態特性測(ce)試與分析(xi)

9）CT銘牌(pai)自動推斷

10）拐(guai)點(dian)電壓/電(dian)(dian)流、準確限值系(xi)數(shu)、儀(yi)表保安系(xi)數(shu)、二次時間常數(shu)、剩磁系(xi)數(shu)、準確級、飽(bao)和(he)與不飽(bao)及電(dian)(dian)感，拐(guai)點(dian)電(dian)(dian)動(dong)勢，極限電(dian)(dian)動(dong)勢和(he)面積(ji)系(xi)數(shu)等CT 參數的(de)測量

11）電流互感(gan)器鐵(tie)芯磁滯回線測(ce)量(liang)

C T分析儀(yi)還可用于電壓互(hu)感器的以(yi)下試驗：

1）PT匝數比(bi)檢(jian)測

2）PT極(ji)性校驗

3）PT二次繞(rao)組電阻測(ce)量(liang)

4）PT二次負荷測量

5) PT勵磁特性測量

 

裝置(zhi)的應用場合主要有：

1） CT銘牌的參數校驗

2） CT接入(ru)當前負荷時參數校(xiao)驗

3） 分析CT的暫態特(te)性對(dui)繼電保(bao)護(hu)裝置的影響(xiang)。

4） PT的銘牌參數校驗

5） PT二次負荷校驗(yan)

1.2 C T分析儀技(ji)術指(zhi)標

1 測試標準依據(ju)：

 IEC60044-1, IEC60044-2, IEC60044-5, IEC60044-6, GB1207, GB1208,

GB16847, GBT4703, C57.13

2 輸入電源電壓： AC220V±10%，50Hz/60Hz±10%

3 輸(shu)出電壓： 0.1~180V(AC)

4 輸(shu)出電流： 0.001~5A(RMS)

5 輸出功率：500VA

6 zui高等效(xiao)拐點電(dian)壓：45KV

7 電流測(ce)量： 范(fan)圍(wei)：0~10A (自動量程0.1/0.4/2/10A)

誤(wu)差<±0.1%+0.01%FS

8 電壓(ya)測量： 范圍：0~200 V (自動量程1/10/70/200V)

誤差< ±0.1%+0.01%FS

9 匝數比測量： 范圍(wei)：1~35000，

1~2000 誤差<0.05%

2000~5000 誤差<0.1%

5000~35000 誤差<0.2%

10 相位測量(liang)： 精度(du)：±2min，分(fen)辨(bian)率：0.01min

11 二(er)次繞組(zu)電阻測量范圍： 范圍：0~8KΩ(自動量程2/20/80Ω/800Ω/8kΩ)

誤差< 0.2%RDG+0.02%FS， zui大分辨率：0.1mΩ

12 溫度測(ce)量：-50~100度， 誤差<3度

13 CT二(er)次負荷測量： 0～160ohm(2/20/80ohm/160ohm)

誤(wu)差0.2%RDG+0.02%FSzui大分辨率0.001ohm

14 PT二次負荷測量(liang)： 0～80kohm(800ohm/8kohm/80kohm)

誤差(cha)0.2%RDG+0.02%FSzui大(da)分辨率0.1ohm

15 PT匝數比(bi)測(ce)量： 范圍(wei)：1~30000，

1~5000 誤(wu)差(cha)<0.2%

5000~30000 誤差<0.5%

16 能夠按(an)照所選擇的標準，對(dui)測(ce)試結(jie)果進行(xing)自動(dong)評(ping)估，判斷互感器是否(fou)合(he)格

17 能(neng)夠同時檢測額定負荷和操作負荷下(xia)電流互感的比差(cha)與(yu)角差(cha)

18 具有自動(dong)生成WORD試驗報(bao)告功能

19 具備批量制作WORD試(shi)驗報告功能，一次可以將選擇(ze)的所有試(shi)驗文件制作成格(ge)式規范的WORD報告

20 能夠將(jiang)勵磁曲線(xian)與存(cun)儲的歷(li)史曲線(xian)進(jin)行自動對比

21 數據存儲組數：大于1000組

22 工作條(tiao)件： 溫(wen)度：-10℃～50℃， 濕(shi)度：≤90%

23 尺寸： 485mm×356mm×183mm

24 重量(liang)：15Kg

 

第二章 LYFA3300變頻CT分析儀硬(ying)件裝置

2.1 概述

C T分(fen)析儀(yi)外形和各部分(fen)的描述如圖2.1所示(shi)

2.2電源連接

C T分析儀(yi)電源輸入(ru)插座在(zai)儀(yi)器面板的(de)右側，如圖2.2所(suo)示。電源輸(shu)入范圍是AC220±10% ，50/60Hz±10%，電(dian)源(yuan)插座內部安裝(zhuang)有(you)5A保險。

2.3輸入與輸出

CT/PT分(fen)析儀的測(ce)試接口有3組：功率輸出，CT二次側/PT一次側(ce)輸入，CT一次(ci)側/PT二(er)次側輸(shu)入(ru)。

功率(lv)輸出(chu)端子(zi)：功率(lv)輸出(chu)接口(kou)，輸出(chu)電壓范(fan)圍是(shi)AC 0~180V，輸出電流AC0~5A

CT二次側/PT一(yi)次(ci)側輸入端子：

CT二次繞組/PT一(yi)次繞組電(dian)壓測(ce)量(liang)輸入接(jie)口(kou)，輸入信號的(de)電(dian)壓范圍是AC0~180V

CT一(yi)次側/PT二次側輸入端(duan)子：CT一次側/PT二(er)次側繞(rao)組電(dian)壓(ya)測量輸入(ru)接口，輸入(ru)信號(hao)的電(dian)壓(ya)范圍是AC0~5V

2.4硬件部(bu)分原理框圖(tu)

C T分析儀的(de)結構原(yuan)理如(ru)圖(tu)2.3所示，其中的恒(heng)壓恒(heng)流(liu)變頻(pin)電源模塊與AC220V電源輸入(ru)是*隔(ge)離的。通(tong)過DSP數據采集系統完成對恒壓恒流模塊(kuai)的(de)控制，可以使電源(yuan)輸出AC0~180V正弦電(dian)壓信號或者AC0~1A的(de)正弦電流信號。

DSP數(shu)(shu)據(ju)采(cai)集系(xi)(xi)統(tong)的(de)(de)主要功能是完(wan)成(cheng)對(dui)變(bian)頻(pin)電源控制和試驗過(guo)程(cheng)的(de)(de)數(shu)(shu)據(ju)采(cai)集。所(suo)有的(de)(de)數(shu)(shu)據(ju)分析，存儲和界面顯(xian)示都(dou)由工(gong)控機(ji)系(xi)(xi)統(tong)完(wan)成(cheng)，工(gong)控機(ji)內(nei)置了嵌入式(shi)XPE系(xi)統，并(bing)對系(xi)統的C盤(pan)進行的(de)自恢復保護(hu)，這樣(yang)可以(yi)有效的(de)避免軟件系(xi)統故障和病毒攻擊。儀(yi)器內部存儲(chu)空間(jian)>6G，zui大存儲數據>1000組(zu)。

2.5鍵盤

C T分析儀面板帶有一個16鍵(jian)的小鍵(jian)盤用于數據輸入(ru)，鍵(jian)盤的外(wai)形如(ru)圖(tu)2.4所示，其中(zhong)各個按鍵(jian)的(de)定義如下：

1）0~9 數字(zi)輸(shu)入鍵(jian)

2）∧向(xiang)上選(xuan)擇方向(xiang)鍵

3) ∨向(xiang)下選擇(ze)方向(xiang)鍵

4）＜刪除數據鍵

5）. 小數點輸入鍵

6）ESC 取消選擇鍵

7）確定選擇或輸入(ru)鍵(jian)

 

第三章 試驗連(lian)線

3.1 CT二次負荷

在進行CT二次負荷測(ce)量時請按照圖3.1連接C T分析儀(yi)和被(bei)測(ce)CT

具體接線步驟(zou)和說明如下：

1）將C T分(fen)析儀的接(jie)地(di)柱連接(jie)到保護(hu)地(di)PE

2）將按照圖(tu)3.1所示，斷開CT二次(ci)(ci)側和二次(ci)(ci)回路的連(lian)接

3）將C T分析儀(yi)功(gong)率輸出和CT二次(ci)側/PT一(yi)次側的黑色端子連接至二次負荷一(yi)側，參見(jian)圖(tu)3.1

4）將C T分(fen)析儀功(gong)率輸出和(he)CT二次(ci)側/PT一次側的(de)紅色端子連(lian)接至二次負(fu)荷(he)的(de)另一側

5）為了消除接觸電阻的影響，在(zai)連接CT分析儀的(de)端子時，CT二次側的連接端子(zi)應保持(chi)在功率輸出端子(zi)的內側，如(ru)圖3.2。

注(zhu)意：在進行CT二次(ci)負荷(he)測量時(shi)，必須要斷(duan)開被(bei)測CT二(er)次(ci)側(ce)與負載(zai)的連(lian)接，否則測量的結(jie)果將是CT二(er)次側與二(er)次負(fu)荷的并聯阻抗，這將導致(zhi)儀(yi)器(qi)獲得(de)錯(cuo)誤的試驗結果。并且(qie)在進(jin)(jin)行(xing)二(er)次負(fu)荷測(ce)量(liang)時儀(yi)器(qi)不進(jin)(jin)行(xing)退磁處理，因此如果CT二(er)次側未(wei)斷開將會導致CT進(jin)入飽和(he)狀態。

 

3.2 CT分析，變比，極性試(shi)驗接線(xian)圖

 

在進行CT分析(xi)，變比或極(ji)性試驗時請按(an)照(zhao)圖3.3連接C T分(fen)析儀和被測CT，這三個試驗項目(mu)的接線方(fang)式(shi)是*的

具體接(jie)線步驟和說明如下：

1）斷開電力線與CT一次側的(de)連接，未接地的(de)電力線較長，會(hui)給CT一(yi)次側的測量引入(ru)較(jiao)大干擾，參見圖3.4。

3）將CT一(yi)次(ci)側(ce)一(yi)端連接至C T分析儀(yi)CT一次側/PT二次側黑色端子(zi)

4）將CT一次側(ce)另一端連接至(zhi)C T分析(xi)儀CT一次(ci)側/PT二次側紅色(se)端子

5）將C T分(fen)析(xi)儀的(de)接地柱(zhu)連接到保護地PE

6）將按照圖3.3所示(shi)，斷開被測CT二(er)次(ci)側和二(er)次(ci)負(fu)荷的連接(jie)

7）將(jiang)C T分析儀(yi)功率輸出和CT二(er)次側/PT一次(ci)側的(de)黑色端子連接至CT二次側(ce)的一端，參見圖(tu)3.3

8）將(jiang)C T分析(xi)功(gong)率輸出和CT二次側(ce)/PT一次側的(de)紅色端子連接至CT二(er)次側另一端

9）為了消除接觸電阻對線圈電阻測量的(de)影(ying)響，在連(lian)接C T分析儀的端(duan)子(zi)時(shi)，CT二次側/PT一次(ci)側(ce)的連接端(duan)子(zi)應保(bao)持在(zai)功率輸出端(duan)子(zi)的內側(ce)，如圖3.4。

 

注意(yi)：在對變比值相(xiang)同的多繞組電流互感器(qi)進行CT分析或(huo)CT比(bi)差(cha)角(jiao)差(cha)測(ce)試(shi)時，沒(mei)有測(ce)試(shi)的二次繞組應全部(bu)短接，否則測(ce)試(shi)誤差(cha)將(jiang)會(hui)偏(pian)大

例如同時含有測(ce)量0.5級，保(bao)護10P10，暫態 Y三(san)個繞組的2000/1的CT，進行0.5級繞組的比(bi)差角差測量時應按(an)照圖3.4.1進行接線

3.3 CT線圈(quan)電阻測量接線圖(tu)

在(zai)測量CT線圈的直流電阻時，請(qing)按照(zhao)圖3.5連接儀器和被(bei)測(ce)CT。

1）將C T分析(xi)儀的接地(di)柱連接到(dao)保護(hu)地(di)PE

2）按照圖3.5所示(shi)，斷開被測CT二次側和二次負(fu)荷的連接

3）將(jiang)CPTT分析儀功率輸出和CT二次側/PT一(yi)次側(ce)的黑色端(duan)子連(lian)接(jie)至CT二(er)次側的一(yi)端，參見(jian)圖3.5

4）將C T分析功率輸出(chu)和CT二次(ci)側/PT一次(ci)側的紅色端子連(lian)接至CT二次側另一(yi)端(duan)

5）為了消(xiao)除接(jie)觸電(dian)阻對(dui)線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)的影(ying)響(xiang)，在連(lian)接(jie)C T分析(xi)儀(yi)的(de)端子時，CT二次側/PT一次側的(de)連(lian)接端子(zi)應保持在功率輸出端子(zi)的(de)內側，如圖(tu)3.4。

 

 

3.4 PT二(er)次負荷

在進行PT二次負(fu)荷(he)測量(liang)時請按(an)照圖(tu)3.6連接C T分析儀和被測PT

 

 

具體接線步(bu)驟(zou)和說明如下：

1）將C T分析儀的(de)接地柱(zhu)連接到(dao)保護地PE

2）將按照(zhao)圖3.6所示，斷開PT二(er)次側和二(er)次回路(lu)的連接

3）將C T分析儀功率輸出和CT二次(ci)側/PT一次側的黑色端子連(lian)接至二次負荷的一端，參見(jian)圖3.6

4）將(jiang)C T分析功率輸出(chu)和CT二次側/PT一次(ci)側的紅色(se)端子(zi)連接至(zhi)二(er)次(ci)負荷的另一端

5）為(wei)了消除接(jie)觸電阻的影(ying)響，在連接(jie)C T分析儀的端(duan)子時，CT二(er)次側/PT一次側(ce)(ce)的(de)連(lian)接端子應保持在功率輸出端子的(de)內(nei)側(ce)(ce)，如圖3.2。

3.5 PT線圈電阻測量接線圖

在(zai)測量PT線(xian)圈的(de)直流電(dian)阻時，請按照圖3.7連接儀器和被(bei)測PT。

1）將C T分析儀的(de)接(jie)地(di)(di)柱連接(jie)到(dao)保(bao)護地(di)(di)PE

2）按照圖3.7所(suo)示，斷開被測PT二(er)次側和二(er)次負(fu)荷的連接，或是斷(duan)開PT一(yi)次側與PT一次線(xian)路的連接

3）將CPTT分析儀功率輸出和(he)CT二(er)次側/PT一次側的黑色端子連接至PT二次側(ce)(或PT一次側)的一端(duan)，參見(jian)圖3.7

4）將(jiang)C T分析功率(lv)輸出和CT二次側/PT一次(ci)側的紅色端子連(lian)接至PT二(er)次側（或PT一(yi)次側）另一(yi)端

5）為(wei)了消(xiao)除接觸電阻對線(xian)圈(quan)電阻測量(liang)的影響，在連(lian)接C T分析儀的端子時，CT二次(ci)側(ce)/PT一次側的連接端子(zi)應保持在功率輸出端子(zi)的內側，如圖3.4。

 

 

3.6 PT匝數比(bi)，極性試驗(yan)接線圖

在(zai)進行PT變比或極性試驗(yan)時請按照圖(tu)3.9連接C T分析儀和被(bei)測PT，這兩個試驗項(xiang)目的接線方(fang)式是*的

具體接(jie)線(xian)步驟和說明如下：

 

 

1）將PT二(er)次側的(de)一端(duan)連接至C T分析儀CT一次側/PT二次側黑色端子(zi)

2）將PT二次側另一端連接至C T分(fen)析(xi)儀(yi)CT一次側/PT二次側紅(hong)色端子

3）將C T分析儀的(de)接地(di)柱連接到保護地(di)PE

4）將按照圖3.9所示，斷(duan)開(kai)被測PT二次側和(he)二次負荷的連接

5）將C T分析儀(yi)功(gong)率輸出和(he)CT二次(ci)側/PT一(yi)次側(ce)的黑色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接至(zhi)PT一次側的一端(duan)，參見圖3.9

6）將(jiang)C T分析功率輸出和CT二次側/PT一次側的紅色(se)端子連接(jie)至PT一次側另一端

7）為了消除接(jie)觸電阻對線圈電阻測量的影響，在連接(jie)C T分析(xi)儀(yi)的端子(zi)時，CT二次側/PT一次(ci)側(ce)的連接端(duan)子應(ying)保持在功率輸出端(duan)子的內側(ce)，如圖3.4。

3.7 PT勵磁試驗接(jie)線圖(tu)

在進行PT勵磁試驗(yan)時(shi)請按照圖(tu)3.10連接C T分析儀(yi)和(he)被測PT。

執行PT勵磁試驗(yan)時，需要外接PT勵磁(ci)試驗模塊，以防止發生高頻振蕩，造成(cheng)測試結果的電流過(guo)大

具體接(jie)線步(bu)驟和說明如(ru)下：

 

 

1）將PT二次側(ce)的(de)一端連(lian)接至C T分析儀CT二次側/PT一(yi)次側黑色端子

2）將PT二次側另一端連(lian)接至(zhi)C T分析儀CT二次側/PT一次側(ce)紅色端子

3）將PT勵磁模(mo)塊的黃(huang)色(se)/黑(hei)色(se)線連接至分析儀的功率輸出(chu)

4）將(jiang)PT二次側(ce)的一端(duan)連(lian)接至PT勵磁模塊的紅色(se)插座

5）將PT二次側(ce)的(de)另(ling)外一端(duan)連接至PT勵磁(ci)模塊(kuai)的黑色插座

6）將(jiang)C T分析儀的接地柱連接到保護(hu)地PE

7）將按照圖3.10所(suo)示，斷開被測PT二次側(ce)和二次負荷(he)的連接

8）為了消除接(jie)觸(chu)電阻對線圈(quan)電阻測量的影(ying)響，在連(lian)接(jie)C T分析(xi)儀的端子(zi)時，CT二次側(ce)/PT一次側(ce)的(de)連接(jie)端(duan)子(zi)應保持在(zai)功率輸出端(duan)子(zi)的(de)內(nei)側(ce)，如(ru)圖3.4。

 

注(zhu)意：PT勵磁試驗完成后，PT一次側可能有高(gao)壓殘留，一定要對PT一次側進行放電，否則將一次側再連(lian)接到儀器(qi)時，可能造成儀器(qi)損耗

 

第四章 用戶界(jie)面

4.1 儀(yi)器運行界(jie)面

C T分析儀軟件系統定義了6種運(yun)行狀態，這6種運行(xing)狀態(tai)分別為(wei)“等待(dai)新建試驗"，“等待(dai)查(cha)看歷史(shi)結果"，“等待(dai)試驗"，“運行(xing)"，“查(cha)看結果"和“查(cha)看歷史(shi)結果"。不同的狀態(tai)下軟(ruan)件顯示界(jie)(jie)面是不一樣(yang)的，但是整(zheng)個軟(ruan)件界(jie)(jie)面都(dou)是被劃分為(wei)5個區域，其(qi)劃分(fen)方式如圖4.1所示，5個區域分(fen)別為(wei)工具欄，儀(yi)器主工作(zuo)區（在等待試驗界面顯示為(wei)試驗項目(mu)選(xuan)擇(ze)和操作(zuo)命(ming)令選(xuan)擇(ze)，如(ru)圖4.1），儀(yi)器(qi)狀(zhuang)態信息欄(lan)，當前試驗參數欄(lan)和試驗控制欄(lan)。儀(yi)器(qi)處于不同的運行(xing)狀(zhuang)態時，僅僅是在(zai)主工作區對顯示(shi)界面(mian)進行(xing)切換。

4.2 儀器軟件工具欄

工具欄(lan)包(bao)含(han)了對儀器(qi)(qi)操(cao)作的各個命(ming)令按鈕，其中包(bao)括“新建試(shi)驗"，“保(bao)存"，“讀取"，“儀器(qi)(qi)設(she)置(zhi)"，“語言選擇"，“互感器(qi)(qi)設(she)置(zhi)"，“數據(ju)導出"和“使用幫(bang)助"等，各個儀器(qi)(qi)控制命(ming)令的詳細解釋如下(xia)。

 

 

4.2.1新建試驗

新(xin)建試驗是指結束當前的試驗窗口，軟(ruan)件返(fan)回至“等待新(xin)建試驗狀(zhuang)態"，在(zai)該狀(zhuang)態下圖(tu)4.1所示界面(mian)被加載，可以在(zai)該(gai)窗體中(zhong)選擇(ze)將要(yao)進行的試驗項(xiang)目(mu)，該(gai)窗體中(zhong)的試驗項(xiang)目(mu)包(bao)括“CT分析"，“CT比差角差測量"，“CT二(er)次負荷"，“CT極性檢(jian)查"，“CT線圈電阻測量"， “PT變比"，“PT二(er)次負荷"，“PT極性檢(jian)查"和“PT線(xian)圈電阻"，也可以(yi)在該狀態下重新啟(qi)動(dong)軟件(jian)或(huo)是關(guan)閉系(xi)統。

4.2.2 保存

保(bao)存按鈕是(shi)在完(wan)成試(shi)驗以(yi)后，保(bao)存儀器試(shi)驗結(jie)果(guo)和數據。在查看歷史結(jie)果(guo)時，如果(guo)用戶修(xiu)改(gai)當前的顯示(shi)模式（標準或(huo)互感器等級改(gai)變），可以(yi)通過此按鈕保(bao)存修(xiu)改(gai)后的結(jie)果(guo)。

儀器在(zai)保存試驗(yan)結果時文件的名(ming)稱是按照如下格式(shi)進行組織的：

年-月-日 時：分：秒 互感器編號(hao) 試驗名(ming)稱.cta

例如 2011-04-08 11：12：30 CT分析(xi).cta

其中時間(jian)部分是取(qu)自試(shi)驗啟動瞬間(jian)的系統時間(jian)，因(yin)此在查看歷史結(jie)(jie)果狀態修改試(shi)驗顯示模式(shi)后保存試(shi)驗結(jie)(jie)果，此時儀器將自動覆蓋(gai)原來的文件，而不(bu)會重(zhong)新為(wei)此文件創建一個副本。

4.2.3讀取

讀(du)取(qu)按(an)鈕的(de)功(gong)能是重(zhong)新導入已保存(cun)的(de)歷史數據，當用戶點擊讀(du)取(qu)按(an)鈕以后圖4.2所示窗體將會被加(jia)載(zai)。

 

 

在試(shi)驗(yan)讀取界面，窗體的(de)(de)左邊列出了當前儀(yi)器所(suo)保存的(de)(de)所(suo)有試(shi)驗(yan)文件(jian)名稱；右(you)邊是(shi)對(dui)保存文件(jian)的(de)(de)操(cao)作命令(ling)選(xuan)(xuan)擇；右(you)上角是(shi)儀(yi)器當前存儲的(de)(de)文件(jian)計數，其內(nei)容包(bao)括當前選(xuan)(xuan)擇的(de)(de)文件(jian)索引和當前存儲的(de)(de)文件(jian)總數。

文件讀取(qu)窗(chuang)體中的命令按鈕(niu)包(bao)括

1)“上一頁" 對文件顯示列(lie)表中(zhong)的內(nei)容進行(xing)向上翻(fan)頁

2)“下(xia)一頁" 對文件顯示列表中(zhong)的內容進行向下翻頁

3)“刪除所有(you)文(wen)件(jian)"刪除當(dang)前存儲在儀器中(zhong)的所有(you)試(shi)驗文(wen)件(jian)

4)“刪(shan)除文件(jian)"刪(shan)除當前所選(xuan)擇的文件(jian)

5)“取(qu)消"退出文件讀(du)取(qu)窗體

6)讀(du)取當前所選(xuan)擇的文件(jian)，儀器(qi)進入“查看歷(li)史(shi)結果界面"，

4.2.4 儀器設置

儀器設(she)置(zhi)按鈕用(yong)于設(she)置(zhi)儀器的運(yun)行參(can)數，點擊儀器設(she)置(zhi)按鈕圖4.3所(suo)示的(de)窗體會被加載(zai)。

 

 

儀(yi)器設(she)置界面中的(de)(de)系(xi)統運行參(can)數只會反映(ying)在儀(yi)器生成的(de)(de)試(shi)驗報告中，與試(shi)驗的(de)(de)流程控制無關(guan)，其中的(de)(de)各個參(can)數詳細定義如表4.1

表4.1 系統運行參數

 

參數(shu)名(ming)稱	含義
儀器ID	儀(yi)器(qi)的(de)(de)出廠識別號，所有的(de)(de)儀(yi)器(qi)都具有的(de)(de)ID
軟件ID	儀(yi)器的DSP軟件系統版本號
操(cao)作人員(yuan)	生成WORD試驗報(bao)(bao)告(gao)時，報(bao)(bao)告(gao)中(zhong)顯示的操作人員名字
試驗單位	生成WORD試(shi)(shi)驗(yan)(yan)報告時，報告中顯示的試(shi)(shi)驗(yan)(yan)單位
試驗地(di)點	生成WORD試驗(yan)報(bao)告(gao)時，報(bao)告(gao)中(zhong)顯示(shi)的試驗(yan)地點
報告頁眉	生成(cheng)WORD試(shi)驗報(bao)告時，報(bao)告頁眉部分的內容
報告(gao)頁腳	生成WORD試驗報告時，報告頁腳部分的內容
生成 報告(gao)時含磁滯回(hui)路曲線	在完成CT分析試(shi)驗后，將磁滯回線包含(han)在(zai)所生成的WORD報(bao)告中
在誤差曲線(xian)中使(shi)用整數一次(ci)電流倍數	在生成誤(wu)差曲(qu)線數據時只顯(xian)示一次電流整數倍數的數值

 

其(qi)余參(can)數均(jun)與(yu)試驗過程的控制有關，但是只涉(she)及CT測試時的試驗流程，與PT試(shi)驗沒有關系，其詳細含義如表4.2所示

 

參數名稱	含義
自動(dong)評估(gu)設置(zhi)	如果設為(wei)“關閉自動(dong)評估"，在(zai)CT分析試驗結束(shu)后，儀器給出各個參數數值，不會自動判定當前的試驗結果是(shi)否(fou)符合所(suo)選(xuan)標準的要求(qiu)。 如果設置(zhi)僅對操作負荷進行評估(gu)，在CT分析試(shi)(shi)驗結束(shu)后，儀器除給出試(shi)(shi)驗各參數(shu)的(de)數(shu)值外，還(huan)會依據CT所(suo)連(lian)接負荷為當前操作負荷時(shi)，自動判斷各項指(zhi)標是否(fou)符合所(suo)選(xuan)標準要求(qiu) 如果設置對額定和操作負荷進行評估，在CT分析(xi)試驗結束后，儀器除給出試驗各參數的數值外，還會(hui)分別(bie)對CT所連接負荷(he)(he)(he)為操作負荷(he)(he)(he)和(he)額定(ding)負荷(he)(he)(he)時，自(zi)動判斷各項(xiang)指標是否符合所選標準要求(qiu)
勵磁試驗控制	默認情況下，系統(tong)設置為自動獲取系統(tong)的(de)飽和電壓點，此參數用(yong)于(yu)對CT進(jin)行勵(li)磁試驗(yan)(yan)時的流程控制(zhi)，儀(yi)器會(hui)根(gen)據獲取的飽和電壓(ya)自動選取合適(shi)的試驗(yan)(yan)頻率。如果(guo)選擇(ze)“自動獲取"則儀(yi)器在進(jin)行勵(li)磁試驗(yan)(yan)之前會(hui)自動測量所連(lian)接CT的飽和電(dian)壓(ya)，否則(ze)儀器以設定的飽和電(dian)壓(ya)為準進行勵磁試驗。 注意：只有在(zai)“自動獲取"無(wu)法正確(que)獲得儀器的飽和電壓或者互感器的飽和電壓大于8KV時才將儀器設為(wei)人(ren)工(gong)設定模式，因為(wei)人(ren)工(gong)設定模式可(ke)能(neng)會導致不能(neng)獲得精(jing)細(xi)的勵(li)磁曲線
顯示(shi)簡化的勵磁數據	選中時勵磁曲線數(shu)據欄目(mu)將顯示(shi)zui多30個數據點(dian)，分(fen)別為拐點(dian)前15個數據點(dian)和拐(guai)點(dian)后15個數(shu)據(ju)點，這些數(shu)據(ju)點都是從勵磁曲線(xian)上(shang)等(deng)步長截取獲得的，顯示簡(jian)化數(shu)據(ju)時(shi)可以(yi)加(jia)快生成WORD文檔的速度(du) 未選中時儀器(qi)顯示實際獲取(qu)的(de)勵(li)磁數據點(dian)數，通常會大于100個點
1A/5A類型互感器判斷閾值	此(ci)(ci)參(can)數適用于銘牌(pai)自(zi)動推(tui)(tui)測(ce)工作模式，當用戶選擇了自(zi)動推(tui)(tui)測(ce)銘牌(pai)，并且互(hu)感(gan)器二次額(e)定電流未知時(shi)，儀(yi)器以(yi)此(ci)(ci)閾(yu)值來判斷互(hu)感(gan)器類(lei)型，線圈(quan)電阻小(xiao)于此(ci)(ci)閾(yu)值則認為(wei)是5A互感器，否(fou)則(ze)為1A互感器
1A互感器測(ce)量和(he)保(bao)護(hu)類型判斷(duan)閾值(zhi)	此(ci)參(can)數(shu)適用(yong)(yong)于銘(ming)(ming)牌自動(dong)推(tui)測工(gong)作模式，當(dang)用(yong)(yong)戶選(xuan)擇了(le)自動(dong)推(tui)測銘(ming)(ming)牌，并且(qie)互感器等(deng)級未(wei)知時，儀器以此(ci)閾值來判斷(duan)1A的互感器保護和(he)測量類型，飽(bao)和(he)電壓小于此閾值則(ze)認為是測量1A互感器，否則為(wei)保護1A互感器(qi)
5A互(hu)感器測(ce)量(liang)和保護類(lei)型判斷(duan)閾值	此參(can)數適用于銘牌自動推(tui)測工(gong)作模式，當用戶(hu)選擇了自動推(tui)測銘牌，并且(qie)互(hu)感(gan)器(qi)等級未知時，儀器(qi)以此閾值(zhi)來判斷5A的(de)互感器保護(hu)和測量類型，飽和電壓小于此閾值(zhi)則認為是測量5A互(hu)感器，否(fou)則為保護5A互感器
勵磁數據查(cha)找條件	設置為通過電壓查(cha)找電流時 在勵(li)磁曲線(xian)數據欄目(mu)中，輸入勵(li)磁電壓數值(zhi)儀器(qi)自動(dong)查找對應的勵(li)磁電流數值(zhi) 位置為通過電流查找電壓時 在勵磁曲(qu)線(xian)數據欄目(mu)中，輸入勵磁電流(liu)數值(zhi)儀器(qi)自(zi)動查找對(dui)應(ying)的勵磁電壓數值(zhi)

 

4.2.5 語言選(xuan)擇

CT分析儀支持漢語(yu)和英(ying)文兩種語(yu)言，此按(an)鈕(niu)用于系統語(yu)言的選擇(ze)和切換。點(dian)擊此按(an)鈕(niu)后圖4.4所示窗體被加載。選擇簡體中文后儀器的(de)工作語(yu)言為中文，選擇English則(ze)儀(yi)器的(de)工作語言變成英文

 

 

4.2.6 CT參數設置

互感器設置按鈕用于設置被測CT銘牌參數和CT分析試(shi)驗，變比試(shi)驗的(de)流(liu)程控制參數。點擊此按(an)鈕后圖4.5所示窗體被加載。此窗體中各(ge)參數的(de)詳細(xi)定義請參見(jian)第5.2節參數(shu)設置

 

4.2.7 數(shu)據導出

數據導(dao)出(chu)按鈕用于導(dao)出(chu)已(yi)保存在(zai)儀器上(shang)的試驗(yan)數據，WORD報(bao)告等文件。點擊此按鈕后圖4.6所示的窗體(ti)被加(jia)載。

左邊的(de)列表(biao)框(kuang)(kuang)展示(shi)的(de)是當前存(cun)儲在儀(yi)器(qi)上文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)列表(biao)，在文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)類(lei)型(xing)(xing)選擇下拉框(kuang)(kuang)中選擇不(bu)同的(de)文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)類(lei)型(xing)(xing)，則在左邊列表(biao)框(kuang)(kuang)中將(jiang)展示(shi)相應(ying)的(de)文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)，文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)類(lei)型(xing)(xing)包括“*.Cta“格(ge)式數據文(wen)件，WORD試(shi)驗報告文件和Jpg圖片(pian)文件(jian)(jian)。文件(jian)(jian)索(suo)引和文件(jian)(jian)總數計數器展示(shi)儀(yi)器中(zhong)存儲的(de)當前類(lei)型文件(jian)(jian)總數和現在所(suo)選(xuan)擇的(de)文件(jian)(jian)索(suo)引，通(tong)過鼠(shu)標(biao)點擊可(ke)以同(tong)時(shi)(shi)選(xuan)擇多(duo)個文件(jian)(jian)，文件(jian)(jian)被(bei)選(xuan)擇時(shi)(shi)顯示(shi)為藍色(se)底色(se)。

數據導出窗體(ti)中的操(cao)作命令按鈕包括：

1)“上一頁" 對文(wen)件顯示列表中的內(nei)容(rong)進行向上翻頁

2)“下一頁" 對文件(jian)顯示(shi)列(lie)表中(zhong)的(de)內容進行向(xiang)下翻頁

3)“清空存儲器"，指(zhi)刪(shan)除插(cha)入儀器的U盤中(zhong)“試驗數據"目(mu)錄下的所(suo)有文件

4)“刪除所有文件"刪除當前存儲在儀器(qi)中的所有試(shi)驗(yan)文件

5)“刪除文(wen)件(jian)"刪除存儲在儀器中當前所選擇的文(wen)件(jian)

6)“導出所有(you)文件"，將當前左(zuo)邊窗體中(zhong)的(de)所有(you)試驗(yan)文件導出至U盤中。如(ru)果當前選擇的是“*.Cta"，則左邊列表(biao)框(kuang)中(zhong)的(de)所有“*.Cta"文件都(dou)會被導(dao)出至U盤的(de)“試驗數據(ju)\儀器(qi)試驗數據"文件(jian)目錄下，如果當前選(xuan)擇的是(shi)“.Doc"文件，則左邊(bian)列表框中的所有“*.Doc"文件(jian)都會被導(dao)出至U盤的“試驗(yan)數據\WORD試驗報(bao)告"目錄下。如(ru)果當前選擇的(de)是“.Jpg"文件(jian)，則左邊列表框中的所有(you)“*.Jpg"文件都會被導出至U盤(pan)的“試驗數據\Jpg圖形文(wen)件"目錄下

7)“導(dao)出文件"，將當(dang)前所(suo)選擇的文件導(dao)出至U盤對應的目錄下。

8)“取消"退出文(wen)件導出窗體(ti)

 

4.2.8 使(shi)用幫助

此按鈕可以打開(kai)儀器的使(shi)用幫助(zhu)文檔，使(shi)用幫助(zhu)文檔以“*.Pdf"的文(wen)件格式存儲在儀器中(zhong)，當用(yong)(yong)戶(hu)點擊此按鈕后使用(yong)(yong)幫助文(wen)檔會(hui)被打開。

 

4.3 主(zhu)工作區

位于(yu)(yu)軟件(jian)中(zhong)部的所有區域是(shi)軟件(jian)的主(zhu)工(gong)作(zuo)區，儀(yi)器處于(yu)(yu)不同(tong)試(shi)驗狀態時主(zhu)工(gong)作(zuo)區的內容會被(bei)切(qie)換，例如當儀(yi)器處于(yu)(yu)“等待新建試(shi)驗狀態"時儀(yi)器主(zhu)工(gong)作(zuo)區顯示試(shi)驗選(xuan)擇(ze)按鈕等如圖(tu)4.1. 當(dang)儀器處于“查看結果"或“查看歷史(shi)結果"時(shi)，并且選擇了當(dang)前展示模式(shi)為勵磁曲線時(shi)，儀器顯示如(ru)圖(tu)4.7所示(shi)

 

 

4.4 儀(yi)器(qi)運(yun)行狀態信息欄

儀(yi)器狀態信息欄展示的信息有：

1）儀(yi)器的(de)當前運行(xing)狀(zhuang)態，如(ru)“等(deng)(deng)(deng)待新(xin)建試驗(yan)"，“等(deng)(deng)(deng)待試驗(yan)"，“查看(kan)結(jie)(jie)果"，“查看(kan)歷史(shi)結(jie)(jie)果"，“運行(xing)"，“等(deng)(deng)(deng)待查看(kan)歷史(shi)結(jie)(jie)果"等(deng)(deng)(deng)。

2）除了儀(yi)器的運(yun)行(xing)狀態外還有對儀(yi)器內(nei)部的工控機與DSP之間通信的標識，如果DSP與工(gong)控機(ji)之間通信成功則儀器(qi)在狀(zhuang)態信息欄顯(xian)示聯(lian)機(ji)，否則儀器(qi)顯(xian)示為脫機(ji)狀(zhuang)態。

3）當(dang)前試驗(yan)項目，其內容(rong)為當(dang)前所選擇(ze)的試驗(yan)項目名稱，如“CT分析"，“比(bi)差(cha)角差(cha)測(ce)量"等

4）系統日期和時(shi)(shi)間，當(dang)儀器處于聯機非(fei)運行(xing)狀態時(shi)(shi)，此欄目會(hui)顯示當(dang)前的系統日期，系統時(shi)(shi)間和當(dang)前面板處的環(huan)境溫度

5）環境溫度(du)。儀器(qi)每隔2分鐘會(hui)更(geng)新一次環境溫度測量(liang)，所測得(de)的環境溫度將會(hui)被(bei)用(yong)于(yu)計算(suan)75攝氏(shi)度的(de)參(can)考線(xian)圈(quan)電阻

4.5 試驗(yan)控制欄

試(shi)驗(yan)控制欄里(li)具有“試(shi)驗(yan)參(can)(can)數設(she)(she)置(zhi)"和“開始試(shi)驗(yan)"按(an)鈕(niu)，當(dang)儀(yi)器(qi)處于等待(dai)試(shi)驗(yan)狀(zhuang)態時點擊(ji)“試(shi)驗(yan)參(can)(can)數設(she)(she)置(zhi)"按(an)鈕(niu)，儀(yi)器(qi)將會顯示對應的試(shi)驗(yan)參(can)(can)數設(she)(she)置(zhi)窗(chuang)體，在這些窗(chuang)體中用(yong)戶可以設(she)(she)置(zhi)當(dang)前試(shi)驗(yan)的控制參(can)(can)數。

“開(kai)始試驗(yan)(yan)"按鈕用(yong)于啟動和停(ting)止(zhi)當(dang)前(qian)的(de)(de)試驗(yan)(yan)，當(dang)用(yong)戶(hu)從(cong)“等待(dai)試驗(yan)(yan)"或“查看(kan)結果"狀(zhuang)(zhuang)態(tai)(tai)點擊“開(kai)始試驗(yan)(yan)"按鈕后(hou)，儀器進入(ru)“運(yun)行"狀(zhuang)(zhuang)態(tai)(tai)，對應的(de)(de)試驗(yan)(yan)會被(bei)啟動，該(gai)(gai)按鈕的(de)(de)標識變成(cheng)“停(ting)止(zhi)試驗(yan)(yan)"，再(zai)次點擊該(gai)(gai)按鈕或試驗(yan)(yan)自動完成(cheng)后(hou)，儀器進入(ru)“查看(kan)結果"狀(zhuang)(zhuang)態(tai)(tai)，對應的(de)(de)結果參數被(bei)自動計算并(bing)展示。

注意：當儀(yi)器處于“查看歷(li)史結果"時，如果需要運行試(shi)驗(yan)(yan)必須(xu)首(shou)先(xian)點擊新建試(shi)驗(yan)(yan)，讓儀(yi)器進(jin)入到“等待試(shi)驗(yan)(yan)界面"，然后按(an)照“等待新建試(shi)驗(yan)(yan)"->“等(deng)待(dai)試驗"->“運行"->“查看結果(guo)"的流程完成(cheng)試驗項目。

4.6 儀器的啟動(dong)與關閉

打(da)開(kai)儀(yi)器(qi)面(mian)板的電源后，儀(yi)器(qi)的軟(ruan)件系統被自(zi)動加載(zai)，儀(yi)器(qi)進入“等待(dai)新建試驗"狀態，開(kai)機過程完成(cheng)。

如果要關閉儀器，請(qing)首先通過軟件界面(mian)的“關閉系統(tong)"按(an)鈕關閉儀器。等(deng)待儀器顯(xian)示屏上提示“It is safe to shutdown now"時再切(qie)斷儀器的電源。

注意：緊急情況時，請(qing)直接(jie)切斷儀器的供(gong)電(dian)電(dian)源(yuan)

 

第五(wu)章 試驗操作

5.1 試驗運行(xing)的一般(ban)流程

如(ru)第四章中的描述儀器(qi)的軟件運行可以(yi)分為(wei)“等待新(xin)建試驗"，“等待試驗"，“查(cha)看(kan)結果(guo)"，“運行"，“查(cha)看(kan)歷史(shi)結果(guo)"和“等待查(cha)看(kan)歷史(shi)結果(guo)"6種(zhong)狀態。軟件運(yun)行(xing)的幾種(zhong)常見的流程如下：

1） 儀器開機以后(hou)進(jin)入“等待(dai)新建試驗"

“等(deng)待新建試驗"->“等待(dai)試(shi)驗"->“運行"->“查看結(jie)果"

此流程(cheng)的描述(shu)為(wei)儀(yi)器首(shou)先進入“等待新建試驗"狀態(tai)，用戶在此狀態(tai)選擇要(yao)進行(xing)的試驗，如CT分(fen)析(xi)，然后(hou)設置CT分析試驗(yan)的(de)各個參數，儀(yi)器轉而進入“等待試驗(yan)"狀態，用戶再點(dian)擊&ldquo;開始試驗(yan)按鈕(niu)"，試驗(yan)被啟(qi)動，等待試驗(yan)完(wan)成(cheng)后自(zi)動停止，儀(yi)器自(zi)動計(ji)算各個參數，并(bing)進入“查看結(jie)果"狀態。

2）從“查看結果(guo)"狀態開始另一項試驗

“查看結(jie)果"->“等待(dai)新建試(shi)驗"->“等待試驗"->“運(yun)行"->“查看結果"

儀(yi)器(qi)在(zai)完成一項(xiang)試(shi)驗后需要(yao)進行另外一個試(shi)驗項(xiang)目，則此(ci)流按照此(ci)流程(cheng)進行。在(zai)“查看結果"狀態點擊“新建(jian)試(shi)驗"按鈕(niu)，儀(yi)器(qi)進入“等待(dai)新建(jian)試(shi)驗狀態"，后面的過程(cheng)同(tong)第(di)1項描述(shu)*

重復當前的試驗

“查(cha)看結果(guo)"->“運行"->“查看結(jie)果"

完成一項試(shi)驗(yan)后，以相同的參數重復這一試(shi)驗(yan)項目，則在(zai)&ldquo;查看結果"狀態直接點擊“開始試(shi)驗(yan)"按(an)鈕即可。

5.2 CT分析

5.2.1 CT分析試(shi)驗參數設置(zhi)

CT分析試驗項目的參數(shu)設置界面如(ru)圖5.1所示。CT分析試驗和比(bi)差角(jiao)差試驗的(de)參數設(she)置(zhi)界(jie)面是*的(de)，比(bi)差角(jiao)差試驗所有需設(she)置(zhi)的(de)參數項(xiang)目在CT分(fen)析(xi)中也需要設置。

CT分(fen)析的參(can)數設置(zhi)分(fen)為2部(bu)分：與互感器等級(ji)相關的參數和(he)與互感器等級(ji)無關的參數。其中表(biao)5.1描述了(le)與互感器等級無關的各(ge)參數(shu)。表5.2至表5.8所列出的試驗(yan)參數，是(shi)針對于不同(tong)等級(ji)的互感器需(xu)要額(e)外配置的參數。

注意：當(dang)互感器的(de)飽和電壓大于8KV時，請在系統參數(shu)設置界(jie)面(mian)選擇人工設定(ding)勵磁試驗(yan)飽和電壓，詳(xiang)情見(jian)系統參數(shu)設置

5.2.2 CT分析試驗流程

進(jin)行CT分析試驗時，用戶需要按照如下步驟進行：

1)在(zai)遵(zun)循安(an)全規則的前提下，按照CT分析的接線圖，完(wan)成儀(yi)器和互感器的連(lian)接

2)在軟件上選擇“CT分(fen)析"試驗項目

3)完成互(hu)感器的各(ge)種試驗參數設置(zhi)

4)啟動試(shi)驗，等(deng)待試(shi)驗完(wan)成

5)查(cha)看結果

注意：對于飽和電壓很高的(de)(de)互感器，儀器將會以(yi)很低的(de)(de)頻率(lv)檢測互感器的(de)(de)勵(li)磁特性（可能低至0.25Hz），因此此時(shi)完成整(zheng)個試驗所需(xu)的時(shi)間可能較長(chang)（zui長(chang)會(hui)達到半個小時(shi)），請(qing)耐心等(deng)待。嚴禁在試驗過程(cheng)中斷(duan)開測試線的連接

在執(zhi)行CT分析試(shi)驗時，儀器會(hui)按照(zhao)如(ru)下過程(cheng)完成整個試(shi)驗：

線圈(quan)電(dian)阻檢測(ce)->一次消(xiao)磁->二(er)次消磁(ci)->精細調壓測量比差角差->粗調(diao)測(ce)量比差角(jiao)差->測量互感器(qi)勵磁(ci)曲線

1)如果用戶(hu)選擇的(de)工作(zuo)模式是非自動(dong)獲取(qu)飽和電壓則一次消磁過(guo)程將被跳過(guo)

2)如果(guo)互感器的(de)飽和(he)電壓較低，則(ze)粗調測量比差角差的(de)流程將被跳(tiao)過

在(zai)試驗過(guo)程中，左下角會提示當前儀器(qi)的功率輸出和試驗運行(xing)狀態(tai)。

在(zai)參(can)數設置界面，如果(guo)選擇(ze)“快速試驗"，儀(yi)器(qi)的記(ji)錄點(dian)數較少且升壓過程(cheng)中電(dian)壓步進值(zhi)較大，因此對于剩磁系數高，且飽和電(dian)壓低（<250V）的互感器勵磁(ci)曲線會出現不平滑現象，此時因選擇(ze)標準試驗(yan)。

選(xuan)擇標準試驗(yan)時儀器記錄(lu)的(de)(de)數據點多(duo)，勵磁(ci)曲線以及計算(suan)參數更，但是(shi)選(xuan)擇標準試驗(yan)時，試驗(yan)時長是(shi)快速試驗(yan)的(de)(de)2倍以(yi)上。

 

 

圖5.1 CT分析試驗參數設置(zhi)

 

參數名稱	參數說(shuo)明
是否推測信息	用于CT分析(xi)和變比試驗項(xiang)目(mu)控(kong)制，如(ru)果選擇為(wei)輸入已(yi)知銘牌，則儀器不(bu)會自動推測銘牌信息，如(ru)果選擇為(wei)自動猜測銘牌則儀器會根據(ju)缺損的(de)信息自動推測“額定(ding)一次電流"，“額定(ding)二次電流"和“互(hu)感器等(deng)級"
生產廠(chang)家	此項目(mu)僅用于生成(cheng)WORD試驗(yan)(yan)報(bao)告時對互感器進(jin)行標(biao)識，與試驗(yan)(yan)流(liu)程無(wu)關
互感(gan)器型號	此項(xiang)目僅用于(yu)生(sheng)成WORD試驗報告時對(dui)互(hu)感器進行標識，與試驗流程無(wu)關
互感器編號	此項(xiang)目僅(jin)用于生成(cheng)WORD試(shi)(shi)驗(yan)(yan)報告(gao)時(shi)對互感器進行標識和(he)保存試(shi)(shi)驗(yan)(yan)時(shi)組(zu)成保存的文件名稱，與(yu)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)流(liu)程(cheng)無關(guan)
額定一次電流	設置互感器(qi)的額定(ding)一次電流(liu)值，如果選擇了自動推測銘牌且額定(ding)一次電流(liu)設為未知(zhi)，儀器(qi)將自動猜測額定(ding)一次電流(liu)值
額定二次電流(liu)	設置(zhi)互感器的額(e)定二次(ci)電(dian)流(liu)(liu)值，如(ru)果選擇了自動(dong)推測銘牌(pai)且額(e)定二次(ci)電(dian)流(liu)(liu)設為未知(zhi)，儀器將自動(dong)猜(cai)測額(e)定二次(ci)電(dian)流(liu)(liu)值
額定頻率	額定頻(pin)率選項用于(yu)比差角差測量試驗項目的(de)控制，如果選擇(ze)了(le)50Hz，儀器將以50Hz的頻率測量互感器的比差(cha)角差(cha)，如果選(xuan)擇60Hz則儀器(qi)以(yi)60Hz頻率(lv)測量(liang)互感器的比差(cha)和角(jiao)差(cha)
誤差曲線計算(suan)點	對于IEC60044-1的(de)保護(hu)類型互感器(qi)，儀器(qi)將計算此點處的(de)誤(wu)差曲線
測試標準選(xuan)擇	選擇(ze)不同的(de)測(ce)試(shi)標準，儀器將(jiang)獲得不同的(de)測(ce)試(shi)結果(guo)參數(shu)，對于相同的(de)結果(guo)參數(shu)其(qi)定義也(ye)可能不一樣，例如拐點(dian)電(dian)壓和拐點(dian)電(dian)流
互(hu)感器等級	在選(xuan)擇(ze)了測試標(biao)準(zhun)后(hou)，選(xuan)擇(ze)互感器(qi)在此標(biao)準(zhun)下的(de)等級(ji)定義(yi)。
二次負(fu)荷(he)	CT分析(xi)和(he)(he)比差(cha)角差(cha)試(shi)驗的(de)計算參數與(yu)所接負荷(he)(he)有關(guan)，所以不同的(de)負荷(he)(he)值會(hui)得(de)到(dao)不同的(de)測試(shi)參數，因此儀器的(de)計算結果會(hui)給出(chu)互感器的(de)額定負荷(he)(he)條(tiao)件和(he)(he)操作負荷(he)(he)條(tiao)件下的(de)兩種結果。 額(e)定負(fu)荷(he)：是指互(hu)感器銘牌(pai)上所標識的zui大(da)允許負(fu)荷(he)值 操作負荷：是互感器當前(qian)所接(jie)負荷的實測值 負荷范圍：0~100.00，功率因數范(fan)圍：0~1.00
75攝氏(shi)度線圈電(dian)阻(zu)	銘牌上所(suo)標識的互感器在75攝氏度(du)時(shi)線圈電阻值(zhi)，電阻范圍0~100.000

 

圖5.2 IEC60044-1/GB1208計量(liang)類電流互感(gan)器的(de)參(can)數定(ding)義

 

名稱(cheng)	參(can)數說明
儀器保安(an)系(xi)數FS	的儀器保護系數，此參(can)數影(ying)響自(zi)動評估的結(jie)果，參(can)數范圍1~300
擴展(zhan)電流計(ji)算(suan)點Ext	需要額外計(ji)算比(bi)差角(jiao)差的電流點，此計(ji)算結(jie)果(guo)在比(bi)差角(jiao)差試驗(yan)結(jie)果(guo)中展示，參數范圍0%~400%

 

圖(tu)5.3 IEC60044-1/GB1208 的5P/10P/5PR/10PR類電流互感(gan)器的參數定義

 

名(ming)稱	參數說明
準確限值系(xi)數ALF	的準確限值系數(shu)(shu)，此參(can)數(shu)(shu)影響自(zi)動(dong)評估(gu)的結果，參(can)數(shu)(shu)范圍：1~300
zui大短(duan)路電(dian)流	互感(gan)器(qi)一(yi)次側所在回路(lu)可能發(fa)生的zui大短路(lu)電流(liu)

 

圖5.4 IEC60044-1/GB1208 的PX類電(dian)流互感器的參數定義

 

名稱	參(can)數說明
準確限值系數ALF	的(de)(de)準確(que)限(xian)值系數(shu)(shu)，此參(can)(can)數(shu)(shu)影響自(zi)動(dong)評估的(de)(de)結果，參(can)(can)數(shu)(shu)范圍：1~300
面積系數	的(de)面積增大系數(shu)，此參數(shu)影響自(zi)動評估的(de)結果，參數(shu)范(fan)圍(wei)：1~300
準確限制(zhi)電壓	銘牌標識的準確限制電壓，此(ci)參數影響自動評估結果，參數范(fan)圍0~10000.00
準確限制電(dian)流(liu)	準確限制電流，此參(can)數影響自動評估結(jie)果，參(can)數范圍0~9.9999A

 

圖5.5 IEC60044-6 S互感器參數設置

 

名(ming)稱(cheng)	參數說明
對稱短路電(dian)流系(xi)數Kssc	的對(dui)稱短路(lu)電流系數Kssc，此參(can)數影響結(jie)果參(can)數計算和自(zi)動(dong)評估結(jie)果，參(can)數范圍：1~300
暫態面積系(xi)數(shu)Ktd	的暫態面(mian)積系數Ktd，此參數影響結(jie)果參數計算和自動(dong)評估結(jie)果，參數范圍：1~300
一次時間常數Tp	的(de)一次(ci)時(shi)間常(chang)數(shu)，此參數(shu)影響結(jie)果(guo)參數(shu)計(ji)算和自動評估結(jie)果(guo)，參數(shu)范圍：0~10000ms
準確限制電壓Val	銘(ming)牌(pai)標識的準(zhun)確限制電壓，此參(can)數(shu)(shu)影響結果(guo)(guo)參(can)數(shu)(shu)計算和自動評估結果(guo)(guo)，參(can)數(shu)(shu)范圍(wei)：0~10000V
準確限制電流Ial	銘牌標(biao)識的準(zhun)確(que)限制電流，此(ci)參數(shu)影響結果參數(shu)計算和自(zi)動(dong)評估結果，參數(shu)范(fan)圍：0~9.9999A

 

圖5.6 IEC60044-6 X/ Y互(hu)感器參數(shu)設置

 

名稱	參數說明
對稱短(duan)路(lu)電流(liu)系數Kssc	的對稱短路電流系數Kssc，此參(can)數(shu)影響結(jie)果參(can)數(shu)計算和自動評估(gu)結(jie)果，參(can)數(shu)范圍：1~300
暫態面積系數 Ktd	的(de)暫態面積系數Ktd，此參數影響結果(guo)參數計算(suan)和自動(dong)評估(gu)結果(guo)，參數范圍：1~300
一次時間常數(shu) Tp	的(de)一次時間(jian)常數(shu)(shu)，此(ci)參(can)數(shu)(shu)影(ying)響結(jie)(jie)果參(can)數(shu)(shu)計算和自動(dong)評估結(jie)(jie)果，參(can)數(shu)(shu)范圍：0~10000ms
二次時間常數Ts	的(de)二(er)次時間常(chang)數，此(ci)參數影(ying)響自動(dong)評估(gu)的(de)結果，參數范圍：0~100000ms
工作循環選擇	選擇工作循(xun)環C-O或(huo)C-O-C-O，此參數影(ying)響結(jie)果參數計算(suan)和(he)自動評估結(jie)果
*次(ci)電流時限 t1	的準確限(xian)值在t-al1 時間內不能達到，范圍：0～10000ms，此(ci)參數影響結(jie)果(guo)參數計算和自動評估結(jie)果(guo)
第二次(ci)電流時限 t2	的準(zhun)確(que)限(xian)值在t-al2 時間內不能達到(dao)，范(fan)圍：0～10000ms，此參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和自動(dong)評估結果
*次工作循環的準(zhun)確限值的允許時間 t-al1	范圍：0～10000ms，此參數(shu)影響結果參數(shu)計(ji)算和自動評(ping)估結果
第二次工(gong)作循環(huan)的(de)準(zhun)確限值的(de)允許時(shi)間t-al2	范(fan)圍：0～5000ms，此參(can)數(shu)影響結(jie)果(guo)參(can)數(shu)計算(suan)和自動(dong)評估結(jie)果(guo)
*次打開和重合閘的延(yan)時 tfr	范圍：0～5000ms，此參(can)數影響結果(guo)參(can)數計算和(he)自(zi)動評估結果(guo)

 

圖5.7 IEC60044-6 Z互感器參數設置

 

名稱	參(can)數說明
對(dui)稱短路(lu)電流系數Kssc	的對(dui)稱(cheng)短路電流系數(shu)Kssc，此參(can)數影響結(jie)果參(can)數計(ji)算和自(zi)動(dong)評估(gu)結(jie)果，參(can)數范圍：1~300
暫態面積(ji)系數 Ktd	的暫態面積(ji)系數Ktd，此參(can)數影響結果(guo)參(can)數計算和自(zi)動評(ping)估結果(guo)，參(can)數范圍：1~300
一次時間常數 Tp	的(de)一(yi)次時間常數(shu)，此參(can)數(shu)影響結果參(can)數(shu)計算和自動評估結果，參(can)數(shu)范圍：0~10000ms
二次(ci)時間常數Ts	的(de)二(er)次時間常數，此參數影響(xiang)自動評估的(de)結果，參數范圍：0~100000ms

 

圖5.8 C57.13 互感器參數設置

 

名稱	參數說明
額定熱電流系數RF	銘牌標識的(de)額定二次熱(re)電流系(xi)數，如果此參數不(bu)為(wei)0，將計(ji)算額定電流乘以此系數(shu)(shu)后所(suo)得測(ce)量(liang)點的比差和角差，此參數(shu)(shu)影響(xiang)結(jie)果計(ji)算和自動評(ping)估。參數(shu)(shu)范圍：0~10.00
額(e)定二(er)次端(duan)電壓(ya)VB	銘牌標識的額定二次(ci)端電壓，此(ci)參數(shu)影響參數(shu)計算(suan)和自動評(ping)估結果。參數(shu)范圍(wei)：0~10000.0V

 

5.2.3 CT分析試試驗結果

當CT分析試驗(yan)完成(cheng)后(hou)圖4.7所(suo)示(shi)的(de)勵磁曲線將會被首先顯示(shi)，通過圖中的(de)試(shi)驗結果項目切換按鈕，可(ke)以(yi)更換當前的(de)試(shi)驗結果內容，各個(ge)按鈕的(de)說明如下：

1 磁滯回(hui)線與(yu)數據

點(dian)擊磁(ci)(ci)滯回線(xian)按鈕后，被測(ce)互感(gan)器(qi)鐵芯的飽和磁(ci)(ci)滯回線(xian)將會顯(xian)示(shi)在屏幕上如圖5.2.1所(suo)(suo)示，該(gai)曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)為(wei)被測(ce)(ce)互感器在某測(ce)(ce)試頻率(lv)下(xia)所(suo)(suo)獲得的(de)飽(bao)和(he)磁(ci)滯(zhi)回(hui)路(lu)曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)，測(ce)(ce)試頻率(lv)顯示在界面的(de)左側，曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)的(de)橫軸為(wei)瞬(shun)時電流(liu)，縱軸為(wei)該(gai)電流(liu)下(xia)對應的(de)磁(ci)通量(liang)（單(dan)位是韋伯(bo)），磁(ci)滯(zhi)回(hui)線(xian)由上升曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)和(he)下(xia)降(jiang)曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)組成(cheng)，點(dian)擊“啟(qi)動數據分析(xi)"可以獲取(qu)曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)上某一電流(liu)點(dian)對應的(de)上升曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)數據和(he)下(xia)降(jiang)曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)數據，點(dian)擊磁(ci)滯(zhi)回(hui)線(xian)數據可以查看所(suo)(suo)有測(ce)(ce)量(liang)點(dian)的(de)電流(liu)值和(he)磁(ci)通量(liang)數值

 

 

2 磁化曲線數據

點擊磁化(hua)曲(qu)線數據后，圖(tu)5.2所(suo)示(shi)的(de)界(jie)面(mian)將(jiang)會被(bei)加載。磁(ci)(ci)化曲(qu)(qu)線所(suo)對(dui)應的(de)磁(ci)(ci)化數據點(dian)將(jiang)在本(ben)窗體中(zhong)展現(xian)，拖動(dong)(dong)列表框的(de)滑動(dong)(dong)條或按鍵(jian)盤的(de)方向鍵(jian)，可以(yi)瀏覽所(suo)有的(de)磁(ci)(ci)化曲(qu)(qu)線數據。在界(jie)面(mian)的(de)下方是自動(dong)(dong)計算(suan)得到的(de)磁(ci)(ci)化曲(qu)(qu)線的(de)拐(guai)點(dian)電(dian)壓(ya)和拐(guai)點(dian)電(dian)流。磁(ci)(ci)化曲(qu)(qu)線數顯(xian)示(shi)界(jie)面(mian)還支持勵(li)磁(ci)(ci)電(dian)流查詢(xun)功能，只要輸入不超過(guo)zui大勵(li)磁(ci)(ci)電(dian)壓(ya)的(de)一個數值在勵(li)磁(ci)(ci)電(dian)壓(ya)文本(ben)框中(zhong)，分析儀自動(dong)(dong)計算(suan)并(bing)顯(xian)示(shi)其對(dui)應的(de)勵(li)磁(ci)(ci)電(dian)流值。

 

 

3 磁化曲線

 

 

磁化曲線的界面(mian)如圖(tu)4.7所示，展示的內容包括，自動(dong)計算(suan)的拐(guai)點(dian)電壓(ya)，拐(guai)點(dian)電流，磁化曲(qu)線圖，通過“拐(guai)點(dian)顯示"復選(xuan)框，可(ke)以顯示和隱(yin)藏拐(guai)點(dian)在磁化曲(qu)線上的位置。

在磁(ci)化曲線展示界面(mian)選擇“啟動數據(ju)分(fen)析(xi)"后，可以通過(guo)定位線獲取當前位置對應的磁(ci)化電(dian)流和(he)磁(ci)化電(dian)壓值，通過(guo)“<<左移"，“>>右移(yi)"和“鼠標(biao)點(dian)擊"可(ke)以改變定位線的位置。“鼠標(biao)點(dian)擊"是指(zhi)在“啟動數據(ju)分析"后通過(guo)鼠標(biao)或者(zhe)觸摸屏點(dian)擊磁化曲線展(zhan)示區(qu)域，則定位線會移(yi)動至點(dian)擊處(chu)的X坐(zuo)標。

點擊(ji)曲(qu)線對比，還可以實現當前曲(qu)線和(he)存儲的歷(li)史(shi)曲(qu)線對比，顯示界面如(ru)圖5.3所示(shi)。曲(qu)線(xian)(xian)比較功(gong)能可以(yi)(yi)用來對同(tong)一(yi)互感(gan)器(qi)(qi)不(bu)同(tong)時期的測量曲(qu)線(xian)(xian)進(jin)行對比，也可以(yi)(yi)用來對三(san)相互感(gan)器(qi)(qi)的勵磁特性(xing)曲(qu)線(xian)(xian)進(jin)行對比。曲(qu)線(xian)(xian)對比窗口各按鈕(niu)的定義如(ru)下：

讀(du)取參考曲(qu)線1

從存儲的歷史數據中讀取(qu)1條參考勵(li)磁曲線(xian)與(yu)當前曲線(xian)進行對(dui)比

讀取參(can)考曲線2

從存儲的歷史數(shu)據(ju)中讀取1條參考勵磁曲線與當(dang)前曲線進行對(dui)比

清(qing)除參考曲線

清除當前對比窗(chuang)口中所有的參考曲線

復(fu)制圖像

將當前對比曲線圖形窗口復制成為JPG文件(jian)并保存(cun)，保存(cun)的Jpg文件可(ke)以通過(guo)U盤導出(chu)

退(tui)出

關(guan)閉曲線(xian)對比窗口

X坐標(biao)設置(zhi)

調(diao)整曲線對比(bi)圖形窗口的X坐標(biao)范圍(wei)，此(ci)參數可以改變(bian)圖形的X軸縮(suo)放比(bi)例

Y坐標(biao)設置

調整曲線對比圖形窗口的Y坐(zuo)標(biao)范圍，此參數可(ke)以改變圖形(xing)的Y軸縮放比例

數據(ju)分析

點擊啟動數據(ju)分析后，示波窗口中會出現(xian)1條定位線，通(tong)過定位線的移動(dong)可以(yi)讀取對應X軸位置的(de)Y坐標值。可以(yi)通(tong)過(guo)“左移"，“右移"或者鼠標點擊改變(bian)定位(wei)線的位(wei)置

 

 

 

 

4 誤差(cha)曲(qu)線(xian)數(shu)據(ju)與誤差(cha)曲(qu)線(xian)

當(dang)選擇(ze)互感器是(shi)IEC60044-1的保(bao)護類型(xing)時，CT分析(xi)試驗還(huan)會繪(hui)制互感器(qi)的誤(wu)(wu)(wu)差曲線，并列出(chu)誤(wu)(wu)(wu)差曲線數據，誤(wu)(wu)(wu)差展示方式如圖5.4. 誤差曲線數據展示如圖5.2，但是展(zhan)示誤差曲線(xian)數(shu)據時沒有拐點電(dian)壓和拐點電(dian)流項目顯(xian)示，誤差曲線(xian)窗口中(zhong)的(de)曲線(xian)對(dui)比功能(neng)和磁化曲線(xian)窗口中(zhong)的(de)曲線(xian)對(dui)比功能(neng)*，詳(xiang)細說明(ming)見磁化曲線(xian)的(de)曲線(xian)對(dui)比說明(ming)。

5 比差角差試驗結果

在CT分析試驗(yan)完成后，互感器的(de)比(bi)差，角差，匝數比(bi)，匝數比(bi)誤差，極性(xing)也會被顯(xian)示，點擊“比(bi)差與(yu)角差"，則比(bi)差與(yu)角差的(de)試驗(yan)結(jie)果顯(xian)示如圖5.5所(suo)示。

比差角差結(jie)果展示界面中，各參數定義如表5.9所(suo)示。

表5.9 CT分(fen)析試驗比差與角差展示

 

參數(shu)	參數說明
額定一次電流	啟動試(shi)驗前所設(she)置的(de)互感器參數，用于匝數比誤差計算
額定二次電流	啟動試驗前所設置的互感器參數，用于(yu)匝數比誤差計(ji)算
標(biao)準(zhun)	啟動試驗前所設(she)置(zhi)的(de)互(hu)感器參(can)數，比差角(jiao)差檢測是按照此標(biao)準進(jin)行的(de)
頻率	啟動試驗前所設置的(de)互感器參數，比差角差結果在(zai)此頻率下檢測得(de)到
匝數比	實測的互感器匝數比
匝數比誤差	實測的匝(za)數比與額(e)定電流(liu)比之(zhi)間的誤差，計算公式為：（實測匝(za)數比-額定電(dian)流比）/額(e)定(ding)電流(liu)(liu)比。其(qi)中額(e)定(ding)電流(liu)(liu)比為：（額(e)定(ding)一次電流(liu)(liu)/額(e)定二次(ci)電流）
極(ji)性	實測的(de)電流互感(gan)器當前接線極(ji)性(xing)，顯示(shi)為同(tong)極(ji)性(xing)（即-極(ji)(ji)性(xing)）或反極(ji)(ji)性(xing)（即(ji)+極性）
額定(ding)負荷	啟(qi)動試驗(yan)前所(suo)設置的互感(gan)器參(can)數，用于比(bi)差角(jiao)差計算
額定功率因數(shu)	啟動試驗(yan)前所設置的互感器(qi)參數(shu)，用于比(bi)差角差計算(suan)
額定負荷(he)比差角差	當互感器連(lian)接負荷(he)為額定負荷(he)時的(de)比差和角度(du)差數據
操作負荷	啟動試(shi)驗前所設置的互感器參(can)數(shu)，用于比差角差計算
操(cao)作功率因數	啟動試驗前所(suo)設置的(de)互感(gan)器參數，用于(yu)比差(cha)角差(cha)計(ji)算
操作負荷比差角(jiao)差	當互感(gan)器連接負荷(he)為操(cao)作(zuo)負荷(he)時的比差和角度差數據(ju)

 

6 線圈電阻

CT分(fen)析試驗完成后(hou)，點擊線圈電阻按鈕則圖(tu)5.6所示的線(xian)圈電阻(zu)實(shi)測參數窗(chuang)體(ti)會(hui)被(bei)加(jia)載(zai)。

7 誤差(cha)曲(qu)線數(shu)據與誤差(cha)曲(qu)線

當選擇互感(gan)器是IEC60044-1的(de)保(bao)護類型時(shi)，CT分析試驗還會繪制互感器的誤差(cha)(cha)曲線，并(bing)列出誤差(cha)(cha)曲線數據，誤差(cha)(cha)曲線展示方式如圖5.4. 誤差曲線數(shu)據展示如圖5.2，但是展(zhan)示誤差曲線數(shu)據時沒有拐點電壓和拐點電流項目顯(xian)示。

8 比差角差試(shi)驗結果(guo)

在CT分析試(shi)驗(yan)完成后(hou)，互感器的比差(cha)，角差(cha)，匝(za)數(shu)比，匝(za)數(shu)比誤差(cha)，極性也會被顯示，點擊“比差(cha)與角差(cha)"，則比差(cha)與角差(cha)的試(shi)驗(yan)結(jie)果顯示如(ru)圖5.5所示。

 

 

在線圈電阻實(shi)測參(can)數(shu)展示(shi)界面中各(ge)個項(xiang)目(mu)的定義如表5.10所示(shi)。

圖5.10 線圈電阻(zu)界面(mian)參數說明

 

名稱	參(can)數說明
測(ce)試電流(liu)	測試時加(jia)載(zai)到二次(ci)繞(rao)組上(shang)的實際電(dian)流值
測試溫度	測試時(shi)的實(shi)際環境(jing)溫度值
測試電壓	測試時(shi)二(er)次繞組上所(suo)檢(jian)測到的電(dian)壓值
線圈電阻	當前環(huan)境溫(wen)度所檢測到(dao)的線圈電阻值(zhi)
參考溫度	按照(zhao)標準需要換(huan)算到(dao)的(de)溫(wen)度
線圈電阻	按照公式(shi)所換算得到(dao)的線圈電阻值(zhi)，其中Kcopper使用的(de)是銅材料的(de)電(dian)阻(zu)溫(wen)度系數

 

9 勵磁參數與測試評估

在CT分(fen)析試驗結(jie)果展示(shi)界面(mian)中點擊“勵(li)(li)磁(ci)參數與測(ce)試評估(gu)"結(jie)果按(an)鈕(niu)，則根(gen)據勵(li)(li)磁(ci)特性所(suo)測(ce)量得到的勵(li)(li)磁(ci)參數和自動評估(gu)結(jie)果將(jiang)會(hui)以圖5.7的形(xing)式展(zhan)示(shi)。勵磁參(can)數計算(suan)項(xiang)目根據(ju)所選互感器等級(ji)不同(tong)而不同(tong)，詳細的參(can)數說明參(can)見第6章自(zi)動評估與銘牌(pai)推測。

圖5.7界(jie)面的下方是自動評(ping)估結果(guo)，自動評(ping)估結果(guo)包(bao)括單項評(ping)估項目，評(ping)估標準(zhun)和(he)zui終評(ping)估結果(guo)。如果(guo)單項評(ping)估通過則(ze)列(lie)表的zui后一列(lie)顯(xian)示合(he)格，否則(ze)顯(xian)示不合(he)格并且該項的顏色會變成紅色。詳(xiang)細的評(ping)估說明和(he)評(ping)估條件請(qing)參見“第6章(zhang)自動評估與(yu)銘牌推(tui)測"。

 

 

5.3 CT比差(cha)角差(cha)測量

5.3.1 比差(cha)角差(cha)測量試(shi)驗參數設(she)置

比差角差測量(liang)試(shi)驗(yan)的參數設置(zhi)界面與CT分(fen)析(xi)參(can)數設(she)置界面和設(she)置項目*，詳(xiang)情請參(can)見(jian)5.2.1CT分析參數設置章節(jie)

5.3.2比差角差試驗(yan)流程

進(jin)行比差(cha)角差(cha)測量試驗(yan)(yan)時(shi)，試驗(yan)(yan)的步(bu)驟與CT分析(xi)*，詳情請參(can)照5.2.2CT分(fen)析試驗流(liu)程章(zhang)節。CT比差(cha)角差(cha)測量時典型的(de)試驗流(liu)程如下(xia)“

線圈電(dian)阻檢測->一次消磁->二次消磁->精細調壓測量比差(cha)角差(cha)->粗調測量(liang)比差角差

1）如果用戶選擇的工作模式是非(fei)自動獲取飽和(he)電(dian)壓則一次(ci)消(xiao)磁過程將被跳過

2）如果互感(gan)器的(de)(de)飽和電壓較(jiao)低，則粗調測量(liang)比(bi)差角差的(de)(de)流(liu)程將(jiang)被跳(tiao)過

在試驗過程中，左下角會(hui)提示當(dang)前儀器的功(gong)率(lv)輸出和試驗運行狀(zhuang)態。

5.3.3 比差角差試(shi)驗(yan)結果展示

比差(cha)角差(cha)試驗(yan)結果展示與CT分析試(shi)驗結(jie)果展示(shi)中的“比差角差"結(jie)果展示(shi)部分是**的，詳情請參見5.2.3 CT分(fen)析試驗結果展示

5.4 CT線圈電阻測(ce)量

CT線圈電阻測(ce)量試(shi)驗只(zhi)需設置互感器編號。選(xuan)擇(ze)線圈電阻測(ce)量后，儀器給出試(shi)驗的連線參考(kao)圖。啟動試(shi)驗，儀器輸出0.5A直流電(dian)流對(dui)線圈(quan)進行充電(dian)，當(dang)線圈(quan)電(dian)阻值穩(wen)定以(yi)后試驗(yan)自(zi)動(dong)停(ting)(ting)止(zhi)，并記錄(lu)停(ting)(ting)止(zhi)時刻的線圈(quan)電(dian)阻值和(he)環境溫(wen)度值（儀器面板部位帶有溫(wen)度傳感(gan)器，用于(yu)測量(liang)當(dang)前的環境溫(wen)度）。

試驗結束后儀器還會自(zi)動計算溫(wen)度為75攝氏度時(shi)的參考電阻值。

試(shi)驗完成后(hou)結(jie)果展示(shi)方式與5.2.3章節中的線圈電(dian)阻展(zhan)示頁面**。

5.5 CT極性檢查

CT極(ji)性(xing)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)只需設置互感(gan)器(qi)編號。選擇極(ji)性(xing)檢查試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)后，儀(yi)(yi)器(qi)給(gei)出(chu)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)的(de)連線參考圖。啟動試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)后，儀(yi)(yi)器(qi)輸出(chu)交(jiao)流(liu)正(zheng)弦電壓至CT二(er)次繞(rao)組(zu)，并測量CT一次側(ce)繞組的電壓(ya)，當(dang)CT一次(ci)繞組(zu)電壓(ya)超過(guo)測量(liang)閾值或CT二次電壓輸(shu)出至(zhi)zui大電壓時，儀器(qi)計算此時的(de)CT極性。儀器按照如下標準(zhun)來(lai)判定被測CT的極性：

90度>當(dang)一次電(dian)壓與二(er)次電(dian)壓相(xiang)角差>-90度 時計(ji)算(suan)結果(guo)為(wei)同(tong)極性（-極性），否則為反極性（+極性）

極(ji)性(xing)檢查試驗(yan)完成后，試驗(yan)結果如圖5.8所(suo)示。

 

 

5.6 CT二次負荷測(ce)量

5.6.1 CT二次(ci)負荷測量參數設置

二次(ci)負荷測(ce)量的試驗參數(shu)設置項目(mu)包括互(hu)感器編(bian)號(hao)，測(ce)試電流(liu)，測(ce)試頻率(lv)，選擇二次(ci)負荷測(ce)量后圖5.9所示的參數(shu)設置窗(chuang)體將會被(bei)加載。啟動二(er)次負荷試驗后儀器會根據所選擇的參數(shu)輸出(chu)一個恒定的正(zheng)弦電流至CT二次負荷(he)回路。

 

 

圖(tu)5.9所示(shi)的二次(ci)負荷參數設置界面(mian)中，3個試驗參(can)數的意義(yi)為：

1> CT額定二次電流

此參數不影響試驗流程，僅用于計算(suan)二(er)次回路的(de)負(fu)荷(he)值，例如測得二(er)次回路的(de)阻抗為2ohm，如果選(xuan)擇(ze)額定二次電流為1A，則對應的二次負荷(he)為2VA，如果選擇(ze)的額(e)定二次電流(liu)為(wei)5A，則對應的(de)二次負(fu)荷為50VA

2> 額定(ding)頻率

此參數(shu)用于控(kong)制輸(shu)出電流的頻率(lv)值，如果選(xuan)擇50Hz，則輸出(chu)電(dian)流的頻率為50Hz，否則(ze)輸出電流頻率為60Hz

3> 互感器編號(hao)：組(zu)成保(bao)存試驗文件的(de)名稱

5.6.2 CT二次負荷測量試驗流(liu)程

儀(yi)器(qi)的(de)二次(ci)負荷測量分為兩檔，兩檔的(de)輸出電流值（RMS）和對應的量程為:

1) 測試電(dian)流(liu)為(wei)0.5A（RMS），測量量程為(wei)0~80ohm

2）測試電流為0.25A（RMS），測(ce)量量程為0~160ohm

試驗啟動后儀器首先輸出(chu)0.5A(RMS)測試電流，如果發現(xian)被(bei)測負載超過了量程范圍(wei)，則儀(yi)器(qi)自動調整(zheng)輸出電流值至0.25A（RMS），再次進行測量

5.6.3 CT二次負荷測量試(shi)驗結果

CT二次負(fu)荷的測量結果(guo)如圖5.10所示。

 

 

二次負(fu)荷試驗(yan)結果頁面中的(de)各個參數定義如表(biao)5.11所示。

表 5.11 二(er)次負荷試驗(yan)結果參數

 

名稱	參數說明
額定二次(ci)負荷(he)	以VA形式或阻抗形式表示的儀器額定二次負荷值
額(e)定功率因數	額(e)定二次負荷(he)的功率(lv)因數值
測試電流	以有效值表示的(de)實際測試電流值
測試電壓	加(jia)載在二次回路上的(de)電(dian)壓有效值
測試頻率	加載在二次回路上的電流有(you)效值
二次負荷	實測(ce)的二次負荷值以VA形(xing)式表示，其值為：額定(ding)二次電流*額定二次電流(liu)*實測二次阻抗
功率因數	實(shi)測二次(ci)回路的(de)功率(lv)因數值
二次阻抗	實測二次(ci)回路的阻(zu)抗值(zhi)

 

5.7 PT線圈電阻(zu)測量

選擇PT線圈電(dian)阻測量后，儀器給出試驗的連線參考(kao)圖和測試電(dian)流選擇界面如圖5.11。

啟動試驗，儀器(qi)輸(shu)出0.5A(或0.05A,0.005A)直流(liu)電(dian)流(liu)對線(xian)圈(quan)進行(xing)充電(dian)，當(dang)線(xian)圈(quan)電(dian)阻值穩(wen)定以后(hou)試驗(yan)自動停(ting)止(zhi)，并記錄停(ting)止(zhi)時刻的線(xian)圈(quan)電(dian)阻值和環境(jing)溫度值（儀(yi)器面板部位帶有溫度傳感器，用于測量當(dang)前的環境(jing)溫度）。試驗(yan)完成后(hou)結(jie)果(guo)展示方式(shi)與5.2.3章節中的線圈電阻展示頁(ye)面*但是(shi)PT線圈電(dian)阻試驗沒有計(ji)算(suan)75攝氏度參(can)考電阻值。

對(dui)于電磁式PT，一次側(ce)和二次側(ce)線圈電阻都可以(yi)通(tong)過該(gai)項目檢測，對(dui)于CVT式的電(dian)壓互感器只能檢測二次線圈的電(dian)阻值。

 

5.8 PT極性檢查

PT極性(xing)試(shi)驗(yan)只需(xu)設置(zhi)互感器(qi)的編號即可。選擇(ze)極性(xing)檢查試(shi)驗(yan)后，儀器(qi)給出試(shi)驗(yan)的連(lian)線(xian)參考(kao)圖。啟動(dong)試(shi)驗(yan)后，儀器(qi)輸(shu)出交流正弦電壓至PT一次繞(rao)組，并測量(liang)PT二次側繞組的(de)電壓，當PT二次(ci)繞(rao)組(zu)電壓超(chao)過測量(liang)閾值或PT一次(ci)電(dian)壓輸出(chu)至(zhi)zui大(da)電(dian)壓時，儀(yi)器(qi)計算此時的PT極性。儀器(qi)按照如下標準來(lai)判定被測PT的極性(xing)：

90度>當(dang)一次電(dian)壓與(yu)二次電(dian)壓相角差>-90度 時計(ji)算結果為(wei)同極性（-極(ji)性(xing)），否則為反極(ji)性(xing)（+極性）

極性(xing)檢查試驗(yan)完成后，試驗(yan)結果與(yu)圖5.8*。

5.9 PT二(er)次負(fu)荷測量

5.9.1 PT二次負荷測(ce)量參數設置

PT二次負荷(he)測量(liang)的試驗參數設置項目包括互(hu)感(gan)器編(bian)號，測試電壓，測試頻率，選擇(ze)二次負荷(he)測量(liang)后圖5.12所(suo)示的參(can)數設置窗體(ti)將(jiang)會被加載(zai)。啟(qi)動(dong)二次負荷試(shi)驗后儀(yi)器會根(gen)據所(suo)選(xuan)擇的參(can)數輸出一個恒定(ding)的正弦電壓至PT二次負荷回路(lu)。

 

 

圖5.12所(suo)示的二(er)次負荷參數設置界面(mian)中(zhong)，3個試(shi)驗參(can)數的意義為：

互感器編號

用于組成保存試(shi)驗時的文件名稱

2> 額定頻率

此參數用于控制輸(shu)出電壓的(de)頻率值(zhi)，如果選擇50Hz，則輸出電壓的頻率(lv)為50Hz，否則輸(shu)出電壓頻率為60Hz

PT額定二次(ci)電壓

儀器(qi)以(yi)此(ci)參數來計算(suan)zui大(da)輸出(chu)電(dian)壓(ya)值，試驗(yan)被啟動后儀器(qi)輸出(chu)幅值為互感器(qi)二(er)次(ci)額定值大(da)小的電(dian)壓(ya)至二(er)次(ci)回路，并在此(ci)電(dian)壓(ya)下測量(liang)二(er)次(ci)回路的阻抗，并依據(ju)二(er)次(ci)額定電(dian)壓(ya)計算(suan)負荷值。

二次負荷=（二次額定電(dian)壓(ya)×二次額定電(dian)壓(ya)）/二(er)次回路阻(zu)抗

5.9.2 PT二次負荷測(ce)量試驗流程

試驗啟動(dong)后儀(yi)器首先輸出(chu)很小的(de)測試電(dian)壓(ya)(ya)至(zhi)二(er)(er)次回路(lu)，并逐步升(sheng)壓(ya)(ya)，同時檢測是否(fou)過(guo)載(zai)，如果(guo)發(fa)現輸出(chu)電(dian)流過(guo)載(zai)，則(ze)儀(yi)器停(ting)止升(sheng)壓(ya)(ya)，否(fou)則(ze)一直(zhi)升(sheng)至(zhi)二(er)(er)次額定電(dian)壓(ya)(ya)值。在zui高輸出(chu)電(dian)壓(ya)(ya)處測量二(er)(er)次回路(lu)的(de)阻抗值，并依據額定二(er)(er)次電(dian)壓(ya)(ya)計算二(er)(er)次負荷。

5.9.3 PT二次負(fu)荷測量試驗結果(guo)

PT二(er)次負荷的(de)展示(shi)頁面與CT二次展示頁面*，只是在PT二次負荷展示(shi)(shi)頁面并沒有額定負荷的(de)顯示(shi)(shi)，其參數(shu)含義也是一樣的(de)，詳情參見(jian)5.6.3節

5.10 PT變比(bi)

5.10.1 PT變比試驗參(can)數設(she)置

PT變比(bi)試驗的參數設置界面如(ru)圖5.13，其中需要(yao)設(she)置(zhi)的參數定義(yi)如(ru)表5.12

 

 

圖5.12 PT變比參數設置

 

名稱	參數(shu)說(shuo)明(ming)
生產廠家	此項目僅用(yong)于生成WORD試(shi)驗(yan)報告時對互感器(qi)進行標(biao)識，與試(shi)驗(yan)流程無(wu)關
互感器型號	此項目僅(jin)用于生成WORD試(shi)驗(yan)報(bao)告時(shi)對(dui)互感器進行(xing)標識，與試(shi)驗(yan)流程無關
互感(gan)器編(bian)號(hao)	此項(xiang)目僅(jin)用于(yu)生成WORD試(shi)驗(yan)報告時(shi)對互感器進行標識和保存試(shi)驗(yan)時(shi)組成保存的文(wen)件名稱(cheng)，與(yu)試(shi)驗(yan)流(liu)程無關
額定(ding)一(yi)次電壓(ya)	設置(zhi)電壓(ya)互感(gan)器的(de)額(e)定一次電壓(ya)值，用于計算(suan)額(e)定變(bian)比(bi)
額定(ding)二次電(dian)壓	設置(zhi)電(dian)壓(ya)互(hu)感器的(de)額定二次電(dian)壓(ya)值，用(yong)于計算額定變比(bi)，互(hu)感器額定二次電(dian)壓(ya)由兩部分組成，實際電(dian)壓(ya)是2部分相乘

 

5.10.2PT變比試驗流程

進行(xing)PT變比試驗時，試驗流程(cheng)如下：

反接判(pan)斷->匝(za)數比(bi)和(he)極性(xing)測量

5.10.3 PT變(bian)比結果展(zhan)示

PT變比(bi)試(shi)驗結果顯(xian)示檢(jian)測得到的一次線圈電阻值，匝數比(bi)和(he)連(lian)接極性。

5.11 PT勵磁試驗

5.11.1 PT勵磁試驗參數設置

PT勵磁試驗的參數設置(zhi)界面如圖5.14，其中需(xu)要設置的參數定義如(ru)表5.13

 

 

圖(tu)5.13 PT變比參(can)數設置

 

名稱(cheng)	參數說明
互感(gan)器編號	此項目僅用于生成WORD試(shi)驗(yan)報告時對互感(gan)器進行(xing)標識和保存試(shi)驗(yan)時組成(cheng)保存的文件(jian)名稱，與試(shi)驗(yan)流(liu)程無關
額定一(yi)次電(dian)壓	設(she)置電壓(ya)互感器(qi)的額定一次電壓(ya)值，此項(xiang)目僅(jin)用于生成WORD試(shi)(shi)驗報(bao)告(gao)時對(dui)互感器進(jin)行標識(shi)和保存試(shi)(shi)驗時組成保存的(de)文件名稱，與試(shi)(shi)驗流程無關
額定二次(ci)電壓	設置電壓(ya)(ya)(ya)互(hu)感(gan)器的額(e)定二(er)次電壓(ya)(ya)(ya)值，用于控制互(hu)感(gan)器升壓(ya)(ya)(ya)過(guo)程(cheng)，試驗(yan)過(guo)程(cheng)儀(yi)器升壓(ya)(ya)(ya)不會超過(guo)互(hu)感(gan)器額(e)定二(er)次電壓(ya)(ya)(ya)的1.2倍，試(shi)驗(yan)完成后儀器根據(ju)此數值計算各點的勵磁損(sun)耗。額定(ding)二次電壓由(you)輸(shu)入文本框(kuang)和(he)倍數復(fu)選框(kuang)2部分組成。
測試(shi)頻(pin)率(lv)	選擇互(hu)感器(qi)的額定工(gong)作(zuo)頻率
一次直流電阻	PT一(yi)次繞組直流(liu)電(dian)阻(zu)的實測值，用于推算PT比差和角差值(zhi)
二次負荷	PT所連(lian)接(jie)二次負荷的阻(zu)抗和功率(lv)因素，用于推算PT比(bi)差和角(jiao)差值
PT匝數比	PT匝數(shu)比，PT變比試驗的實(shi)測值，用于(yu)推算PT比(bi)差和(he)角(jiao)差值

 

5.11.2 PT勵磁(ci)試驗結果展示

PT勵磁試(shi)驗結果包括(kuo)PT勵磁曲線，PT勵磁曲線數據，PT二(er)次(ci)線圈電阻，20%，50%，80%，100%和(he)120%額定二(er)次電壓位置所(suo)對應的(de)PT二次勵(li)磁電流(liu)，80%，100%和(he)120%額定電壓位置(zhi)處(chu)的(de)比(bi)差和(he)角差值

5.12生(sheng)成試驗報(bao)告

使用C T分析儀(yi)的(de)軟(ruan)件(jian)可以自動生成WORD格式的試驗(yan)報(bao)告，試驗(yan)報(bao)告以(yi)MS WORD2003的"*.DOC"格式保存。試驗完(wan)成后(hou)在(zai)“查看結果(guo)"或查看歷史結果(guo)界面(mian)點擊生成按鈕，則儀器會(hui)自動制作對(dui)應(ying)試驗項(xiang)目(mu)的試驗報(bao)，圖5.15展示了CT分析(xi)試驗(yan)報告的首(shou)頁。

        &nbsp;           &nbsp; 圖(tu)5.15 CT分(fen)析試驗報告首頁

第六章(zhang) 自動評估與銘牌推測

6.1 自動評估

6.1.1 自動評估定義(yi)

自(zi)動評(ping)(ping)估是(shi)指將實(shi)測(ce)的(de)(de)(de)參(can)數(shu)(shu)與當前所選標(biao)(biao)準規定(ding)值進(jin)行對(dui)比，如果實(shi)測(ce)參(can)數(shu)(shu)全部符合(he)標(biao)(biao)準的(de)(de)(de)規定(ding)則互(hu)感器檢測(ce)是(shi)合(he)格(ge)的(de)(de)(de)，否則互(hu)感器檢測(ce)不(bu)合(he)格(ge)。由于互(hu)感器的(de)(de)(de)很多參(can)數(shu)(shu)與互(hu)感器所連(lian)接的(de)(de)(de)負載(zai)有關，因此儀器的(de)(de)(de)自(zi)動評(ping)(ping)估選項有“僅(jin)對(dui)操作負荷(he)評(ping)(ping)估"和(he)“對(dui)額定(ding)和(he)操作負荷(he)評(ping)(ping)估"評(ping)(ping)估兩(liang)種選擇。

選(xuan)(xuan)擇“僅(jin)對(dui)操(cao)作(zuo)負(fu)荷(he)評估(gu)"時(shi)，儀(yi)器僅(jin)僅(jin)將操(cao)作(zuo)負(fu)荷(he)條(tiao)件(jian)下(xia)計(ji)算的(de)參數(shu)(shu)與(yu)標準規(gui)(gui)定(ding)的(de)值進行對(dui)比。如(ru)果(guo)選(xuan)(xuan)擇了“對(dui)額(e)定(ding)負(fu)荷(he)和操(cao)作(zuo)負(fu)荷(he)評估(gu)"，則儀(yi)器將額(e)定(ding)負(fu)荷(he)和操(cao)作(zuo)負(fu)荷(he)兩種條(tiao)件(jian)下(xia)計(ji)算得到(dao)參數(shu)(shu)都(dou)與(yu)標準規(gui)(gui)定(ding)值進行對(dui)比，只有兩種條(tiao)件(jian)下(xia)計(ji)算所得的(de)參數(shu)(shu)都(dou)合格時(shi)，互(hu)感器檢測才(cai)顯(xian)示為(wei)合格

注意：自動評估(gu)和銘牌推測僅僅是針對與CT分析項目進行，對(dui)于(yu)其他的試驗項目無效

6.1.2 自動(dong)評(ping)估項目(mu)和合格(ge)條件

對于不(bu)同等級的互(hu)感器，自動(dong)評估(gu)的項目是不(bu)一樣的，詳細的評估(gu)項目和評估(gu)合(he)格條(tiao)件(jian)見表6.1，~表(biao)6.5

表6.1 IEC60044-1計量類電流互感(gan)器的評(ping)估項(xiang)目和(he)合格(ge)條件

 

互感(gan)器等級	評(ping)估項目	評估合格(ge)條件
0.1級	1） 儀表安保系數FS 2） 25%，100%額定(ding)負(fu)荷和操作(zuo)負(fu)荷條件下二次(ci)電流為5%，20%，50%，100%，120%額定電流(liu)時的(de)電流(liu)比差(cha)角差(cha)	1）實(shi)測FS<=FS額定 2）5%額定二次電(dian)流比差<=0.4% 20%額定二次電(dian)流(liu)比差<=0.2% 100，120%額定二次電流比(bi)差<=0.1% 5%額定二(er)次電流角差<=15分 20%額定二次電流比差<=8分 100，120%額(e)定二次(ci)電流比(bi)差<=5分(fen)
0.2級(ji)	1） 儀表安保系數FS 2） 25%，100%額定(ding)負(fu)荷和操作(zuo)負(fu)荷條(tiao)件下(xia)二(er)次電流(liu)為5%，20%，50%，100%，120%額(e)定電(dian)流時(shi)的電(dian)流比(bi)差(cha)(cha)和角(jiao)差(cha)(cha)	1）實(shi)測FS<=FS額定 2）5%額定二次(ci)電(dian)流比差<=0.75% 20%額定二(er)次電(dian)流比(bi)差(cha)<=0.35% 100，120%額定二次電流比差<=0.2% 5%額定(ding)二次電流角差<=30分 20%額定二(er)次電流比差<=15分 100，120%額定(ding)二次電流比(bi)差<=10分
0.2S級	1） 儀(yi)表(biao)安保(bao)系數FS 2） 25%，100%額(e)定負荷和操作負荷條(tiao)件下二次電流(liu)為1%，5%，20%，50%，100%，120%額定電流時的電流比差(cha)和角差(cha)	1）實(shi)測FS<=FS額定 2）1%額定二(er)次電流(liu)比差<=0.75% 5%額定二次電流比(bi)差<=0.35% 20，100，120%額定二次電流(liu)比差<=0.2% 1%額定二次電流(liu)角差<=30分 5%額定二次電流比差<=15分 20，100，120%額定二次電流(liu)比差<=10分(fen)
0.5級(ji)	1） 儀表安保(bao)系數(shu)FS 2） 25%，100%額定負(fu)荷和操作(zuo)負(fu)荷條件下二次(ci)電流為5%，20%，50%，100%，120%額(e)定電流時的(de)電流比差(cha)和(he)角差(cha)	1）實測FS<=FS額(e)定 2）5%額定二次電(dian)流比差<=1.5% 20%額定二次電流(liu)比(bi)差<=0.75% 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差<=0.5% 5%額定二次(ci)電流角差(cha)<=90分(fen) 20%額定二次(ci)電(dian)流比差<=45分 100，120%額(e)定二次電流比差<=30分
0.5S級	1） 儀表(biao)安保(bao)系數FS 2） 25%，100%額定負荷和(he)操作負荷條(tiao)件下二次電流為1%，5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電流(liu)時的電流(liu)比差和角差	1）實測FS<=FS額(e)定 2）1%額定二次(ci)電流(liu)比差(cha)<=1.5% 5%額定二(er)次電(dian)流比差<=0.75% 20，100，120%額(e)定二次(ci)電流比差<=0.5% 1%額定二次電流角差<=90分(fen) 5%額定(ding)二次(ci)電流比差(cha)<45分(fen) 20，100，120%額(e)定二次電(dian)流比差<30分
1.0級	1） 儀表(biao)安(an)保系數FS 2） 25%，100%額定負(fu)荷和操(cao)作負(fu)荷條件下二次電流為(wei)5%，20%，50%，100%，120%額定電流(liu)時的電流(liu)比差和角差	1）實測(ce)FS<=FS額定 2）5%額定(ding)二次電流(liu)比差<=3% 20%額定(ding)二次電流(liu)比差<=1.5% 100，120%額定二(er)次電流比(bi)差<=1.0% 5%額定(ding)二次電流角差<=180分 20%額定(ding)二次(ci)電(dian)流比差(cha)<=90分 100，120%額定二次電流比(bi)差<=60分(fen)
3.0級	1） 儀(yi)表安保系數(shu)FS 2） 50%，100%額(e)定負(fu)荷和操(cao)作負(fu)荷條件下(xia)二次電流為50%，120%額定(ding)電流時的電流比差	1）實測FS<=FS額定 2）50%額定二次電(dian)流(liu)比差<=3% 120%額定二(er)次電(dian)流(liu)比差<=3%
5.0級(ji)	1） 儀表(biao)安保系數FS 2） 50%，100%額(e)定負荷和操作負荷條件下二(er)次電(dian)流為(wei)50%，120%額定電流時的(de)電流比差(cha)	1）實測FS<=FS額定(ding) 2）50%額定二次電流比差<=5% 120%額定(ding)二次電流比差(cha)<=5%

 

表6.2 IEC60044-1 保護類電流互感器(qi)等(deng)評估(gu)(gu)項目和(he)評估(gu)(gu)合格條件

 

互(hu)感器等級(ji)	評估項(xiang)目(mu)	評估合格(ge)條件
5P	準確(que)限值系數(shu)ALF 100%額定電(dian)流處(chu)比差(cha) 100%額定電(dian)流(liu)處角(jiao)差	實測ALF>=額定ALF 100%額(e)定電流(liu)比差<=1% 100%額定(ding)電流角差<=60分
10P	準確限值系數ALF 100%額定電流處比差	實測ALF>=額定(ding)ALF 100%額定電流比差<=3%
5PR	準(zhun)確限值系數ALF 2）100%額定電流(liu)處(chu)比差 3）100%額定電流(liu)處(chu)角差 4）剩磁系數Kr	1）實(shi)測ALF>=額(e)定ALF 2）100%額(e)定電流比差<=1% 3）100%額(e)定電(dian)流角差<=60分 4）Kr<=10%
10PR	準確限(xian)值系(xi)數ALF 2）100%額(e)定電流處比差 3）剩(sheng)磁系數Kr	1）實(shi)測ALF>=額定(ding)ALF 2）100%額(e)定電流比(bi)差<=3% 3）Kr<=10%
PX	匝(za)數比 準確限制電(dian)壓(ya)Ek 準確限制電流Ie 面積(ji)系(xi)數Kx 75攝(she)氏(shi)度(du)線圈電阻(zu)	1）匝數(shu)比(bi)誤差<=0.25% 2）Ek實(shi)測值(zhi)>=Ek額定值 3）Ie實測值>=Ie額定值 4）Kx實測值>=額定Kx值 5）75攝氏度(du)實(shi)測線(xian)圈電阻<=額定值

 

表6.3 IEC60044-6 暫態電流互感器評估項目(mu)和評估合(he)格(ge)條件(jian)

 

互(hu)感(gan)器等級	評(ping)估項目(mu)	評估合格條件
S	匝數比 準確限制電壓(ya)Val 準(zhun)確(que)限(xian)制電流Ial 對稱(cheng)短路(lu)電(dian)流系(xi)數(shu)Kssc 75攝氏度線(xian)圈(quan)電阻	匝數比誤差<=0.25% Val實測值>=Val額(e)定值 Ial實(shi)測值(zhi)<=Ial額定值(zhi) K*Kssc測量>=K*Kssc額定值(zhi) 5）75攝(she)氏度實測線圈(quan)電阻<=額(e)定值
X	額定(ding)電流處比差 額定電(dian)流處角差 額定Kssc和實測(ce)Ktd處(chu)峰瞬誤(wu)差(cha) Kssc*Ktd額定值(zhi)與(yu)實測值(zhi) 75攝氏(shi)度線圈電(dian)阻(zu)	額定(ding)電流處(chu)比差<=0.5% 額定電流(liu)處角差<=30分 額(e)定Kssc*實測Ktd處峰瞬誤(wu)差<=10% (Kssc*Ktd)實(shi)測值>=(Kssc*Ktd)額(e)定值 75攝氏度實測線圈電阻<=額定值
Y	額定(ding)電流處比差 額定電流處角差 額定Kssc和實測Ktd處峰瞬誤(wu)差 Kssc*Ktd額定值與實測值 二次時(shi)間常(chang)數Ts 剩磁系數Kr 7）75攝(she)氏(shi)度線圈電阻(zu)	額定(ding)電流(liu)處比差<=1.0% 額定電流(liu)處角差(cha)<=60分 額定Kssc*實測(ce)Ktd處峰瞬誤(wu)差<=10% (Kssc*Ktd)實測(ce)值>=(Kssc*Ktd)額定值 Ts實測<=30%Ts額定(ding) Kr<=10% 7）75攝氏度實(shi)測線圈電阻<=額定(ding)值
Z	額定電流處比差(cha) 額定電流處角差 Kssc*Ktd額(e)定值與實測值 二次(ci)時間(jian)常(chang)數Ts 5）75攝氏(shi)度線圈電阻	額定電流處比差<=1.0% 2）額定電流處(chu)角(jiao)差<=180分 3）(Kssc*Ktd)實測值>=(Kssc*Ktd)額定(ding)值 4）Ts實測<=30%Ts額定 5）75攝氏度實測線(xian)圈電(dian)阻<=額定值

 

表6.4 C57.13計量類互感器自(zi)動評(ping)估(gu)項目和自(zi)動評(ping)估(gu)條件

 

互感器等(deng)級	自動評估項目	自動評估合格條(tiao)件
0.3級	額(e)定負荷和操作負荷下10%，100%，100%*RF額定二(er)次電流(liu)(liu)處的(de)電流(liu)(liu)比差	10%額定電(dian)流比差<=0.6% 100,100*RF%額定電流(liu)比差<=0.3%
0.6級	額定(ding)負(fu)荷和操作負(fu)荷下(xia)10%，100%，100%*RF額定(ding)二(er)次電流(liu)處的電流(liu)比(bi)差	10%額定電流比差<=1.2% 100,100*RF%額定電(dian)流比(bi)差(cha)<=0.6%
1.2級	額定負荷和操(cao)作負荷下10%，100%，100%*RF額(e)定二次電(dian)(dian)流處(chu)的電(dian)(dian)流比差	10%額定電(dian)流比差<=2.4% 100,100*RF%額定電(dian)流(liu)比差<=1.2%

 

表6.5 C57.13保護類互感器自動評估項目和自動評估條件

 

互感(gan)器(qi)等級	自動(dong)評估項目(mu)	自(zi)動評估合格(ge)條件
C	1）Vbmax與VB額定值比(bi)較 2）Vbmax處的二次電流Isec 3）20*Isn處(chu)的(de)比差 4）Vb額定值(zhi)處的(de)比差	1）Vbmax>=Vb額定(ding)值(如未輸(shu)入Vb額定值，則自動設置Vb額定值為20Isec額定值(zhi)，額定負荷下的二次端(duan)電(dian)壓Vb) 2）Vbmax處Isec>=20*Isec額定 3）20*Isn額定處電流比差<=10% 4）Vb額定值(zhi)處電流比差<=10%
K	1）Vbmax與VB額定值比較 2）Vbmax處的(de)二次電流Isec 3）拐點電壓 4）20*Isn處的比差 5）Vb額定值處的比差	1）Vbmax>=Vb額定(ding)值(zhi) 2）Vbmax處Isec>=20*Isec額(e)定(ding) 3）拐點電壓>=70%Vb額定值 4）20*Isn額(e)定處電流比(bi)差<=10% 5）Vb額定值處電流比差<=10%
T	1）Vbmax與VB額(e)定值比較 2）Vbmax處的二次電(dian)流Isec 3）20*Isn處的比差 4）Vb額(e)定值處的比差	1）Vbmax>=Vb額定值 2）Vbmax處(chu)Isec>=20*Isec額定 3）20*Isn額定處(chu)電流比差<=10% 4）Vb額定值處電(dian)流比差<=10%

 

6.2 勵(li)磁參(can)數計(ji)算

在CT分析的(de)(de)試驗結果展示界(jie)面，有(you)一頁為勵(li)磁參數和(he)自動(dong)評(ping)估(gu)，其中的(de)(de)勵(li)磁參數計算項(xiang)目是由(you)所(suo)選擇(ze)的(de)(de)測試標準(zhun)和(he)互感器等級決定，其對應關系如表(biao)6.6，表6.7和表6.8所(suo)示。

表6.6 IEC60044-1 勵磁(ci)參(can)數計(ji)算項目

 

參數名(ming)稱	參(can)數說明	IEC60044-1計量類	IEC60044-1保護類
V-kn	電壓拐(guai)點，詳(xiang)細定義見表(biao)6.9	√	√
I-kn	電(dian)流拐點(dian)，詳細定(ding)義見表6.9	√	√
Ek	PX級互(hu)感器(qi)準確限制電壓		√
Ie	PX級互感器準確限制電流		√
FS	儀(yi)表安(an)保(bao)系數	√
ALF	準確(que)限(xian)值系數(shu)		√
Kx	PX級互感(gan)器定義(yi)的面積系數		√
Ls	飽(bao)和電(dian)感	√	√
Lu	不飽和電感(gan)	√	√
Ts	二次(ci)時間常數	√	√
Kr	剩磁系數	√	√
Ktd	暫態(tai)面積(ji)系數		√

 

其中部分參(can)數的含義如下：

1）Ek 為IEC60041曲線(xian)拐點位置處的電動勢

2）Ie 為IEC60041曲線(xian)拐(guai)點位置(zhi)處(chu)的勵磁(ci)電(dian)流

3）FS儀器保安(an)系數是CT誤(wu)差(cha)達到10%時一次電流對額(e)定(ding)電流的(de)倍數，此參數僅對測量類(lei)互感(gan)器(qi)有效

4）準確(que)限值系數是指CT誤差達到5%或10%時一次電流(liu)對額定(ding)電流(liu)的倍數

5）Kx面積系(xi)數(shu)是指實測準確限制(zhi)系(xi)數(shu)對額定準確限制(zhi)系(xi)數(shu)的比值

6）Ls飽和電感是指(zhi)互感器在飽和狀(zhuang)(zhuang)態下二次線(xian)圈的等效電感，用于推算二次回路在飽和狀(zhuang)(zhuang)態下的時間常數

7）Lu不飽(bao)和(he)(he)電感(gan)(gan)是指互感(gan)(gan)器在非(fei)飽(bao)和(he)(he)情況(kuang)下(xia)的(de)二次線圈等效電感(gan)(gan)，用(yong)于推(tui)算(suan)二次回路在非(fei)飽(bao)和(he)(he)狀態下(xia)的(de)時間(jian)常數

8）Kr是指互感器線圈(quan)勵磁電流過零時，鐵芯中剩余的磁通量

表 6.7 IEC60044-6 勵磁參數計算項(xiang)目(mu)

 

參(can)數名稱	參數說(shuo)明(ming)	S	X/Y	Z
V-Kn	電壓拐點，詳細定義見表6.9	√	√	√
I-Kn	電流拐點，詳細定義(yi)見(jian)表6.9	√	√	√
V-al	S級互感器定(ding)義(yi)的(de)準確限制(zhi)電壓	√
I-al	S級互感(gan)器定義(yi)的準確限(xian)制(zhi)電流	√
Kssc	實測的對稱短路電(dian)流系(xi)數
Eerror	電(dian)壓Emax處的峰瞬誤差(cha)		√
Emax	zui大電動勢		√
Ls	飽(bao)和(he)電(dian)感(gan)	√	√	√
Lu	不飽和(he)電感	√	√	√
Ts	二次回(hui)路(lu)時間常(chang)數(shu)	√	√	√
Kr	剩磁系數	√	√	√
Ktd	實際計算得到(dao)的暫態面積系數		√	√

 

其中部(bu)分參數(shu)的(de)含義如下：

1）V-al 按(an)照IEC60046定義的曲線(xian)拐(guai)點(dian)位(wei)置處的電(dian)動勢

2）I-al 按照IEC60046定(ding)義的(de)曲線拐點(dian)位置處的(de)勵磁(ci)電流

3）Kssc 互感(gan)器一次(ci)回路(lu)中zui大(da)短路(lu)電(dian)流對(dui)額(e)定(ding)一次(ci)電(dian)流的倍(bei)數

4）Emax互感器額定(ding)極(ji)限電動勢，此數值有一次(ci)zui大短(duan)路(lu)電流，線圈內阻和二(er)次(ci)負(fu)荷共(gong)同決(jue)定(ding)

5）Eerror 額定極限電(dian)動勢處對應的互(hu)感(gan)器瞬(shun)時(shi)值測量誤差

表6.8 C57.13的勵磁參數計算項目

 

參數名稱	參數說明	C57.13計(ji)量類	C57.13保護類
V-kn	電壓拐點(dian)，詳(xiang)細(xi)定義(yi)見表6.10	√	√
I-kn	電(dian)流(liu)拐點，詳細定義見(jian)表6.10	√	√
FS	儀表安保系數	√
ALF	準確限值(zhi)系(xi)數(shu)		√
Kx	PX級互感(gan)器定義(yi)的面積系(xi)數(shu)		√
Ls	飽(bao)和電感	√	√
Lu	不飽和電(dian)感	√	√
Ts	二次時間常數(shu)	√	√
Kr	剩磁(ci)系數	√	√

 

6.3 拐點和磁化曲線定(ding)義

不(bu)同測(ce)試標準的磁化曲線，拐點電壓和拐點電流的定(ding)義是不(bu)一(yi)樣的，詳細的定(ding)義說明如表6.9和表(biao)6.10所示。

表(biao)6.9 三種測試標(biao)準的磁化曲線(xian)定義

 

標準名稱	磁化曲(qu)線(xian)橫坐(zuo)標(biao)	磁化曲線縱坐標
IEC60044-1	二次端電壓有效值	勵磁電流有效值
IEC60044-6	電(dian)動勢(shi)電(dian)壓(ya)有效值	勵磁電流峰(feng)值
C57.13	電動勢電壓有效(xiao)值	勵磁電流有效值

 

表6.10 拐(guai)點定義(yi)

 

標準名稱	拐點定義(yi)
IEC60044-1	勵磁曲線上(shang)(shang)二次端(duan)電壓上(shang)(shang)升10%，導致勵磁(ci)電(dian)流有效(xiao)值上升超過(guo)50%的那個點(dian)
IEC60044-6	電動勢電壓上(shang)升(sheng)10%，導致勵磁電流峰(feng)值上升超過50%的那個(ge)點
C57.13	對于C57.13的(de)ANSI45拐點是指對于(yu)橫(heng)坐標正切為45度角的那個點(dian)，對于C57.13的ANSI30拐(guai)點是指對于橫坐(zuo)標正切為(wei)30度角的那(nei)個點

 

6.4 銘牌推(tui)測邏輯(ji)

CT分析儀的(de)銘(ming)牌自動推(tui)測功能用于在銘(ming)牌部(bu)(bu)分信息(xi)未知時猜測銘(ming)牌的(de)部(bu)(bu)分信息(xi)，推(tui)測的(de)參數包括額定一次電流，額定二次電流和(he)互感(gan)器(qi)等(deng)級(ji)。銘(ming)牌推(tui)測的(de)所使用的(de)順序和(he)判斷條(tiao)件如下：

1） 如果額定二次(ci)電流未知，則根據當前所測得(de)的線圈電阻大小與1A/5A判斷閾值進行比(bi)較（見系統參數設置章節），如果小于閾值則將額定二(er)次電流設為5A，否則設(she)為(wei)1A

2）根(gen)據(ju)實際測(ce)量獲(huo)得的(de)匝數(shu)比和額(e)定(ding)二(er)次電流值(zhi)，對照當前所(suo)選(xuan)擇(ze)標(biao)準對一(yi)(yi)次電流取值(zhi)規(gui)則的(de)規(gui)定(ding)，猜測(ce)額(e)定(ding)一(yi)(yi)次電流值(zhi)。

3）互感(gan)器等級的猜測

為了(le)猜測互感器的(de)等級首先需(xu)要判斷互感器鐵芯(xin)的(de)類型，根(gen)據1A或5A鐵(tie)芯(xin)判定閾(yu)值（見系統參數設置章節）獲取當(dang)前鐵(tie)芯(xin)類(lei)型，如(ru)果飽(bao)和電壓小于閾(yu)值則為測量鐵(tie)芯(xin)否則為保護鐵(tie)芯(xin)。

如(ru)果猜測(ce)(ce)的互感(gan)器鐵芯為測(ce)(ce)量鐵芯，則儀器按照如(ru)下規則推測(ce)(ce)互感(gan)器等級。

1）如果選擇的(de)是IEC60044-1則分(fen)別對如(ru)下精度等級順(shun)序(xu)分(fen)進行自動評估，直(zhi)至評估合格則為止，*個評估合格的等級就是互(hu)感器的精度等級

0.1->0.2S->0.2->0.5S->0.5-&gt;1.0->3.0->5.0

2）如(ru)果選擇的是C57.13則分別對如下精度等(deng)(deng)(deng)級(ji)順序分進行自動(dong)評估，直至評估合格(ge)則為止(zhi)，*個評估合格(ge)的等(deng)(deng)(deng)級(ji)就是互感器(qi)的精度等(deng)(deng)(deng)級(ji)

0.3->0.6->1.2

如果猜(cai)測的鐵芯(xin)為保護鐵芯(xin)，則儀(yi)器按(an)照如下規則推測互感(gan)器等級

1）如果選擇的是IEC60044-1，則分別(bie)對(dui)如下等級順序分進行(xing)自動(dong)評估，直至評估合格則為止，*個評估合格的(de)(de)等級就是互(hu)感(gan)器的(de)(de)精(jing)度等級

5PR->10PR->PX->5P->10P

2）如果選擇(ze)的是IEC60044-6，則分別對如下等級(ji)順序(xu)分進行自動評估，直至(zhi)評估合格則為(wei)止(zhi)，*個評估合格的(de)等級(ji)就(jiu)是(shi)互感器的(de)精(jing)度等級(ji)

Y-> X-> Z-> S

3）如(ru)果選擇(ze)的是C57.13，則分別對如(ru)下(xia)等(deng)級(ji)順序(xu)分進行自動(dong)評(ping)估(gu)，直至評(ping)估(gu)合格則為止，*個評(ping)估(gu)合格的等(deng)級(ji)就是(shi)互感(gan)器(qi)的精度等(deng)級(ji)

K->C->T

 

第(di)七章(zhang) PC數據分析(xi)軟件

7.1 概述

分(fen)析儀(yi)的產品(pin)光(guang)盤(pan)中包含2個PC應用程序,數(shu)據分(fen)析軟件“C T ANALYZER FOR PC"和批量報告制(zhi)作工具(ju)“C T ANALYZER BULK REPORTS"，這2個應用(yong)程序都是免安(an)裝(zhuang)的(de)綠色軟(ruan)件，使用(yong)時將(jiang)2個應(ying)用(yong)程序對應(ying)的文件夾復制到計(ji)算機(ji)硬盤即(ji)可。

7.2 數(shu)據分析軟件

在分析(xi)(xi)儀(yi)的數據分析(xi)(xi)軟件中雙擊“C T ANALYZER FOR PC"，出現如圖(tu)7.1所示數據分析軟件主界(jie)面。

 

 

分析儀的PC數據分析(xi)軟件(jian)(jian)操作與界面和儀器應用軟件(jian)(jian)基(ji)本*，其不同之處如下：

讀取(qu)文件時PC數據(ju)分析軟件(jian)需要(yao)用戶(hu)文件(jian)所在(zai)位置如圖7.2

保存文件(jian)時PC數據分析軟件需(xu)要用(yong)戶文件存(cun)儲位置如圖(tu)7.2

曲線對比窗(chuang)口(kou)中讀取參(can)(can)考(kao)曲線時(shi)需要用(yong)戶參(can)(can)考(kao)文件(jian)所在位置如(ru)圖(tu)7.2

曲線對(dui)比中(zhong)復制(zhi)圖片時需要用戶文件存儲位置如圖7.2

生成(cheng)WORD報告時需要(yao)用戶(hu)文(wen)件存儲(chu)位置(zhi)如圖7.2

 

 

除以上所列(lie)不同(tong)之處外,數據(ju)(ju)分(fen)析軟(ruan)件(jian)所(suo)有的操(cao)作方法(fa)與儀(yi)器數據(ju)(ju)處(chu)理(li)軟(ruan)件(jian)**，詳細說(shuo)明請參照儀(yi)器數據(ju)(ju)處(chu)理(li)軟(ruan)件(jian)說(shuo)明

7.3 批量(liang)報告制作(zuo)工具

在儀器版本為V1.27.129以上(shang)的(de)(de)機型中，分析儀的(de)(de)產品光盤提(ti)供WORD報告批處理(li)應用程序(xu)，此程序(xu)可以實現一次性生(sheng)成(cheng)多個WORD報告文(wen)檔，在儀器產(chan)品光盤中雙擊C T分(fen)析儀批量(liang)報告制作(zuo)工(gong)具文件夾下(xia)的“C T ANALYZER BULK REPORTS"，出現圖7.3所示窗口(kou)。

 

 

窗口中(zhong)各個按(an)鈕和控件定義如下：

WORD報告批量生成

點擊WORD報告批量生(sheng)成時，進入報告配置(zhi)窗口如圖7.4所(suo)示，在該(gai)窗(chuang)口中(zhong)可(ke)以添加(jia)，移除需要制作報告的試(shi)驗文件。圖7.4窗口中各個(ge)按鈕的定義如下(xia)：

添加文件

點擊“添(tian)加文件"出現圖7.5所示的試(shi)驗結(jie)果文件添加窗口，可以將試(shi)驗結(jie)果文件添加到WORD報告(gao)待生(sheng)成隊列。

注意：圖7.5所示窗(chuang)口中可(ke)以(yi)通過鼠標同時(shi)選擇多個(ge)文件

移除文件

點擊移除文件，將WORD報告(gao)待生(sheng)成(cheng)隊(dui)列(lie)中選中的試驗結果文件(jian)從隊(dui)列(lie)中移除(chu)

注意：此項功能僅僅將試(shi)驗結果文件從隊(dui)列中(zhong)移除(chu)(chu)，并不會刪除(chu)(chu)計算機中(zhong)對應(ying)的試(shi)驗結果文件

移(yi)除所有文件

點擊(ji)移除所有(you)文件，清空WORD報(bao)告待生成隊列中所有(you)的試驗結果文件

注意(yi)：此項功能(neng)僅(jin)(jin)僅(jin)(jin)將試驗結果文(wen)件(jian)從隊列中(zhong)移除，并不會刪(shan)除計(ji)算機中(zhong)對應的試驗結果文(wen)件(jian)批量生(sheng)成WORD報告一次性生(sheng)成WORD報告待生成(cheng)隊列中所有(you)的試驗結(jie)果(guo)文件

注(zhu)意：當(dang)待生成(cheng)(cheng)隊列中(zhong)文件的(de)數量很(hen)多時(shi)，生成(cheng)(cheng)過程(cheng)會耗費很(hen)長的(de)時(shi)間，在此過程(cheng)中(zhong)應(ying)(ying)用軟件不能響應(ying)(ying)其(qi)他控制命令，如果(guo)此時(shi)需要終(zhong)止生成(cheng)(cheng)過程(cheng)，可(ke)以通過Ctrl+ALT+DEL關閉此應用程序的(de)進(jin)程。

取(qu)消

退出(chu)WORD報告批量生(sheng)成配置窗(chuang)口

試驗(yan)報告生成(cheng)過程(cheng)控制

生成WORD報告(gao)時包含磁滯回路曲(qu)線，此項被選中(zhong)時，在所有的CT分(fen)析試驗結(jie)果文件(jian)的(de)WORD報告中會包含磁滯回路曲線及數據(ju)，這樣(yang)的配置會消耗(hao)較長的生成WORD報(bao)告時(shi)間，否則這些曲線和數據不會出現在(zai)這些生成的WORD報告中并(bing)且(qie)生成(cheng)WORD報(bao)告時間較(jiao)短

誤差曲線中使(shi)用整數(shu)一次電(dian)流(liu)倍數(shu)，此項被選(xuan)中時，在所(suo)有的IEC60044-1保護類(lei)CT的試驗結果(guo)文件中(zhong)，誤差曲(qu)線數(shu)(shu)據(ju)會顯(xian)示整數(shu)(shu)一次電流倍數(shu)(shu)的數(shu)(shu)值

顯(xian)示簡化(hua)的勵磁數據，此(ci)項被選中時，在所有的CT分析試驗結果文件的WORD報告(gao)中(zhong)顯示(shi)的磁化曲線為30個點，這樣可以(yi)縮短生成WORD報告的時間(jian)，否則(ze)顯示點(dian)數為實測(ce)點(dian)并且生成WORD報告的時(shi)間較(jiao)長(chang)。

語(yu)言選(xuan)擇(ze)

選擇(ze)此應(ying)用(yong)程(cheng)序的語言環境，目(mu)前版本支持的語言為(wei)中文和英文

進度條

應用(yong)程序(xu)主界面包含2個進(jin)度(du)條指示生(sheng)成過(guo)程(cheng)的狀態，位于(yu)主程(cheng)序(xu)上(shang)部的進(jin)度(du)條是所(suo)有試驗結果文件WORD報(bao)告(gao)生成過程的(de)總進度指示，位(wei)于主程序下部的(de)進度條是單個(ge)試驗結(jie)果文(wen)件(jian)WORD報告生(sheng)成過程的進度指示。

 

 

 

 

第八章(zhang) 附件清(qing)單

8.1 C T分析儀的標準配置

C T分析(xi)儀(yi)的標準配置(zhi)如表7.1所示：

 

名稱	數量(liang)	說明
C T分(fen)析儀主(zhu)機	1
3M雙芯(xin)帶屏蔽測試電(dian)纜(lan)	2	CT二(er)次(ci)和(he)功率輸(shu)出連(lian)接線，每(mei)根電(dian)纜(lan)的兩頭都(dou)帶有紅色和(he)黑色香(xiang)蕉頭，線徑大于(yu)1.5MM
10M雙芯帶(dai)屏蔽測試電纜	1	CT一次連接線(xian)(xian)，每根電(dian)纜的兩頭(tou)都帶有紅色(se)和黑色(se)香(xiang)蕉頭(tou)，線(xian)(xian)徑大(da)于1.5MM
接地線	1
大(da)號測試鉗(qian)	2	紅黑各2個
測試冷壓(ya)片	4	紅黑各2個
測(ce)試(shi)針	4	紅黑各2個
鱷魚夾	6	紅黑各3個(ge)
測試短接線(xian)	1	含(han)6個連接(jie)頭，用于短接(jie)CT二(er)次(ci)的剩余(yu)非測(ce)試(shi)繞組(zu)
PT勵磁試驗模塊	1	用(yong)于PT勵(li)磁試驗(yan)
5A電源保(bao)險	3
供電(dian)電(dian)纜	1
附件(jian)包	1	放置(zhi)測試的(de)各種附件
產品(pin)光盤	1	包(bao)含產品說明書和(he)數(shu)據分析軟件
產(chan)品(pin)使用說明(ming)書	1
產品(pin)出廠檢測報告	1
合格證	1

 

 

附錄(lu)A. 低頻法測試原理

IEC60044-6 標準（對應(ying)國家標準GB16847-1997）聲稱，CT 的(de)測(ce)試可以在(zai)比(bi)額定頻率低的(de)情況(kuang)下進行，避免繞組和二次端子承受(shou)不能(neng)容許的(de)電(dian)壓。的(de)要求就是，在(zai)鐵心上(shang)產生同樣大小的(de)磁通。

IEC60044-6 標準(zhun)中給(gei)出(chu)的磁通計算公式(shi)：

其中(zhong)，

R CT ：二次繞組電阻

U CT ：二次繞(rao)組端電(dian)壓(ya)

I CT ：二次(ci)電流

Ψ0  ：初始交鏈磁通

Ψ(t)：t 時刻的交鏈磁(ci)通(tong)

定義鐵心電壓：

當鐵心(xin)電壓U C (t) 為(wei)正弦信號時，有(you)：

其中(zhong)：

f ：為(wei)正弦信(xin)號(hao)頻率

可以看出，在(zai)相同的zui大(da)交鏈磁(ci)通Ψm 下，鐵(tie)(tie)心電壓與頻(pin)率(lv)成(cheng)正比(bi)。因此，只要在鐵(tie)(tie)心上(shang)產生同樣大(da)小(xiao)的磁通，那么CT的(de)(de)測(ce)試(shi)便(bian)可(ke)以在比額定頻率(lv)(lv)低(di)(di)的(de)(de)情況下進行，此時所(suo)需的(de)(de)鐵心(xin)電(dian)(dian)壓幅(fu)值要求也(ye)降(jiang)低(di)(di)，二次繞組測(ce)試(shi)所(suo)需的(de)(de)端(duan)電(dian)(dian)壓也(ye)相(xiang)應降(jiang)低(di)(di)。對(dui)低(di)(di)頻測(ce)試(shi)結果進行頻率(lv)(lv)折算后可(ke)以得(de)到額定頻率(lv)(lv)下的(de)(de)CT測試結果(guo)。

附錄B.10%誤差曲線計算

電流(liu)互(hu)感器(qi)的(de)誤(wu)差主要是由(you)于勵磁(ci)電流(liu)I0的(de)存在(zai)，它使二次(ci)電流I2與換算到二次側后的一次電流I1′不但在數值上不相(xiang)等，而(er)且相(xiang)位也不相(xiang)同，這就(jiu)造(zao)成了電流(liu)互感(gan)器的誤差。

繼電保護(hu)要求電流互感器(qi)的一次電流I1等于(yu)zui大短路電流時，其比(bi)值差小于(yu)或(huo)等于(yu)10％。在比值差(cha)等于10％時，二次電流(liu)I2 與換(huan)算到二次(ci)側后的一次(ci)電流I1′以及勵磁電流I0  之間滿(man)足下述關(guan)系：

定(ding)義(yi)M 為一(yi)次側zui大短路電(dian)流倍數，K 為電流互感器(qi)的變比，則(ze)有

 

其中(zhong)：

Z2  為電流互感(gan)器二次繞組阻抗

E0  為電(dian)流互感器二(er)次繞(rao)組感應電(dian)動勢E0和I0的關系由勵磁特(te)性曲(qu)線描述。

根據上(shang)述算式，zui后可以得到用(yong)zui大短(duan)路電(dian)流倍數M 和允(yun)許(xu)的zui大負(fu)荷阻(zu)抗(kang)ZB描述的(de)10％誤差(cha)曲

5%誤差曲線(xian)的計算方式與10%誤(wu)(wu)差(cha)曲線計算方(fang)式*，只是誤(wu)(wu)差(cha)點從10%變成了(le)5%。對于5P/5PR的電流(liu)互感器通常計算5%誤差曲線，對于10P/10PR的(de)保護(hu)類電流互(hu)感器通常(chang)計(ji)算10%誤(wu)差曲線。

的使用范圍與技術指標

1.1 C T分析(xi)儀的功能與使用場合

C T分析儀用于電流互感器的以下(xia)試驗：

1）勵(li)磁(ci)特性試驗(yan)

2）匝數比檢測

3）比差與角差校驗

4）極性校驗

5）二次繞(rao)組電(dian)阻測量(liang)

6）二次負荷(he)測量(liang)

7）5%和10%誤差(cha)曲線測量

8）CT暫態特性測試與分析

9）CT銘(ming)牌自動推斷(duan)

10）拐點電(dian)壓/電流、準(zhun)確(que)限值(zhi)系數、儀表保安系數、二次時間常數、剩磁系數、準(zhun)確(que)級、飽和(he)與不飽及電感(gan)，拐點電動勢，極限電動勢和(he)面積系數等(deng)CT 參數的測量

11）電流(liu)互感器(qi)鐵芯磁滯回線測量

C T分析儀(yi)還可用于電壓(ya)互感器的以下(xia)試(shi)驗：

1）PT匝(za)數比檢測(ce)

2）PT極性校驗

3）PT二次繞組電(dian)阻測(ce)量(liang)

4）PT二次負荷測(ce)量

5) PT勵磁特性測量

 

裝置的應用場合主(zhu)要有(you)：

1） CT銘牌的(de)參數(shu)校驗

2） CT接入(ru)當前(qian)負荷時(shi)參數校驗(yan)

3） 分(fen)析CT的(de)暫態特性對繼電保護裝置的(de)影響(xiang)。

4） PT的銘牌參數校(xiao)驗

5） PT二次負荷校(xiao)驗

1.2 C T分析儀技術(shu)指標

1 測試標準依(yi)據：

 IEC60044-1, IEC60044-2, IEC60044-5, IEC60044-6, GB1207, GB1208,

GB16847, GBT4703, C57.13

2 輸入電源電壓： AC220V±10%，50Hz/60Hz±10%

3 輸出電壓： 0.1~180V(AC)

4 輸出電流： 0.001~5A(RMS)

5 輸(shu)出功率：500VA

6 zui高等效拐點電壓：45KV

7 電流測量： 范圍：0~10A (自動量程0.1/0.4/2/10A)

誤差<±0.1%+0.01%FS

8 電(dian)壓(ya)測量(liang)： 范圍(wei)：0~200 V (自動(dong)量程1/10/70/200V)

誤差< ±0.1%+0.01%FS

9 匝數比測量： 范(fan)圍：1~35000，

1~2000 誤差<0.05%

2000~5000 誤差<0.1%

5000~35000 誤差<0.2%

10 相(xiang)位測量： 精度(du)：±2min，分辨率：0.01min

11 二(er)次繞組(zu)電(dian)阻測量(liang)范圍： 范圍：0~8KΩ(自(zi)動(dong)量程2/20/80Ω/800Ω/8kΩ)

誤差< 0.2%RDG+0.02%FS， zui大分辨率：0.1mΩ

12 溫度測量：-50~100度， 誤(wu)差<3度

13 CT二(er)次負荷測量： 0～160ohm(2/20/80ohm/160ohm)

誤差(cha)0.2%RDG+0.02%FSzui大分(fen)辨率0.001ohm

14 PT二次(ci)負荷測(ce)量： 0～80kohm(800ohm/8kohm/80kohm)

誤差0.2%RDG+0.02%FSzui大(da)分辨率0.1ohm

15 PT匝數比(bi)測(ce)量(liang)： 范圍：1~30000，

1~5000 誤(wu)差<0.2%

5000~30000 誤(wu)差<0.5%

16 能夠按照所選擇的標(biao)準，對(dui)測試結果進行自動(dong)評估，判(pan)斷互(hu)感(gan)器(qi)是否合格

17 能夠同時檢測額定負(fu)荷和操作負(fu)荷下電(dian)流互感的比差與角差

18 具(ju)有自動生成WORD試驗報告功能(neng)

19 具備批(pi)量(liang)制作WORD試驗報告(gao)功能，一次可以將選擇的(de)所有試驗文(wen)件制作(zuo)成格(ge)式規范的(de)WORD報告(gao)

20 能夠(gou)將勵磁曲(qu)線(xian)與存儲的歷史曲(qu)線(xian)進行自動對比

21 數(shu)據存儲(chu)組數(shu)：大于1000組(zu)

22 工作條件： 溫度：-10℃～50℃， 濕(shi)度：≤90%

23 尺寸： 485mm×356mm×183mm

24 重量：15Kg

 

第二(er)章(zhang) 硬件裝置

2.1 概述

C T分析儀外形和各部(bu)分的描述(shu)如圖2.1所示

2.2電(dian)源連接(jie)

C T分析(xi)儀(yi)電源輸入(ru)插(cha)座在儀(yi)器面板(ban)的右(you)側，如圖2.2所示。電(dian)源輸入范圍是AC220±10% ，50/60Hz±10%，電源(yuan)插座內部(bu)安裝有5A保險(xian)。

2.3輸(shu)入與輸(shu)出

CT/PT分析儀的測(ce)試接口有3組：功(gong)率(lv)輸出，CT二次側(ce)/PT一次側(ce)輸入，CT一次側/PT二次側輸入。

功(gong)率輸(shu)出端子：功(gong)率輸(shu)出接口，輸(shu)出電壓范(fan)圍是AC 0~180V，輸出電流AC0~5A

CT二次(ci)側/PT一次側輸入端(duan)子：

CT二次(ci)繞組/PT一(yi)次繞組電壓測量輸入接(jie)口，輸入信號的電壓范圍是(shi)AC0~180V

CT一次側/PT二次(ci)側輸(shu)入(ru)端(duan)子：CT一次側/PT二次側繞組電壓測量輸入接口，輸入信號的(de)電壓范圍是AC0~5V

2.4硬件部分原理框圖

C T分析儀的結(jie)構原(yuan)理(li)如(ru)圖(tu)2.3所示(shi)，其中的恒壓(ya)恒流(liu)變頻電源模塊與AC220V電源輸入是*隔離的。通過DSP數據采(cai)集系(xi)統完成對恒(heng)壓恒(heng)流模塊的控(kong)制，可以使(shi)電源輸出(chu)AC0~180V正弦(xian)電壓信號或者AC0~1A的正弦(xian)電流信(xin)號。

DSP數(shu)據采集系統的主要功能是完成對變頻電源控(kong)制和(he)試(shi)驗過程的數(shu)據采集。所有的數(shu)據分析(xi)，存儲和(he)界面顯示都(dou)由(you)工(gong)控(kong)機系統完成，工(gong)控(kong)機內置了嵌入式XPE系統，并對系統的(de)C盤進行的(de)自(zi)恢復保護，這樣可以有效的(de)避免軟件系統故障和病毒(du)攻(gong)擊。儀器(qi)內(nei)部存儲空間>6G，zui大存儲數據>1000組。

2.5鍵盤

C T分析儀面板(ban)帶有一(yi)個(ge)16鍵的(de)小(xiao)鍵盤用于(yu)數據輸入，鍵盤的(de)外形(xing)如圖2.4所(suo)示(shi)，其中各個按鍵的定義如(ru)下：

1）0~9 數字(zi)輸入鍵

2）∧向上選擇(ze)方向鍵

3) ∨向下選(xuan)擇方向鍵

4）＜刪除(chu)數據鍵(jian)

5）. 小數點輸入鍵

6）ESC 取消選擇鍵

7）確定選(xuan)擇或輸入鍵

 

第三章 試驗連線

3.1 CT二次負(fu)荷

在進行(xing)CT二次負(fu)荷測量時請按照圖3.1連接(jie)C T分(fen)析儀和被測CT

具(ju)體(ti)接(jie)線(xian)步驟和說明如下：

1）將C T分析儀的接地柱(zhu)連接到保護地PE

2）將按照圖3.1所示(shi)，斷開CT二次(ci)側和二次(ci)回路的連接

3）將C T分析儀功(gong)率輸出和CT二(er)次側/PT一次側(ce)的黑色端子(zi)連接至二次負(fu)荷一側(ce)，參見(jian)圖3.1

4）將C T分析儀功率輸出和CT二次(ci)側/PT一(yi)(yi)次側的(de)紅色端子連接(jie)至二次負(fu)荷的(de)另一(yi)(yi)側

5）為了消除接觸電阻的影(ying)響(xiang)，在連接CT分(fen)析儀的端(duan)子時，CT二次側的連(lian)接端子應(ying)保持在功率輸出端子的內側，如(ru)圖(tu)3.2。

注意：在(zai)進行CT二次負荷測(ce)量時，必(bi)須要(yao)斷開(kai)被(bei)測(ce)CT二次側與負載的連接，否(fou)則測(ce)量的結果將是(shi)CT二次側與二次負荷的并(bing)聯阻抗，這(zhe)將導致儀器獲得錯誤的試驗結果(guo)。并(bing)且(qie)在進行二次負荷測量(liang)時(shi)儀器不進行退磁處理，因此(ci)如果(guo)CT二次(ci)側未斷(duan)開(kai)將(jiang)會導(dao)致(zhi)CT進入(ru)飽(bao)和狀(zhuang)態。

 

3.2 CT分析，變比，極性試驗接線圖(tu)

 

在(zai)進(jin)行CT分析，變比或極性試(shi)驗時(shi)請按(an)照圖3.3連接C T分(fen)析儀(yi)和被測CT，這三個試驗項(xiang)目的(de)接(jie)線方式是*的(de)

具體(ti)接線(xian)步驟和(he)說明如下：

1）斷開電力(li)線與(yu)CT一次(ci)側的連接(jie)，未接(jie)地的電力線較長，會給CT一次(ci)側的測(ce)量引入較(jiao)大(da)干擾，參見圖(tu)3.4。

3）將CT一次側一端連接(jie)至C T分析儀CT一次側(ce)/PT二次(ci)側黑(hei)色端子

4）將CT一次(ci)側另一端連接至C T分析(xi)儀CT一次側/PT二次(ci)側紅色(se)端子

5）將C T分析儀的接地柱(zhu)連(lian)接到保護地PE

6）將按照圖3.3所(suo)示，斷開被測CT二次側和(he)二次負荷的連接

7）將C T分析儀功率輸出和CT二次側/PT一(yi)次側的黑色端(duan)子連(lian)接(jie)至(zhi)CT二次(ci)側的(de)一端，參(can)見(jian)圖(tu)3.3

8）將C T分(fen)析功率輸出和CT二次側/PT一次側的紅(hong)色端子連接至CT二次側另一端

9）為了消除接觸電阻對線圈(quan)電阻測量的影響，在連接C T分析儀的端(duan)子時，CT二次側(ce)/PT一次側的(de)連(lian)接端子應保(bao)持在功率輸出端子的(de)內側，如圖3.4。

 

注(zhu)意：在(zai)對變比值相同的多繞組電流互感器進行CT分析或CT比(bi)差(cha)角差(cha)測試(shi)時，沒有測試(shi)的二次繞組(zu)應全(quan)部短接，否則測試(shi)誤差(cha)將會偏(pian)大

例如同時含有(you)測量0.5級，保護(hu)10P10，暫態 Y三個(ge)繞組的2000/1的CT，進行0.5級(ji)繞組的比差角差測(ce)量(liang)時應(ying)按(an)照圖(tu)3.4.1進行接線

3.3 CT線圈(quan)電阻測量接線圖

在測量CT線圈的直流(liu)電阻時(shi)，請按照圖3.5連接(jie)儀器和被測(ce)CT。

1）將C T分(fen)析儀(yi)的接地(di)柱連(lian)接到保護地(di)PE

2）按照圖(tu)3.5所(suo)示，斷(duan)開被測(ce)CT二次側和二次負荷的連接(jie)

3）將CPTT分析儀功率輸(shu)出和CT二(er)次側(ce)/PT一次側的(de)黑(hei)色端子連接至CT二次(ci)側(ce)的(de)一端，參見圖3.5

4）將C T分析(xi)功率輸出和CT二(er)次(ci)側/PT一次側的紅(hong)色端(duan)子連接(jie)至CT二次側另一端

5）為了消(xiao)除接觸(chu)電(dian)阻對線圈電(dian)阻測量的影響，在連接C T分析儀(yi)的端子時，CT二次側/PT一次側的(de)連接端子應保持在功率輸(shu)出端子的(de)內側，如圖3.4。

 

 

3.4 PT二次負荷(he)

在進(jin)行PT二(er)次負荷測量時請按照(zhao)圖(tu)3.6連接C T分析儀和(he)被測(ce)PT

 

 

具(ju)體(ti)接線步驟和說(shuo)明如下：

1）將(jiang)C T分析儀的接(jie)地(di)柱連接(jie)到(dao)保(bao)護地(di)PE

2）將(jiang)按(an)照圖3.6所示，斷開(kai)PT二次(ci)側和二次(ci)回(hui)路的(de)連接

3）將C T分析儀功率輸出和(he)CT二次(ci)側/PT一次側的黑色端子(zi)連接(jie)至二次負荷的一端，參見圖(tu)3.6

4）將C T分析功(gong)率輸出和CT二次側(ce)/PT一(yi)次(ci)側的紅色端(duan)子(zi)連接(jie)至二次(ci)負荷的另一(yi)端(duan)

5）為了消除接觸(chu)電阻的影響，在(zai)連接C T分析(xi)儀的端子時，CT二次側/PT一次側的連接(jie)端子(zi)應保(bao)持在功率(lv)輸出端子(zi)的內側，如圖3.2。

3.5 PT線圈電阻測(ce)量接(jie)線圖(tu)

在(zai)測量(liang)PT線圈的直流電阻(zu)時，請(qing)按照圖3.7連接儀(yi)器和(he)被(bei)測PT。

1）將(jiang)C T分析儀的(de)接地柱連接到保(bao)護地PE

2）按照圖3.7所示，斷開(kai)被測PT二次側和二次負荷(he)的連接(jie)，或是斷開PT一次側與(yu)PT一次線路的連接

3）將CPTT分析(xi)儀功率輸出和(he)CT二次側/PT一(yi)次側的(de)黑色端(duan)子連接(jie)至PT二次側(或PT一次側)的一端(duan)，參見圖3.7

4）將C T分析功率輸出和(he)CT二次(ci)側/PT一次側的紅色端子連接至PT二次側（或PT一(yi)次側）另一(yi)端(duan)

5）為了消除接觸電阻對線圈電阻測量的(de)影響，在連(lian)接C T分析儀的端子時(shi)，CT二次(ci)側/PT一次側(ce)(ce)的(de)連接端子應保(bao)持在功率輸出端子的(de)內側(ce)(ce)，如圖(tu)3.4。

 

 

3.6 PT匝數比，極性試驗接線圖

在進行PT變比或極性試(shi)驗時(shi)請按照(zhao)圖3.9連接(jie)C T分析儀和被測PT，這(zhe)兩個試驗項目的接線方式是*的

具體接線步驟和說明(ming)如下：

 

 

1）將(jiang)PT二次側的一端連(lian)接至C T分析儀CT一(yi)次側(ce)/PT二次側黑(hei)色端子

2）將PT二次(ci)側另(ling)一端連接至(zhi)C T分析儀CT一次側/PT二次側紅色(se)端(duan)子

3）將C T分析(xi)儀的接地柱(zhu)連接到保護地PE

4）將(jiang)按照(zhao)圖3.9所(suo)示，斷(duan)開(kai)被(bei)測PT二(er)次側和二(er)次負(fu)荷的連接

5）將(jiang)C T分(fen)析儀功率輸出和CT二次側/PT一次側的黑色端子連接至PT一次側的一端，參(can)見圖3.9

6）將C T分析(xi)功率輸出和CT二次側/PT一次(ci)側(ce)的(de)紅色端子連接至(zhi)PT一(yi)次側(ce)另(ling)一(yi)端

7）為了消除接觸電阻(zu)對線圈電阻(zu)測量的(de)影(ying)響(xiang)，在連接C T分析儀的端子時，CT二次側/PT一次側(ce)的連接端子(zi)應保持在功率輸(shu)出端子(zi)的內(nei)側(ce)，如圖3.4。

3.7 PT勵磁試驗接線圖

在進行PT勵磁試驗(yan)時請按照圖3.10連(lian)接C T分析儀和被測(ce)PT。

執行PT勵(li)磁(ci)試驗(yan)時，需(xu)要外接PT勵磁(ci)試驗模塊，以防止發生(sheng)高頻振(zhen)蕩，造(zao)成(cheng)測試結果的電(dian)流(liu)過大

具體接線(xian)步驟和說明如下(xia)：

 

 

1）將PT二次側的一端連(lian)接(jie)至C T分析儀CT二次(ci)側(ce)/PT一次側黑色端子

2）將PT二次側另(ling)一端連接至C T分析(xi)儀CT二(er)次側/PT一次側紅(hong)色端子(zi)

3）將(jiang)PT勵磁(ci)模塊的黃色(se)/黑色線連接(jie)至分析儀的(de)功率輸出

4）將PT二次側的(de)一端連接至PT勵(li)磁(ci)模塊的紅色插座

5）將PT二(er)次側的另(ling)外一端連接至PT勵磁(ci)模塊的黑色插座(zuo)

6）將(jiang)C T分(fen)析儀的接地柱連接到保護地PE

7）將按照圖3.10所(suo)示，斷開被測PT二次(ci)側和二次(ci)負荷的(de)連接

8）為了消(xiao)除(chu)接觸電阻對線圈(quan)電阻測(ce)量的(de)影(ying)響，在(zai)連接C T分析儀的(de)端子(zi)時，CT二次側/PT一次側的(de)連接端(duan)(duan)子(zi)應保持在功(gong)率輸出端(duan)(duan)子(zi)的(de)內側，如圖3.4。

 

注意(yi)：PT勵(li)磁(ci)試驗完成(cheng)后，PT一次側(ce)可能(neng)有高(gao)壓殘留，一定要對(dui)PT一次(ci)側(ce)進行放電，否則將一次(ci)側(ce)再連接到儀(yi)器時，可能造成儀(yi)器損耗

 

第四章 用戶(hu)界面

4.1 儀(yi)器運行界(jie)面

C T分(fen)析(xi)儀(yi)軟件系統定(ding)義了6種(zhong)運行狀態，這6種運(yun)行(xing)狀態(tai)分別(bie)為(wei)“等待(dai)新(xin)建試(shi)驗"，“等待(dai)查(cha)看歷史結(jie)果(guo)(guo)"，“等待(dai)試(shi)驗"，“運(yun)行(xing)"，“查(cha)看結(jie)果(guo)(guo)"和“查(cha)看歷史結(jie)果(guo)(guo)"。不同的狀態(tai)下軟件顯示界(jie)面(mian)是(shi)不一樣的，但是(shi)整(zheng)個軟件界(jie)面(mian)都是(shi)被劃(hua)分為(wei)5個(ge)區域，其劃分方式如圖4.1所示，5個區(qu)域分(fen)別為工具欄，儀(yi)器主工作區(qu)（在等待試驗(yan)(yan)界面顯示為試驗(yan)(yan)項目選(xuan)擇和操作命(ming)令(ling)選(xuan)擇，如圖4.1），儀器(qi)狀(zhuang)態信息欄，當(dang)前試(shi)驗參(can)數欄和試(shi)驗控(kong)制欄。儀器(qi)處于不同的運行狀(zhuang)態時(shi)，僅(jin)僅(jin)是在主工作區對顯示界面進(jin)行切(qie)換。

4.2 儀(yi)器軟(ruan)件工(gong)具欄

工具欄包含了對儀(yi)器操(cao)作的各個命令按鈕(niu)，其中包括“新建試驗"，“保存"，“讀取(qu)"，“儀(yi)器設置(zhi)"，“語言選擇"，“互感器設置(zhi)"，“數據導出"和“使用(yong)幫(bang)助"等(deng)，各個儀(yi)器控制命令的詳細解釋如(ru)下(xia)。

 

 

4.2.1新建試驗

新(xin)建試(shi)驗(yan)是指結(jie)束當前(qian)的試(shi)驗(yan)窗口，軟(ruan)件返回至&ldquo;等待新(xin)建試(shi)驗(yan)狀態"，在該狀態下圖4.1所(suo)示界面被加載，可以在該窗(chuang)(chuang)體中(zhong)(zhong)選擇(ze)將(jiang)要進行的試驗(yan)項目，該窗(chuang)(chuang)體中(zhong)(zhong)的試驗(yan)項目包(bao)括“CT分析"，“CT比(bi)差角差測量"，“CT二次負荷"，“CT極性檢(jian)查"，“CT線圈(quan)電阻測(ce)量"， “PT變(bian)比"，“PT二(er)次負(fu)荷"，“PT極性檢(jian)查"和“PT線圈電阻"，也可以在(zai)該狀態(tai)下重新啟動軟(ruan)件(jian)或是關(guan)閉系(xi)統。

4.2.2 保存

保(bao)(bao)存(cun)按(an)鈕是(shi)在(zai)完成試驗以后，保(bao)(bao)存(cun)儀(yi)器試驗結果(guo)和(he)數(shu)據。在(zai)查看歷史結果(guo)時，如果(guo)用戶修(xiu)改(gai)當前的(de)顯示模式（標準或互(hu)感(gan)器等級改(gai)變），可(ke)以通(tong)過此按(an)鈕保(bao)(bao)存(cun)修(xiu)改(gai)后的(de)結果(guo)。

儀器(qi)在(zai)保存(cun)試(shi)驗結果時文件的名稱是按照如下格式(shi)進行組織(zhi)的：

年-月(yue)-日 時：分：秒 互感器編號 試(shi)驗(yan)名稱(cheng).cta

例如 2011-04-08 11：12：30 CT分析.cta

其中(zhong)時(shi)(shi)間部分(fen)是取自試(shi)驗(yan)啟(qi)動(dong)瞬間的系統時(shi)(shi)間，因(yin)此(ci)在查(cha)看歷(li)史(shi)結(jie)果狀(zhuang)態(tai)修改試(shi)驗(yan)顯示模(mo)式(shi)后保存試(shi)驗(yan)結(jie)果，此(ci)時(shi)(shi)儀器將自動(dong)覆(fu)蓋原來的文件，而不(bu)會重(zhong)新為此(ci)文件創建一個副本。

4.2.3讀取(qu)

讀取(qu)(qu)按鈕的功能是重新導入(ru)已保(bao)存的歷史數據，當用戶點擊讀取(qu)(qu)按鈕以后圖(tu)4.2所示窗(chuang)體將會被加(jia)載。

 

 

在試驗(yan)讀取(qu)界面，窗體的(de)左邊列出(chu)了當(dang)(dang)前儀(yi)器(qi)所(suo)保存(cun)的(de)所(suo)有試驗(yan)文(wen)件(jian)名稱；右邊是(shi)對保存(cun)文(wen)件(jian)的(de)操作(zuo)命(ming)令選擇；右上(shang)角(jiao)是(shi)儀(yi)器(qi)當(dang)(dang)前存(cun)儲(chu)的(de)文(wen)件(jian)計數，其內(nei)容包括當(dang)(dang)前選擇的(de)文(wen)件(jian)索引和當(dang)(dang)前存(cun)儲(chu)的(de)文(wen)件(jian)總數。

文件讀取窗體中的命令按(an)鈕包(bao)括

1)“上一頁(ye)" 對文件顯(xian)示列表(biao)中的內容(rong)進行向上翻頁

2)“下一頁" 對文(wen)件顯示列(lie)表中的內容(rong)進行向下翻頁(ye)

3)“刪(shan)除所(suo)(suo)有文件(jian)"刪(shan)除當前存儲在儀器(qi)中(zhong)的所(suo)(suo)有試驗文件(jian)

4)“刪除文(wen)件(jian)"刪除當前所(suo)選擇的文(wen)件(jian)

5)“取(qu)消"退出(chu)文件讀取(qu)窗(chuang)體

6)讀取當(dang)前所(suo)選擇的文件，儀(yi)器進入(ru)“查看歷史結果界(jie)面(mian)"，

4.2.4 儀器設置

儀(yi)器設置按鈕用于設置儀(yi)器的運行參數，點擊儀(yi)器設置按鈕圖4.3所示的窗體(ti)會被加載。

 

 

儀器(qi)設置界面中(zhong)的(de)(de)系統運行參(can)數只會反映在(zai)儀器(qi)生成的(de)(de)試(shi)驗報(bao)告中(zhong)，與試(shi)驗的(de)(de)流程控制(zhi)無關，其中(zhong)的(de)(de)各個參(can)數詳細(xi)定(ding)義如表4.1

表4.1 系統運行參數

 

參數名稱(cheng)	含義
儀器ID	儀(yi)(yi)器的(de)出廠識(shi)別號(hao)，所(suo)有的(de)儀(yi)(yi)器都具有的(de)ID
軟件ID	儀器的(de)DSP軟件系(xi)統版本號
操(cao)作人員	生成WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)，報(bao)告中顯示的操作人(ren)員名字
試驗(yan)單位	生成WORD試驗報告時，報告中顯示的試驗單位(wei)
試(shi)驗(yan)地點(dian)	生(sheng)成WORD試驗報告時，報告中顯示的試驗地點
報告頁眉(mei)	生成(cheng)WORD試驗報告時，報告頁眉部分的內容
報(bao)告頁腳	生成WORD試驗報告時，報告頁腳部分的(de)內容(rong)
生成 報告時含磁滯回路(lu)曲線	在(zai)完(wan)成CT分析試驗后(hou)，將磁(ci)滯回線包(bao)含在所生(sheng)成的WORD報告中
在誤(wu)差曲線中(zhong)使用整(zheng)數一次電流倍數	在生成誤差曲線(xian)數(shu)據時只(zhi)顯(xian)示一次電流整數(shu)倍(bei)數(shu)的(de)數(shu)值

 

其余參數均與(yu)試驗過程的(de)控(kong)制有關，但是只涉及CT測試時的試驗流程，與PT試(shi)驗沒有關系，其詳細含(han)義如表4.2所示

 

參數(shu)名(ming)稱	含(han)義
自動評估設(she)置	如果設為“關閉(bi)自動評估"，在CT分析試驗結束后，儀器給(gei)出各個參數(shu)(shu)數(shu)(shu)值，不會自動判定當(dang)前的(de)試驗結果是(shi)否符合所(suo)選標準(zhun)的(de)要(yao)求。 如果設置(zhi)僅對操(cao)作負荷進(jin)行評估，在CT分析試驗結(jie)束(shu)后，儀(yi)器除給(gei)出試驗各參數的數值(zhi)外，還會依據(ju)CT所連(lian)接(jie)負荷(he)為(wei)當前操作負荷(he)時，自動判斷各項指標是否符合(he)所選標準要求 如果設置對額定和操(cao)作負(fu)荷進行評(ping)估，在CT分析試驗結束(shu)后，儀器除給出(chu)試驗各參(can)數(shu)的數(shu)值外，還會分別(bie)對CT所(suo)連接負(fu)荷為(wei)操作負(fu)荷和額(e)定負(fu)荷時(shi)，自動判(pan)斷(duan)各(ge)項指標(biao)是否符合所(suo)選標(biao)準(zhun)要求
勵(li)磁試(shi)驗控制(zhi)	默(mo)認情況下，系統設置(zhi)為自動(dong)獲取系統的飽和電壓點，此參數用(yong)于(yu)對CT進行勵磁試驗時的(de)流程控制，儀器(qi)會根(gen)據獲(huo)取的(de)飽和電壓自動選取合適(shi)的(de)試驗頻率(lv)。如果選擇“自動獲(huo)取"則儀器(qi)在進行勵磁試驗之前會自動測量所(suo)連(lian)接CT的飽(bao)(bao)和電(dian)(dian)壓，否則儀器以設定的飽(bao)(bao)和電(dian)(dian)壓為(wei)準(zhun)進行勵磁試驗。 注意：只(zhi)有在“自動獲(huo)取"無法正確獲(huo)得(de)儀器的(de)飽和電壓或者互感器的(de)飽和電壓大于8KV時才將儀器設為人工設定(ding)模(mo)式(shi)，因為人工設定(ding)模(mo)式(shi)可能會導致不(bu)能獲得精細的勵磁曲線
顯(xian)示簡化(hua)的勵磁數據	選中時勵磁曲線數據欄目(mu)將顯示zui多30個數據(ju)點，分別為拐點前15個數據點和拐(guai)點后(hou)15個數據點(dian)，這些(xie)數據點(dian)都是從勵磁曲線上等步長截取(qu)獲(huo)得的，顯示簡化數據時可以加(jia)快生(sheng)成WORD文檔的速度 未選中(zhong)時儀器顯示實(shi)際(ji)獲取(qu)的勵磁數據點數，通常(chang)會大于100個(ge)點
1A/5A類型互感器判斷閾值	此參數適(shi)用于(yu)銘(ming)牌自動(dong)推測工(gong)作模式，當用戶選擇了(le)自動(dong)推測銘(ming)牌，并且互(hu)感(gan)(gan)器(qi)二(er)次額(e)定電流未知時，儀器(qi)以此閾(yu)值來(lai)判(pan)斷互(hu)感(gan)(gan)器(qi)類型，線圈電阻(zu)小于(yu)此閾(yu)值則認(ren)為是5A互感器，否則為1A互感器
1A互感器測量和保(bao)護類型判(pan)斷閾值	此參數適用于銘牌自(zi)動推(tui)測工作模式，當用戶(hu)選擇(ze)了自(zi)動推(tui)測銘牌，并且(qie)互感器等級(ji)未知(zhi)時，儀器以(yi)此閾值來判斷1A的互感(gan)器保(bao)護(hu)和測量(liang)類(lei)型，飽和電壓小于此閾值(zhi)則認(ren)為是測量(liang)1A互(hu)感器，否則為保護1A互(hu)感器
5A互感器(qi)測(ce)量和(he)保護類型判斷閾值(zhi)	此(ci)參數適(shi)用于銘(ming)牌自動推測工作模式，當(dang)用戶(hu)選擇了(le)自動推測銘(ming)牌，并(bing)且互感器等級未知時，儀(yi)器以此(ci)閾(yu)值(zhi)來判(pan)斷5A的互感器保護和測量類型，飽和電壓小(xiao)于此(ci)閾值則(ze)認為(wei)是測量5A互感器，否則為保護5A互(hu)感(gan)器(qi)
勵磁數據查找條件	設置(zhi)為通過(guo)電(dian)壓查(cha)找(zhao)電(dian)流(liu)時 在勵(li)磁(ci)曲線數據欄(lan)目中，輸入勵(li)磁(ci)電(dian)壓數值儀器自(zi)動查找對應的勵(li)磁(ci)電(dian)流數值 位置為通(tong)過電流查找電壓時 在(zai)勵磁(ci)(ci)曲線數(shu)據欄(lan)目中(zhong)，輸入勵磁(ci)(ci)電(dian)流數(shu)值儀器自動(dong)查找對應的勵磁(ci)(ci)電(dian)壓數(shu)值

 

4.2.5 語言選擇

CT分析儀支持漢語(yu)(yu)和英(ying)文兩種(zhong)語(yu)(yu)言，此按(an)鈕(niu)用于系(xi)統語(yu)(yu)言的選擇和切(qie)換。點擊此按(an)鈕(niu)后(hou)圖(tu)4.4所(suo)示窗(chuang)體(ti)(ti)被加(jia)載。選擇簡體(ti)(ti)中文后(hou)儀器的(de)工作語言為中文，選擇English則(ze)儀器的(de)工作語言(yan)變成英(ying)文

 

 

4.2.6 CT參數設置

互(hu)感器設置按鈕用于設置被測CT銘(ming)牌參數和CT分析試驗，變比試驗的流程控制參數。點擊此按鈕后圖4.5所示(shi)窗體(ti)被加(jia)載。此(ci)窗體(ti)中各參(can)(can)數的詳細定義請參(can)(can)見第5.2節參數設置

 

4.2.7 數據導出

數據(ju)導出(chu)(chu)按(an)鈕用于導出(chu)(chu)已(yi)保存在(zai)儀器上的(de)試驗(yan)數據(ju)，WORD報告等(deng)文件。點擊此按鈕(niu)后圖(tu)4.6所示的窗體被加載。

左邊(bian)的列表框展(zhan)示的是當前存(cun)儲在儀器(qi)上文(wen)件(jian)(jian)列表，在文(wen)件(jian)(jian)類型選(xuan)擇下拉框中選(xuan)擇不同(tong)的文(wen)件(jian)(jian)類型，則在左邊(bian)列表框中將展(zhan)示相應的文(wen)件(jian)(jian)，文(wen)件(jian)(jian)類型包(bao)括“*.Cta“格式數據文件，WORD試驗報告文(wen)件和Jpg圖(tu)片文(wen)(wen)件(jian)(jian)。文(wen)(wen)件(jian)(jian)索(suo)引和(he)文(wen)(wen)件(jian)(jian)總數計數器(qi)(qi)展示(shi)儀器(qi)(qi)中存儲(chu)的當前類(lei)型文(wen)(wen)件(jian)(jian)總數和(he)現(xian)在(zai)所選擇(ze)(ze)的文(wen)(wen)件(jian)(jian)索(suo)引，通過鼠標點(dian)擊可以同時(shi)(shi)選擇(ze)(ze)多個文(wen)(wen)件(jian)(jian)，文(wen)(wen)件(jian)(jian)被(bei)選擇(ze)(ze)時(shi)(shi)顯示(shi)為藍(lan)色底色。

數據(ju)導(dao)出窗體中(zhong)的(de)操作命令(ling)按鈕包括：

1)“上一頁(ye)" 對文件顯示(shi)列表中的內容進行(xing)向上翻頁

2)“下一頁(ye)" 對文件顯示列(lie)表(biao)中的(de)內容進行向下(xia)翻頁

3)“清空存儲器"，指刪除插入儀(yi)器的U盤中“試驗數(shu)據"目錄下的所有文(wen)件

4)“刪(shan)除所有文(wen)件"刪(shan)除當前存儲在儀(yi)器中(zhong)的所有試驗(yan)文(wen)件

5)“刪除文(wen)件"刪除存儲在儀器中當前(qian)所選擇的(de)文(wen)件

6)“導(dao)(dao)出(chu)所(suo)(suo)有文(wen)件"，將當前左邊窗(chuang)體中(zhong)的所(suo)(suo)有試(shi)驗文(wen)件導(dao)(dao)出(chu)至U盤(pan)中。如果當(dang)前(qian)選擇的是“*.Cta"，則左邊列表框(kuang)中的所有“*.Cta"文件都(dou)會被導出至(zhi)U盤的“試驗數據\儀器試驗數據"文件目錄下(xia)，如果(guo)當前選擇的是(shi)“.Doc"文件，則左邊列表框中的所(suo)有(you)“*.Doc"文件都會被(bei)導出(chu)至U盤的(de)“試驗數(shu)據\WORD試驗報告(gao)"目錄(lu)下。如果當前選擇的是“.Jpg"文(wen)件，則左邊列表框中的所有“*.Jpg"文件(jian)都會被導(dao)出至U盤的“試驗數據\Jpg圖形文件(jian)"目(mu)錄下(xia)

7)“導出文件"，將當前所(suo)選擇(ze)的文件導出至U盤對應的目錄下。

8)“取消"退出(chu)文件導出(chu)窗(chuang)體

 

4.2.8 使用幫助

此按鈕(niu)可以打開儀器的使(shi)用幫(bang)助文(wen)檔(dang)，使(shi)用幫(bang)助文(wen)檔(dang)以“*.Pdf"的文件(jian)格式存儲在儀器中(zhong)，當用戶點擊此按(an)鈕后使用幫(bang)助文檔會被打開。

 

4.3 主工作區

位于軟(ruan)件(jian)中部的(de)所有區(qu)域是軟(ruan)件(jian)的(de)主工(gong)作區(qu)，儀(yi)器處于不(bu)同(tong)試驗狀態時主工(gong)作區(qu)的(de)內(nei)容會被切(qie)換(huan)，例如當儀(yi)器處于&ldquo;等(deng)待(dai)新建(jian)試驗狀態"時儀(yi)器主工(gong)作區(qu)顯(xian)示(shi)試驗選擇(ze)按鈕(niu)等(deng)如圖4.1. 當(dang)儀(yi)器處(chu)于(yu)“查看結(jie)果"或&ldquo;查看歷史結(jie)果"時，并且選擇(ze)了當(dang)前(qian)展(zhan)示模(mo)式為(wei)勵磁曲線時，儀(yi)器顯示如圖4.7所示

 

 

4.4 儀器運(yun)行狀(zhuang)態信息欄

儀器狀態信(xin)息欄展示的信(xin)息有：

1）儀器的當(dang)前(qian)運行狀態，如“等(deng)待新建試(shi)驗"，“等(deng)待試(shi)驗"，“查看(kan)結(jie)果"，“查看(kan)歷(li)史(shi)結(jie)果"，“運行"，“等(deng)待查看(kan)歷(li)史(shi)結(jie)果"等(deng)。

2）除(chu)了儀器的(de)運行狀態外還有對(dui)儀器內部的(de)工(gong)控(kong)機與DSP之間(jian)通信的標識，如果DSP與工控機之間通信成功則儀器在狀態(tai)信息(xi)欄顯(xian)示聯機，否(fou)則儀器顯(xian)示為(wei)脫機狀態(tai)。

3）當(dang)前(qian)試驗項目(mu)，其內(nei)容(rong)為當(dang)前(qian)所選擇的(de)試驗項目(mu)名稱(cheng)，如&ldquo;CT分(fen)析"，“比差(cha)角差(cha)測量"等

4）系(xi)統(tong)日(ri)期和時(shi)間(jian)，當儀(yi)器處于聯機非運行狀(zhuang)態時(shi)，此欄目(mu)會顯示當前的系(xi)統(tong)日(ri)期，系(xi)統(tong)時(shi)間(jian)和當前面板處的環境溫度

5）環境(jing)溫度。儀器(qi)每隔2分(fen)鐘會更(geng)新一(yi)次(ci)環境溫(wen)度測量，所測得的環境溫(wen)度將會被用于(yu)計算75攝氏(shi)度的參考(kao)線圈電阻

4.5 試驗控制(zhi)欄

試(shi)(shi)(shi)驗控制(zhi)欄里具(ju)有“試(shi)(shi)(shi)驗參數(shu)設置"和“開始(shi)試(shi)(shi)(shi)驗"按鈕(niu)，當(dang)儀器處于等(deng)待(dai)試(shi)(shi)(shi)驗狀態時(shi)點擊“試(shi)(shi)(shi)驗參數(shu)設置"按鈕(niu)，儀器將會(hui)顯示對(dui)應的(de)試(shi)(shi)(shi)驗參數(shu)設置窗體，在這些(xie)窗體中(zhong)用戶(hu)可以(yi)設置當(dang)前試(shi)(shi)(shi)驗的(de)控制(zhi)參數(shu)。

“開(kai)始試驗(yan)(yan)"按(an)鈕(niu)用于(yu)啟動和停(ting)止當前的(de)(de)試驗(yan)(yan)，當用戶(hu)從“等(deng)待試驗(yan)(yan)"或“查(cha)看(kan)結果(guo)"狀(zhuang)態(tai)點(dian)擊“開(kai)始試驗(yan)(yan)"按(an)鈕(niu)后，儀器(qi)進入“運(yun)行"狀(zhuang)態(tai)，對應的(de)(de)試驗(yan)(yan)會(hui)被啟動，該(gai)按(an)鈕(niu)的(de)(de)標識(shi)變(bian)成(cheng)(cheng)“停(ting)止試驗(yan)(yan)"，再(zai)次點(dian)擊該(gai)按(an)鈕(niu)或試驗(yan)(yan)自動完成(cheng)(cheng)后，儀器(qi)進入“查(cha)看(kan)結果(guo)"狀(zhuang)態(tai)，對應的(de)(de)結果(guo)參數被自動計算并展示。

注意：當儀器(qi)(qi)處于&ldquo;查看歷(li)史結果(guo)(guo)"時，如果(guo)(guo)需要(yao)運行試驗必(bi)須首先點擊新建試驗，讓儀器(qi)(qi)進入到“等待(dai)試驗界面"，然(ran)后按照(zhao)“等待(dai)新建試驗"->“等待試驗"->“運行"->“查看結果"的流(liu)程完成試驗(yan)項目。

4.6 儀器的啟(qi)動與(yu)關閉

打開儀(yi)器面板的電源后(hou)，儀(yi)器的軟件系統被自動加載，儀(yi)器進入“等待新建(jian)試驗"狀態，開機過程完成(cheng)。

如果(guo)要(yao)關(guan)(guan)閉(bi)儀(yi)器(qi)，請首先通過軟(ruan)件界面(mian)的“關(guan)(guan)閉(bi)系統(tong)"按鈕關(guan)(guan)閉(bi)儀(yi)器(qi)。等待儀(yi)器(qi)顯(xian)示(shi)屏上提示(shi)“It is safe to shutdown now"時(shi)再切斷儀(yi)器的電源(yuan)。

注意：緊急情況時(shi)，請直接切斷儀(yi)器(qi)的供電電源

 

第(di)五章(zhang) 試驗操(cao)作(zuo)

5.1 試驗(yan)運行(xing)的一(yi)般(ban)流程(cheng)

如第四章中的描述(shu)儀器的軟(ruan)件運行可以分為“等待(dai)新建試(shi)驗"，“等待(dai)試(shi)驗"，“查(cha)看結(jie)果"，“運行"，“查(cha)看歷(li)史(shi)(shi)結(jie)果"和“等待(dai)查(cha)看歷(li)史(shi)(shi)結(jie)果"6種狀(zhuang)態。軟件運行的(de)幾種常見的(de)流程如下(xia)：

1） 儀器(qi)開機以后進入“等待(dai)新建試驗"

“等待新建試(shi)驗"->“等待(dai)試驗"->“運行"->“查看結果"

此流程的描述為儀器首先進(jin)入(ru)“等(deng)待新建試驗(yan)"狀態(tai)，用戶在此狀態(tai)選擇要(yao)進(jin)行的試驗(yan)，如CT分析，然后設(she)置(zhi)CT分析試(shi)驗(yan)的各個參(can)數，儀(yi)(yi)器(qi)轉而(er)進入(ru)“等待試(shi)驗(yan)"狀(zhuang)態(tai)，用戶再點擊“開始試(shi)驗(yan)按鈕(niu)"，試(shi)驗(yan)被啟動(dong)，等待試(shi)驗(yan)完成后自動(dong)停止，儀(yi)(yi)器(qi)自動(dong)計算各個參(can)數，并進入(ru)“查看(kan)結(jie)果"狀(zhuang)態(tai)。

2）從“查看結果"狀態開始(shi)另一項試驗(yan)

“查看結果(guo)"->“等待新(xin)建試驗"->“等(deng)待試驗"->“運(yun)行"->“查看(kan)結果"

儀(yi)器(qi)在(zai)完成一項(xiang)試驗(yan)后需要進(jin)行另外一個試驗(yan)項(xiang)目，則此(ci)流按(an)照此(ci)流程進(jin)行。在(zai)“查看結果"狀態點擊“新建試驗(yan)"按(an)鈕，儀(yi)器(qi)進(jin)入“等待(dai)新建試驗(yan)狀態"，后面的過(guo)程同第1項描述(shu)*

重(zhong)復(fu)當前(qian)的試驗

“查看結果"->“運行"->“查看結果"

完成一項試(shi)驗后(hou)，以相同的參數重復這一試(shi)驗項目，則在“查(cha)看結(jie)果"狀態直接點(dian)擊“開始試(shi)驗"按(an)鈕(niu)即可(ke)。

5.2 CT分析

5.2.1 CT分析試驗參(can)數(shu)設(she)置

CT分(fen)析試(shi)驗項目的參數設置界面如圖5.1所示。CT分析(xi)試(shi)驗和比差角差試(shi)驗的(de)參數設置(zhi)界(jie)面是*的(de)，比差角差試(shi)驗所(suo)有需設置(zhi)的(de)參數項目在CT分析中(zhong)也需要設(she)置。

CT分(fen)(fen)析的參數設置(zhi)分(fen)(fen)為2部分：與(yu)互感器等(deng)級(ji)相關的參數(shu)和與(yu)互感器等(deng)級(ji)無(wu)關的參數(shu)。其中表5.1描述了與互(hu)感器(qi)等(deng)級無關的各(ge)參數。表5.2至表5.8所(suo)列出的試(shi)驗參數(shu)，是針對于不同等級的互感器需要額外配置的參數(shu)。

注意：當互感器的飽和電(dian)壓大(da)于8KV時，請在系統參(can)數設(she)置界面選擇(ze)人(ren)工設(she)定勵磁(ci)試驗飽和電壓，詳情見系統參(can)數設(she)置

5.2.2 CT分析試驗(yan)流程

進行CT分析試驗時，用戶需要按(an)照如下(xia)步驟進(jin)行：

1)在遵循(xun)安全規則(ze)的前(qian)提下，按照CT分析的接(jie)線圖，完成儀器和互(hu)感器的連接(jie)

2)在軟件上選擇“CT分析(xi)"試驗項目

3)完成(cheng)互感器的各(ge)種(zhong)試驗參(can)數(shu)設置(zhi)

4)啟動(dong)試驗，等(deng)待試驗完成

5)查看結(jie)果

注意(yi)：對于飽和電壓(ya)很(hen)高的(de)(de)互(hu)感(gan)器，儀器將會以很(hen)低(di)的(de)(de)頻率檢測(ce)互(hu)感(gan)器的(de)(de)勵磁特性(xing)（可(ke)能低(di)至0.25Hz），因此(ci)(ci)此(ci)(ci)時(shi)(shi)完成整(zheng)個試(shi)驗所需的時(shi)(shi)間可能較長（zui長會達到(dao)半個小時(shi)(shi)），請耐心等待。嚴(yan)禁在試(shi)驗過程(cheng)中斷(duan)開測(ce)試(shi)線的連接

在執(zhi)行CT分(fen)析(xi)試驗(yan)時，儀器會按照如下過程完成整個試驗(yan)：

線圈(quan)電阻檢測->一次消磁(ci)->二次消(xiao)磁->精細調壓測(ce)量比差(cha)角差(cha)->粗調測量比差角(jiao)差->測量互感器(qi)勵磁(ci)曲線

1)如果用(yong)戶(hu)選擇的工(gong)作模式是非(fei)自動獲(huo)取飽和電壓則(ze)一次消磁過程(cheng)將被跳(tiao)過

2)如(ru)果互感器的飽(bao)和電壓較(jiao)低，則(ze)粗調(diao)測(ce)量比差角差的流程(cheng)將被(bei)跳(tiao)過

在(zai)試(shi)驗(yan)過程中，左下角會提(ti)示當前儀器的功率(lv)輸出和試(shi)驗(yan)運行(xing)狀態。

在參數(shu)設置界面(mian)，如果(guo)選(xuan)擇“快速試(shi)驗"，儀器的(de)記錄(lu)點數(shu)較少且升壓(ya)過程中電壓(ya)步(bu)進(jin)值較大(da)，因此對于剩磁系數(shu)高，且飽和電壓(ya)低（<250V）的互感器勵磁曲線會出現不平滑現象，此時因選擇(ze)標準試驗。

選擇(ze)標準試(shi)驗(yan)時(shi)儀器記錄的數據點多，勵磁曲(qu)線以(yi)及計算參數更，但是選擇(ze)標準試(shi)驗(yan)時(shi)，試(shi)驗(yan)時(shi)長是快速(su)試(shi)驗(yan)的2倍以(yi)上。

 

 

圖5.1 CT分析試驗參數設置

 

參數名稱	參數說明
是否推測信(xin)息	用于CT分析和(he)變(bian)比試驗項目(mu)控制(zhi)，如(ru)果選(xuan)擇(ze)為輸入已知銘(ming)牌(pai)，則儀(yi)器不(bu)會自動(dong)(dong)推測(ce)銘(ming)牌(pai)信(xin)息(xi)(xi)，如(ru)果選(xuan)擇(ze)為自動(dong)(dong)猜(cai)測(ce)銘(ming)牌(pai)則儀(yi)器會根據(ju)缺損的信(xin)息(xi)(xi)自動(dong)(dong)推測(ce)“額定一(yi)次(ci)電(dian)流(liu)(liu)"，“額定二次(ci)電(dian)流(liu)(liu)"和(he)“互感器等級"
生產廠家(jia)	此項目僅用于(yu)生(sheng)成WORD試驗(yan)報告(gao)時對互感器進行(xing)標識，與試驗(yan)流程無關
互感器型號	此項目(mu)僅用于生成(cheng)WORD試驗報告(gao)時對互(hu)感器進行標識(shi)，與試驗流程無(wu)關
互感器(qi)編號(hao)	此項目僅用于生成WORD試驗(yan)報告(gao)時對互感器進(jin)行標識和保(bao)存(cun)(cun)試驗(yan)時組成保(bao)存(cun)(cun)的文件名稱，與試驗(yan)流程無(wu)關
額定一次電流	設置互感器(qi)的額(e)定一(yi)次(ci)(ci)電流(liu)值，如果(guo)選(xuan)擇了自動推測銘牌且額(e)定一(yi)次(ci)(ci)電流(liu)設為未(wei)知，儀器(qi)將自動猜測額(e)定一(yi)次(ci)(ci)電流(liu)值
額(e)定二次電流	設置互感器(qi)的額定二(er)次電(dian)流(liu)值，如果(guo)選擇了自動推(tui)測(ce)銘牌且(qie)額定二(er)次電(dian)流(liu)設為未知，儀器(qi)將自動猜測(ce)額定二(er)次電(dian)流(liu)值
額定頻率	額定頻(pin)率選項(xiang)用于比差(cha)角差(cha)測(ce)量試驗項(xiang)目的控(kong)制，如果選擇了50Hz，儀器將(jiang)以50Hz的頻率測量互感(gan)器的比(bi)差角(jiao)差，如果選擇(ze)60Hz則(ze)儀器以60Hz頻(pin)率測量互(hu)感器的比差和角差
誤差曲線計算(suan)點	對于IEC60044-1的(de)保護類型互感器(qi)，儀(yi)器(qi)將計算此(ci)點處的(de)誤(wu)差曲線
測試標準選擇	選(xuan)擇不(bu)同的(de)(de)測試標準(zhun)，儀器將獲得不(bu)同的(de)(de)測試結果參數，對(dui)于(yu)相同的(de)(de)結果參數其(qi)定義也可能不(bu)一樣，例如(ru)拐點(dian)電壓和拐點(dian)電流(liu)
互感器等級	在選(xuan)擇了測試(shi)標準(zhun)后，選(xuan)擇互感器在此標準(zhun)下的(de)等級(ji)定義(yi)。
二次負荷	CT分(fen)析和比差角(jiao)差試驗的(de)計(ji)算參(can)數(shu)(shu)與所接(jie)負荷有關，所以不同(tong)的(de)負荷值會(hui)得到不同(tong)的(de)測試參(can)數(shu)(shu)，因此儀器的(de)計(ji)算結果(guo)(guo)會(hui)給出互感器的(de)額(e)定負荷條(tiao)件和操作負荷條(tiao)件下的(de)兩種結果(guo)(guo)。 額(e)定負荷：是指(zhi)互感器(qi)銘牌上(shang)所標識的zui大允許負荷值 操作(zuo)負(fu)荷：是互感器當(dang)前所接負(fu)荷的實測值 負荷范圍(wei)：0~100.00，功率因數范圍(wei)：0~1.00
75攝氏度線圈電阻	銘(ming)牌上所標識的互感器在75攝(she)氏(shi)度時線圈電阻值，電阻范圍0~100.000

 

圖5.2 IEC60044-1/GB1208計量類電(dian)流(liu)互(hu)感器的參(can)數定義

 

名(ming)稱	參數說明
儀器(qi)保安系(xi)數FS	的(de)儀器保護系數(shu)，此參(can)數(shu)影響(xiang)自動評(ping)估(gu)的(de)結果，參(can)數(shu)范圍(wei)1~300
擴展電流計(ji)算點Ext	需要額外(wai)計算(suan)比(bi)差(cha)角差(cha)的電流點(dian)，此(ci)計算(suan)結(jie)果在比(bi)差(cha)角差(cha)試驗(yan)結(jie)果中展(zhan)示，參數范圍0%~400%

 

圖(tu)5.3 IEC60044-1/GB1208 的5P/10P/5PR/10PR類電流互感器的參數定義

 

名(ming)稱	參數(shu)說明
準確限值(zhi)系數(shu)ALF	的(de)準(zhun)確限值系數，此參(can)數影響自動(dong)評估(gu)的(de)結果，參(can)數范圍：1~300
zui大(da)短(duan)路(lu)電流	互(hu)感器一次(ci)側所(suo)在回路可能發生(sheng)的zui大短路電流(liu)

 

圖5.4 IEC60044-1/GB1208 的PX類(lei)電流(liu)互感器(qi)的(de)參數定(ding)義

 

名稱	參數說明
準確(que)限值(zhi)系數ALF	的準確(que)限值(zhi)系數，此參數影響自動評估的結果(guo)，參數范圍：1~300
面積(ji)系數	的(de)面積增大系數(shu)(shu)，此參數(shu)(shu)影響自動(dong)評估的(de)結(jie)果，參數(shu)(shu)范(fan)圍：1~300
準(zhun)確限(xian)制電壓(ya)	銘牌標識(shi)的(de)準確限制電壓，此參數影響(xiang)自動評估(gu)結果，參數范(fan)圍(wei)0~10000.00
準確限制電流	準(zhun)確限制電流，此參(can)數(shu)影響自動評估結果(guo)，參(can)數(shu)范(fan)圍0~9.9999A

 

圖5.5 IEC60044-6 S互感器(qi)參數設置

 

名(ming)稱	參數說明
對稱短路(lu)電流系數Kssc	的(de)對稱短路電流(liu)系數Kssc，此參數(shu)影響結(jie)(jie)果參數(shu)計算(suan)和自(zi)動(dong)評估結(jie)(jie)果，參數(shu)范圍：1~300
暫(zan)態(tai)面積系數Ktd	的暫態面(mian)積系數(shu)Ktd，此參數(shu)影響結果參數(shu)計算和(he)自動評估結果，參數(shu)范圍：1~300
一次時間(jian)常數(shu)Tp	的一次時間(jian)常數，此(ci)參數影響結果參數計(ji)算和自(zi)動評(ping)估結果，參數范(fan)圍(wei)：0~10000ms
準確限制(zhi)電壓(ya)Val	銘牌標(biao)識的準確限制電壓，此參數(shu)影響(xiang)結(jie)果參數(shu)計算和自動評估結(jie)果，參數(shu)范圍：0~10000V
準(zhun)確限制電(dian)流(liu)Ial	銘(ming)牌標識(shi)的準確限制電(dian)流，此參(can)數(shu)影(ying)響(xiang)結(jie)果(guo)(guo)參(can)數(shu)計算和自動(dong)評估結(jie)果(guo)(guo)，參(can)數(shu)范圍：0~9.9999A

 

圖5.6 IEC60044-6 X/ Y互感器參數設置

 

名稱	參數說明
對(dui)稱短路電(dian)流系(xi)數Kssc	的對稱(cheng)短路電流系(xi)數Kssc，此參數(shu)影響(xiang)結果(guo)參數(shu)計算和自動評估結果(guo)，參數(shu)范圍：1~300
暫態面積系(xi)數 Ktd	的暫(zan)態面(mian)積系(xi)數(shu)Ktd，此參(can)數影響結(jie)果(guo)參(can)數計算(suan)和自(zi)動評估結(jie)果(guo)，參(can)數范圍(wei)：1~300
一次時間常數 Tp	的一次時間常數，此參數影響(xiang)結果參數計算和自動評估結果，參數范圍：0~10000ms
二(er)次時(shi)間常數Ts	的(de)二次時間常數(shu)，此參(can)(can)數(shu)影響自動評估的(de)結(jie)果，參(can)(can)數(shu)范圍：0~100000ms
工(gong)作循(xun)環選(xuan)擇	選擇工作(zuo)循環C-O或C-O-C-O，此參數影響(xiang)結果參數計算和自動評估(gu)結果
*次電流(liu)時限 t1	的(de)準確限(xian)值(zhi)在t-al1 時(shi)間內不(bu)能達到，范圍：0～10000ms，此參數(shu)影響結果(guo)參數(shu)計算和自動(dong)評估(gu)結果(guo)
第二次電流(liu)時限 t2	的準確限值在t-al2 時間內(nei)不(bu)能達到，范圍：0～10000ms，此(ci)參數影(ying)響結果參數計(ji)算和自動(dong)評估結果
*次工作循環的準確限(xian)值的允許時間 t-al1	范圍(wei)：0～10000ms，此(ci)參數影響(xiang)結果參數計算和自動評估結果
第二次工(gong)作循環的(de)(de)準確限值的(de)(de)允許時間t-al2	范(fan)圍(wei)：0～5000ms，此參數(shu)影(ying)響結(jie)果參數(shu)計算(suan)和自動評估(gu)結(jie)果
*次打開和重合閘的延時 tfr	范圍(wei)：0～5000ms，此參數(shu)(shu)影響結果(guo)(guo)參數(shu)(shu)計算和自動評估結果(guo)(guo)

 

圖5.7 IEC60044-6 Z互感器(qi)參數設置

 

名稱	參數說明
對稱短路電流系數(shu)Kssc	的對(dui)稱短路(lu)電流系數Kssc，此(ci)參數(shu)影響結果參數(shu)計算(suan)和自動評估結果，參數(shu)范圍(wei)：1~300
暫(zan)態面積(ji)系數 Ktd	的暫態面積系數Ktd，此參(can)數影響(xiang)結(jie)果(guo)參(can)數計算和自(zi)動評(ping)估(gu)結(jie)果(guo)，參(can)數范圍：1~300
一次(ci)時間常數 Tp	的一(yi)次(ci)時間常數(shu)(shu)，此參(can)(can)數(shu)(shu)影(ying)響結果參(can)(can)數(shu)(shu)計算和自動評(ping)估結果，參(can)(can)數(shu)(shu)范圍：0~10000ms
二次時間常(chang)數(shu)Ts	的二(er)次時間常數，此(ci)參數影響自(zi)動評估的結果，參數范(fan)圍：0~100000ms

 

圖5.8 C57.13 互(hu)感器(qi)參數設置

 

名稱	參(can)數說明(ming)
額定熱電流系數RF	銘牌標識的額定二次熱電流系(xi)數，如果(guo)此(ci)參數不為(wei)0，將(jiang)計算額定電流乘以此系數(shu)后所(suo)得測量點的比差和角差，此參(can)數(shu)影響結果(guo)計算和自動評估。參(can)數(shu)范(fan)圍：0~10.00
額(e)定(ding)二(er)次端(duan)電壓VB	銘牌標識的(de)額定二次端電壓，此參數(shu)影響參數(shu)計算和自動評估(gu)結(jie)果。參數(shu)范(fan)圍：0~10000.0V

 

5.2.3 CT分(fen)析試(shi)試(shi)驗結果

當CT分析試(shi)驗完(wan)成后(hou)圖4.7所示的勵磁(ci)曲線將會(hui)被首先(xian)顯示，通過圖(tu)中的試驗結果項目(mu)切換(huan)(huan)按鈕，可(ke)以(yi)更換(huan)(huan)當前的試驗結果內(nei)容，各(ge)個(ge)按鈕的說明如下：

1 磁滯回線與數據

點擊磁滯回線按鈕(niu)后，被測(ce)互感器鐵芯(xin)的飽和磁滯回線將(jiang)會(hui)顯示在屏幕上如(ru)圖(tu)5.2.1所示(shi)，該曲(qu)線(xian)為被測互感(gan)器(qi)在某(mou)測試頻率下(xia)所獲得(de)的(de)(de)(de)飽和磁(ci)(ci)滯(zhi)回(hui)路曲(qu)線(xian)，測試頻率顯示(shi)在界面的(de)(de)(de)左側，曲(qu)線(xian)的(de)(de)(de)橫軸為瞬時電流，縱軸為該電流下(xia)對應(ying)的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)通量(liang)（單位是韋伯），磁(ci)(ci)滯(zhi)回(hui)線(xian)由上升曲(qu)線(xian)和下(xia)降(jiang)曲(qu)線(xian)組成，點(dian)擊“啟動(dong)數(shu)據分(fen)析"可以獲取曲(qu)線(xian)上某(mou)一(yi)電流點(dian)對應(ying)的(de)(de)(de)上升曲(qu)線(xian)數(shu)據和下(xia)降(jiang)曲(qu)線(xian)數(shu)據，點(dian)擊磁(ci)(ci)滯(zhi)回(hui)線(xian)數(shu)據可以查看所有(you)測量(liang)點(dian)的(de)(de)(de)電流值和磁(ci)(ci)通量(liang)數(shu)值

 

 

2 磁化(hua)曲(qu)線(xian)數據(ju)

點(dian)擊磁化曲線數據后，圖5.2所示(shi)的(de)(de)界面將會被加(jia)載。磁(ci)化(hua)曲線所對(dui)應的(de)(de)磁(ci)化(hua)數(shu)據點(dian)將在(zai)(zai)本窗體中(zhong)(zhong)展現，拖(tuo)動列表框的(de)(de)滑動條或按(an)鍵盤的(de)(de)方向鍵，可(ke)以瀏(liu)覽(lan)所有的(de)(de)磁(ci)化(hua)曲線數(shu)據。在(zai)(zai)界面的(de)(de)下(xia)方是自(zi)動計算(suan)得(de)到的(de)(de)磁(ci)化(hua)曲線的(de)(de)拐點(dian)電(dian)壓和拐點(dian)電(dian)流(liu)。磁(ci)化(hua)曲線數(shu)顯示(shi)界面還支持勵(li)磁(ci)電(dian)流(liu)查詢功能，只要輸入(ru)不超(chao)過zui大勵(li)磁(ci)電(dian)壓的(de)(de)一個數(shu)值在(zai)(zai)勵(li)磁(ci)電(dian)壓文本框中(zhong)(zhong)，分析儀自(zi)動計算(suan)并顯示(shi)其對(dui)應的(de)(de)勵(li)磁(ci)電(dian)流(liu)值。

 

 

3 磁化(hua)曲線

 

 

磁化曲線的界(jie)面如圖(tu)4.7所(suo)示(shi)，展示(shi)的(de)內容包括，自動計算的(de)拐(guai)點(dian)電(dian)壓，拐(guai)點(dian)電(dian)流，磁(ci)化曲(qu)線(xian)圖，通過“拐(guai)點(dian)顯示(shi)"復選框，可以(yi)顯示(shi)和隱藏拐(guai)點(dian)在(zai)磁(ci)化曲(qu)線(xian)上的(de)位置。

在磁化曲線展(zhan)示界面(mian)選擇“啟動數據分析"后，可(ke)以通過(guo)定位線獲取當前位置(zhi)對應的磁化電流和(he)磁化電壓值，通過(guo)“<<左移"，“>>右移"和(he)&ldquo;鼠標(biao)點擊(ji)"可以(yi)改變(bian)定位線(xian)(xian)的位置。“鼠標(biao)點擊(ji)"是指在“啟動數據分析(xi)"后(hou)通過(guo)鼠標(biao)或者(zhe)觸摸屏點擊(ji)磁化曲線(xian)(xian)展(zhan)示(shi)區域，則定位線(xian)(xian)會移動至點擊(ji)處的X坐標。

點擊(ji)曲(qu)線(xian)對比，還(huan)可(ke)以(yi)實現當前曲(qu)線(xian)和存(cun)儲的(de)歷史(shi)曲(qu)線(xian)對比，顯示界面如(ru)圖5.3所示。曲(qu)線比(bi)較(jiao)功能可以(yi)(yi)用(yong)來對(dui)(dui)同(tong)一(yi)互(hu)感器(qi)不同(tong)時(shi)期的(de)測量(liang)曲(qu)線進(jin)行(xing)對(dui)(dui)比(bi)，也可以(yi)(yi)用(yong)來對(dui)(dui)三相互(hu)感器(qi)的(de)勵(li)磁(ci)特性曲(qu)線進(jin)行(xing)對(dui)(dui)比(bi)。曲(qu)線對(dui)(dui)比(bi)窗口各按鈕的(de)定義(yi)如下：

讀取(qu)參考(kao)曲線1

從(cong)存儲的(de)歷史數據中讀(du)取1條(tiao)參(can)考勵磁(ci)曲線與當(dang)前曲線進行對比

讀取(qu)參考(kao)曲線(xian)2

從存儲(chu)的歷史數(shu)據中讀取1條參考(kao)勵磁曲線(xian)(xian)與當(dang)前(qian)曲線(xian)(xian)進(jin)行(xing)對比

清除參考曲線(xian)

清除當前對比窗口中所有(you)的參考曲線

復制(zhi)圖(tu)像

將(jiang)當前對(dui)比曲(qu)線圖形窗(chuang)口復制成(cheng)為JPG文(wen)件并(bing)保存，保存的(de)Jpg文件(jian)可以通(tong)過U盤導出

退出

關閉曲線(xian)對比窗口(kou)

X坐標設置

調整曲(qu)線對比圖形窗口(kou)的X坐標范圍(wei)，此參(can)數(shu)可以(yi)改變圖形的X軸縮放比例

Y坐標設置

調整曲線對比(bi)圖形窗(chuang)口的(de)Y坐標范圍，此參數可以改(gai)變圖形的(de)Y軸縮(suo)放比例

數據分(fen)析

點擊啟動數據(ju)分析后(hou)，示波窗口中會出現1條定位線，通(tong)過定位線的(de)移動可(ke)以(yi)讀取對應X軸位置的Y坐(zuo)標值(zhi)。可(ke)以通過“左移"，“右移"或者鼠標點擊改變定(ding)位線(xian)的位置

 

 

 

 

4 誤(wu)差曲線數據與誤(wu)差曲線

當選擇互感器是IEC60044-1的保護(hu)類型時，CT分析試驗還會繪(hui)制互感(gan)器的(de)誤差(cha)曲線(xian)，并列(lie)出誤差(cha)曲線(xian)數據，誤差(cha)展示方式如圖(tu)5.4. 誤差曲線數據展示(shi)如圖(tu)5.2，但(dan)是展示誤(wu)差曲(qu)線(xian)數據時(shi)沒有拐點電壓和拐點電流項目顯示，誤(wu)差曲(qu)線(xian)窗口(kou)中(zhong)的曲(qu)線(xian)對比(bi)功能和磁化(hua)曲(qu)線(xian)窗口(kou)中(zhong)的曲(qu)線(xian)對比(bi)功能*，詳(xiang)細說(shuo)明見磁化(hua)曲(qu)線(xian)的曲(qu)線(xian)對比(bi)說(shuo)明。

5 比差(cha)角差(cha)試驗(yan)結(jie)果

在CT分析試驗完成后，互感器的比差(cha)(cha)(cha)，角(jiao)差(cha)(cha)(cha)，匝(za)數比，匝(za)數比誤差(cha)(cha)(cha)，極性也會(hui)被顯示，點擊“比差(cha)(cha)(cha)與角(jiao)差(cha)(cha)(cha)"，則比差(cha)(cha)(cha)與角(jiao)差(cha)(cha)(cha)的試驗結果顯示如圖(tu)5.5所示。

比差角差結果展示界(jie)面中，各(ge)參(can)數(shu)定義如表5.9所示。

表5.9 CT分析試驗(yan)比差與角(jiao)差展示(shi)

 

參數	參數說明
額定一次電流(liu)	啟動(dong)試驗前所設置的互感(gan)器參數，用于匝數比誤差計算
額定(ding)二次(ci)電流	啟動(dong)試驗前所設(she)置的互感器參(can)數，用于匝(za)數比誤差計算
標(biao)準	啟(qi)動試(shi)驗前所設置的互(hu)感(gan)器參(can)數，比差角差檢測(ce)是按照此標準進行的
頻率	啟動試驗(yan)前所設置的(de)互感器參(can)數，比(bi)差角(jiao)差結果在此頻率下檢測得到
匝(za)數比(bi)	實測的(de)互(hu)感器(qi)匝數比
匝數比誤差	實測的匝數比與額定(ding)電流比之(zhi)間(jian)的誤差，計算(suan)公式為：（實測匝數比-額定電(dian)流比(bi)）/額(e)定電(dian)流(liu)(liu)(liu)比。其中額(e)定電(dian)流(liu)(liu)(liu)比為：（額(e)定一次電(dian)流(liu)(liu)(liu)/額定(ding)二(er)次電流）
極性	實測的電流互感(gan)器當前接線極(ji)性(xing)，顯(xian)示為同極(ji)性(xing)（即-極性）或反極性（即(ji)+極性）
額定負荷	啟動(dong)試驗前所設置(zhi)的互(hu)感器參數，用于比(bi)差角差計算
額定(ding)功率因(yin)數	啟動試驗(yan)前所(suo)設置(zhi)的互感器(qi)參數，用于比(bi)差(cha)角(jiao)差(cha)計算
額定負荷(he)比差(cha)角差(cha)	當(dang)互(hu)感器連(lian)接負荷(he)為額定負荷(he)時的比差和角度(du)差數據
操作負荷	啟動(dong)試驗(yan)前(qian)所設置的互(hu)感(gan)器參數(shu)，用于比(bi)差(cha)角差(cha)計算
操作功率(lv)因數	啟動試(shi)驗前所設置的互感器參數，用于比差(cha)角差(cha)計算
操作負荷比差(cha)(cha)角差(cha)(cha)	當互感器連接(jie)負荷(he)為(wei)操作(zuo)負荷(he)時的比差(cha)(cha)和角(jiao)度差(cha)(cha)數據

 

6 線圈(quan)電(dian)阻

CT分析試驗完成后，點擊線(xian)圈電阻按鈕則圖5.6所示的線圈電阻實測參數(shu)窗體會(hui)被加載。

7 誤差曲(qu)(qu)線數據與誤差曲(qu)(qu)線

當選擇互感器是IEC60044-1的(de)保護(hu)類型時，CT分(fen)析試驗(yan)還(huan)會(hui)繪制(zhi)互感器的誤差曲線(xian)(xian)，并列出誤差曲線(xian)(xian)數(shu)據，誤差曲線(xian)(xian)展(zhan)示方式如圖(tu)5.4. 誤差(cha)曲線數據展示(shi)如圖5.2，但是展(zhan)示(shi)誤差曲線(xian)數據時(shi)沒有拐點(dian)電壓和拐點(dian)電流項目(mu)顯(xian)示(shi)。

8 比差角(jiao)差試驗結果

在CT分(fen)析試(shi)驗(yan)完成(cheng)后，互感器的比(bi)差(cha)，角(jiao)差(cha)，匝數比(bi)，匝數比(bi)誤差(cha)，極(ji)性也會(hui)被顯示(shi)，點擊“比(bi)差(cha)與角(jiao)差(cha)"，則比(bi)差(cha)與角(jiao)差(cha)的試(shi)驗(yan)結果顯示(shi)如圖5.5所(suo)示。

 

 

在線圈電阻實(shi)測參(can)數展示界面(mian)中各個(ge)項目(mu)的定(ding)義如表5.10所示。

圖5.10 線圈電阻界面參數說明

 

名稱	參數說明
測試(shi)電流	測(ce)試時加載(zai)到二次繞組上的實際(ji)電流(liu)值
測試溫(wen)度	測試時的實際環境(jing)溫度值
測試電壓	測(ce)試時二(er)次繞組(zu)上所(suo)檢測(ce)到(dao)的電壓值(zhi)
線圈電阻	當前環境溫度(du)所檢測到的線圈電(dian)阻值
參考(kao)溫度(du)	按(an)照標準(zhun)需要換算到的溫度
線圈電阻	按照公式所(suo)換算得到的線(xian)圈(quan)電阻值，其(qi)中Kcopper使用的是銅材料(liao)的電(dian)阻溫(wen)度系(xi)數

 

9 勵磁(ci)參數(shu)與測試評(ping)估

在CT分析試驗結果展示界面中點(dian)擊“勵磁參數與測試評估"結果按鈕(niu)，則根據勵磁特(te)性所測量(liang)得(de)到的勵磁參數和自(zi)動(dong)評估結果將會(hui)以圖(tu)5.7的(de)形式展(zhan)示。勵(li)磁參(can)數計算(suan)項(xiang)目根據所選互感器(qi)等級不(bu)同而不(bu)同，詳細的(de)參(can)數說明參(can)見第6章自動評(ping)估與銘牌(pai)推測。

圖(tu)5.7界(jie)面的(de)下(xia)方(fang)是自(zi)動評(ping)(ping)估(gu)(gu)結果(guo)，自(zi)動評(ping)(ping)估(gu)(gu)結果(guo)包(bao)括單(dan)項(xiang)評(ping)(ping)估(gu)(gu)項(xiang)目，評(ping)(ping)估(gu)(gu)標準(zhun)和zui終評(ping)(ping)估(gu)(gu)結果(guo)。如果(guo)單(dan)項(xiang)評(ping)(ping)估(gu)(gu)通過則列表的(de)zui后一列顯示(shi)合(he)格(ge)，否則顯示(shi)不合(he)格(ge)并(bing)且該項(xiang)的(de)顏色(se)會變成紅色(se)。詳細的(de)評(ping)(ping)估(gu)(gu)說明(ming)和評(ping)(ping)估(gu)(gu)條件(jian)請參見“第6章(zhang)自動評估與(yu)銘牌推測"。

 

 

5.3 CT比差(cha)角差(cha)測量

5.3.1 比差角(jiao)差測量試驗(yan)參數設置

比差(cha)角差(cha)測量試驗的(de)參數設置界面(mian)與CT分析參(can)數(shu)設置界面(mian)和設置項目*，詳情請參(can)見5.2.1CT分析參數設置章節(jie)

5.3.2比差角(jiao)差試驗流程

進行比差角差測量試驗時，試驗的(de)步驟(zou)與(yu)CT分(fen)析*，詳情請參照(zhao)5.2.2CT分析試驗流程(cheng)章節。CT比差角(jiao)差測量時典型的試驗流程如下“

線(xian)圈電阻檢測->一次消(xiao)磁->二(er)次消磁(ci)->精細調壓測量比差角(jiao)差->粗調測(ce)量(liang)比差(cha)角差(cha)

1）如果用戶選擇(ze)的工作模式是非自動獲取飽和電壓則一次消(xiao)磁過程將被(bei)跳過

2）如果互感器的飽(bao)和電壓(ya)較低，則(ze)粗調(diao)測量比差(cha)角差(cha)的流程(cheng)將被跳(tiao)過

在試(shi)驗過程中，左下角會提示當前儀器的功(gong)率(lv)輸出和試(shi)驗運行狀態。

5.3.3 比(bi)差(cha)角(jiao)差(cha)試驗結果展示

比差(cha)角差(cha)試(shi)驗結果(guo)展(zhan)示(shi)與CT分析試驗結果展(zhan)(zhan)示(shi)(shi)中的(de)&ldquo;比差角差"結果展(zhan)(zhan)示(shi)(shi)部(bu)分是**的(de)，詳情請參見5.2.3 CT分析試驗結(jie)果展示(shi)

5.4 CT線(xian)圈電阻測量

CT線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)試(shi)(shi)驗只需設(she)置(zhi)互感器編號。選擇線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)后，儀器給出(chu)試(shi)(shi)驗的連線參考圖。啟動試(shi)(shi)驗，儀器輸出(chu)0.5A直流(liu)電(dian)流(liu)對線(xian)(xian)圈進行(xing)充(chong)電(dian)，當(dang)線(xian)(xian)圈電(dian)阻值(zhi)穩定以后試驗(yan)自(zi)動停(ting)止，并(bing)記錄(lu)停(ting)止時刻的(de)線(xian)(xian)圈電(dian)阻值(zhi)和環(huan)境溫(wen)度(du)值(zhi)（儀器面板部位(wei)帶有(you)溫(wen)度(du)傳感器，用于測量當(dang)前的(de)環(huan)境溫(wen)度(du)）。

試驗結束后儀器還會自(zi)動計(ji)算溫度為75攝氏(shi)度(du)時的參(can)考電阻值。

試驗(yan)完成后結果展(zhan)示方式與5.2.3章節中的線(xian)圈電阻展示頁面**。

5.5 CT極性檢查

CT極性(xing)試驗(yan)只需(xu)設置互感器(qi)(qi)編(bian)號。選(xuan)擇極性(xing)檢查試驗(yan)后(hou)，儀器(qi)(qi)給出試驗(yan)的(de)連(lian)線參考圖。啟動(dong)試驗(yan)后(hou)，儀器(qi)(qi)輸出交流正(zheng)弦電(dian)壓(ya)至(zhi)CT二次繞組，并測(ce)量CT一次側繞組的電壓，當CT一次繞組電(dian)壓超過測量閾值或(huo)CT二次電壓輸出至zui大電壓時，儀(yi)器(qi)計算此時的CT極性。儀器按照如下標準來判定被測CT的極性：

90度>當一(yi)次電壓(ya)(ya)與二次電壓(ya)(ya)相(xiang)角差>-90度(du) 時計算結果為同極性(xing)（-極性），否則為反極性（+極性）

極性檢查試驗(yan)完(wan)成后，試驗(yan)結果如圖5.8所示。

 

 

5.6 CT二(er)次負(fu)荷測量

5.6.1 CT二次負荷測量參數設置

二次負荷測(ce)量(liang)的試驗參數設置項目(mu)包括互感器編號，測(ce)試電流，測(ce)試頻率，選擇二次負荷測(ce)量(liang)后圖5.9所(suo)示的(de)參(can)數設置窗體將會(hui)被(bei)加載。啟動二次(ci)負(fu)荷試驗后(hou)儀(yi)器會(hui)根據所(suo)選擇的(de)參(can)數輸(shu)出一(yi)個恒定的(de)正弦電流至(zhi)CT二次(ci)負荷回路。

 

 

圖5.9所示(shi)的二次負荷參(can)數設置界(jie)面(mian)中，3個試驗參數的意義為：

1> CT額定二次(ci)電流

此參數(shu)不影(ying)響試驗流程，僅用于計(ji)算二次回路的負(fu)荷值，例如測得二次回路的阻抗為2ohm，如果選擇額定二次電流(liu)為1A，則對(dui)應的二次(ci)負荷(he)為2VA，如果選擇的額定二次電流為5A，則對應的二(er)次負(fu)荷(he)為(wei)50VA

2> 額(e)定頻率

此參數用于控制輸(shu)出(chu)電流的頻率值(zhi)，如果選擇50Hz，則輸(shu)出(chu)電流(liu)的頻率(lv)為50Hz，否則輸出電流(liu)頻率為60Hz

3> 互感器(qi)編號：組成保存(cun)試驗文件的名稱(cheng)

5.6.2 CT二次(ci)負(fu)荷測(ce)量試驗流程

儀器(qi)的(de)二次負荷測量分為兩檔，兩檔的(de)輸出電流(liu)值（RMS）和(he)對應的(de)量(liang)程(cheng)為:

1) 測試(shi)電流為0.5A（RMS），測量(liang)量(liang)程為(wei)0~80ohm

2）測試電流為(wei)0.25A（RMS），測(ce)量量程為0~160ohm

試驗啟(qi)動后儀器(qi)首(shou)先輸出(chu)0.5A(RMS)測試電流，如(ru)果(guo)發現(xian)被測負載超(chao)過了(le)量程范圍，則儀(yi)器(qi)自動調整輸出(chu)電流值至0.25A（RMS），再次進行測量

5.6.3 CT二次負荷測量試驗結果

CT二次負荷的測量結果如(ru)圖5.10所(suo)示。

 

 

二次負荷(he)試(shi)驗(yan)結果(guo)頁(ye)面(mian)中的各個參數定義如表5.11所示。

表(biao) 5.11 二次負荷試(shi)驗結果(guo)參數

 

名稱(cheng)	參數說明
額定二次負荷	以VA形式或阻抗形式表(biao)示的儀器額定二次負荷(he)值
額定功率因數	額定二次負(fu)荷的功率因數值
測試(shi)電流	以有效(xiao)值(zhi)表示的實際測試電流值(zhi)
測(ce)試電壓	加載在二(er)次回路上的電(dian)壓有效值
測(ce)試(shi)頻率(lv)	加(jia)載在二次回(hui)路上的電(dian)流(liu)有效值
二次(ci)負荷	實測的二次(ci)負(fu)荷值(zhi)以VA形式(shi)表示，其值為：額定二次電流*額(e)定二(er)次電流*實測(ce)二次(ci)阻抗
功率因(yin)數	實測(ce)二次回路的(de)功率因數值
二(er)次(ci)阻抗	實測二次(ci)回(hui)路(lu)的阻(zu)抗值

 

5.7 PT線圈電(dian)阻(zu)測量(liang)

選擇PT線圈電阻測量后，儀器(qi)給出(chu)試驗的連線參考圖(tu)和測試電流選擇界面如圖(tu)5.11。

啟動(dong)試驗(yan)，儀器(qi)輸出0.5A(或0.05A,0.005A)直(zhi)流電(dian)流對(dui)線(xian)(xian)(xian)圈進行充電(dian)，當線(xian)(xian)(xian)圈電(dian)阻值(zhi)(zhi)穩定(ding)以后試(shi)驗自動停止，并記錄(lu)停止時刻的線(xian)(xian)(xian)圈電(dian)阻值(zhi)(zhi)和環(huan)境(jing)溫(wen)度(du)(du)值(zhi)(zhi)（儀器(qi)面板部位(wei)帶有(you)溫(wen)度(du)(du)傳(chuan)感器(qi)，用(yong)于測量當前的環(huan)境(jing)溫(wen)度(du)(du)）。試(shi)驗完(wan)成后結果展示方(fang)式與5.2.3章節中(zhong)的線圈電阻展示(shi)頁(ye)面*但是(shi)PT線圈電(dian)阻試驗沒有計算75攝氏度參考電阻值。

對于電(dian)磁式PT，一次側和(he)二次側線(xian)圈電阻都可以通(tong)過該項(xiang)目檢測，對(dui)于CVT式的(de)電(dian)壓互感器只(zhi)能檢測二次(ci)線圈的(de)電(dian)阻值。

 

5.8 PT極(ji)性檢查

PT極性(xing)試驗(yan)(yan)只(zhi)需(xu)設置(zhi)互(hu)感器的(de)編號即可。選擇極性(xing)檢查試驗(yan)(yan)后，儀器給出(chu)(chu)試驗(yan)(yan)的(de)連線參考圖。啟(qi)動試驗(yan)(yan)后，儀器輸出(chu)(chu)交流正(zheng)弦電(dian)壓至PT一(yi)次(ci)繞組，并(bing)測量PT二次側繞組的電壓，當PT二次繞組電壓(ya)超過測量閾值或PT一次電壓輸出至zui大電壓時(shi)，儀器計(ji)算(suan)此時(shi)的PT極性。儀器按(an)照如(ru)下(xia)標準來判定被測PT的(de)極性：

90度>當(dang)一次電壓與二(er)次電壓相(xiang)角(jiao)差>-90度(du) 時計算(suan)結(jie)果為(wei)同極性（-極(ji)性），否則(ze)為反極(ji)性（+極性）

極性檢查(cha)試驗完成后，試驗結果與圖5.8*。

5.9 PT二次負荷測量

5.9.1 PT二次負荷(he)測量參數設置

PT二次負荷測(ce)量(liang)的(de)試驗參(can)數設置項目包括互感(gan)器編號，測(ce)試電壓，測(ce)試頻率(lv)，選擇二次負荷測(ce)量(liang)后(hou)圖5.12所示的(de)參數(shu)設置窗體(ti)將會被加載(zai)。啟動二次負荷試(shi)驗后儀器(qi)會根據所選擇的(de)參數(shu)輸出(chu)一個恒定的(de)正弦電壓至PT二次負荷回路。

 

 

圖5.12所(suo)示的二次負(fu)荷參數設置界面(mian)中，3個試驗(yan)參數的(de)意義為：

互感器(qi)編(bian)號

用于組成保存試驗時的文件名稱

2> 額定頻率

此參數用于控制輸出電壓的頻率(lv)值，如果選擇50Hz，則(ze)輸出電壓的頻率為(wei)50Hz，否(fou)則輸出(chu)電壓頻(pin)率(lv)為60Hz

PT額定二次(ci)電壓

儀器以此(ci)參數來計算zui大輸(shu)出電(dian)壓值(zhi)，試(shi)驗被啟動后(hou)儀器輸(shu)出幅(fu)值(zhi)為互感器二次(ci)(ci)額(e)定(ding)值(zhi)大小(xiao)的電(dian)壓至二次(ci)(ci)回(hui)路(lu)，并在此(ci)電(dian)壓下(xia)測量二次(ci)(ci)回(hui)路(lu)的阻(zu)抗，并依據二次(ci)(ci)額(e)定(ding)電(dian)壓計算負荷值(zhi)。

二(er)次負荷(he)=（二次額定(ding)電(dian)壓×二次額定(ding)電(dian)壓）/二次回路阻抗

5.9.2 PT二次負荷(he)測量試驗(yan)流程

試驗(yan)啟動后儀器(qi)首先輸(shu)出很小(xiao)的測試電壓至二次回(hui)路(lu)，并(bing)逐(zhu)步(bu)升壓，同(tong)時檢(jian)測是否(fou)(fou)過載(zai)(zai)，如果發現輸(shu)出電流過載(zai)(zai)，則(ze)儀器(qi)停止升壓，否(fou)(fou)則(ze)一直升至二次額(e)定電壓值(zhi)。在(zai)zui高(gao)輸(shu)出電壓處測量(liang)二次回(hui)路(lu)的阻抗值(zhi)，并(bing)依據額(e)定二次電壓計(ji)算二次負荷(he)。

5.9.3 PT二次(ci)負荷測量試(shi)驗(yan)結(jie)果

PT二(er)次(ci)負荷的(de)展示頁面與(yu)CT二次(ci)展(zhan)示頁面(mian)*，只(zhi)是在(zai)PT二(er)次負(fu)(fu)荷展示頁面并沒有額定負(fu)(fu)荷的顯(xian)示，其(qi)參(can)數含(han)義也(ye)是一樣的，詳情參(can)見(jian)5.6.3節(jie)

5.10 PT變比

5.10.1 PT變比試驗(yan)參(can)數設(she)置

PT變比試(shi)驗的參數設置(zhi)界面如圖5.13，其中需要(yao)設置的參(can)數定義如(ru)表5.12

 

 

圖5.12 PT變比參數設置

 

名稱	參(can)數說(shuo)明
生產廠家	此項(xiang)目僅用于生成WORD試驗(yan)報告(gao)時對(dui)互感器進(jin)行標識，與試驗(yan)流程(cheng)無關
互感器型號(hao)	此項目(mu)僅用于生成WORD試驗報告時對互感器(qi)進行標識，與試驗流程無關
互感(gan)器(qi)編號	此(ci)項目僅用于生(sheng)成WORD試(shi)(shi)驗報告(gao)時對互感(gan)器進行標識和保存試(shi)(shi)驗時組成保存的文件(jian)名(ming)稱，與試(shi)(shi)驗流程無關
額定(ding)一次電壓	設置電(dian)壓(ya)互(hu)感器的額定一次電(dian)壓(ya)值(zhi)，用于(yu)計算額定變比(bi)
額定二次電(dian)壓	設(she)置電(dian)壓(ya)互感器的額(e)定(ding)二(er)次電(dian)壓(ya)值，用于計算額(e)定(ding)變比，互感器額(e)定(ding)二(er)次電(dian)壓(ya)由兩(liang)部(bu)分組成，實際電(dian)壓(ya)是2部分(fen)相乘

 

5.10.2PT變比試驗流(liu)程

進行PT變比試驗(yan)時，試驗(yan)流程(cheng)如下：

反(fan)接判(pan)斷->匝數比和極(ji)性測量

5.10.3 PT變比(bi)結果展示

PT變比(bi)試驗結(jie)果顯(xian)示(shi)檢測得到的一次線圈電(dian)阻值，匝(za)數比(bi)和連接(jie)極性(xing)。

5.11 PT勵磁試驗

5.11.1 PT勵(li)磁試驗參數(shu)設置

PT勵磁試驗的參數設置界(jie)面如圖(tu)5.14，其中(zhong)需要設(she)置的參數定義如表5.13

 

 

圖5.13 PT變比參數設(she)置(zhi)

 

名稱	參(can)數說明
互感器編(bian)號	此項目僅用于生成WORD試驗報告時(shi)對(dui)互(hu)感器(qi)進行標(biao)識和保存試驗時(shi)組成保存的文件名稱(cheng)，與試驗流程無關(guan)
額定一(yi)次(ci)電壓(ya)	設置電壓互感器的額定(ding)一次電壓值，此(ci)項目僅用于生(sheng)成WORD試(shi)驗(yan)報告時對(dui)互感(gan)器進行標識和保存試(shi)驗(yan)時組成(cheng)保存的文件(jian)名稱，與試(shi)驗(yan)流程(cheng)無關
額定二次電壓	設置電壓互(hu)感(gan)器(qi)的(de)額(e)定二次電壓值，用于控制互(hu)感(gan)器(qi)升(sheng)壓過(guo)程(cheng)，試(shi)驗過(guo)程(cheng)儀(yi)器(qi)升(sheng)壓不(bu)會超過(guo)互(hu)感(gan)器(qi)額(e)定二次電壓的(de)1.2倍，試驗完成后儀器(qi)根據此數(shu)值計算各點的(de)勵磁損耗。額定二次(ci)電壓(ya)由(you)輸入文本框和倍數(shu)復選框2部分組成。
測試頻率	選擇互(hu)感器(qi)的額定工作頻率(lv)
一次直流電(dian)阻	PT一次(ci)繞組直流電(dian)阻(zu)的實測值，用于推算PT比差和角差值
二次負荷	PT所(suo)連接二(er)次負荷的(de)阻抗和功率(lv)因素，用于推算PT比差和角差值
PT匝數比	PT匝數(shu)比，PT變比試(shi)驗的實(shi)測值，用于(yu)推算PT比差(cha)和角差(cha)值

 

5.11.2 PT勵磁試驗結果展(zhan)示

PT勵磁試驗結果包括PT勵(li)磁(ci)曲線，PT勵磁(ci)曲線(xian)數(shu)據，PT二(er)次(ci)線圈電(dian)阻，20%，50%，80%，100%和(he)120%額定二次電壓位(wei)置所對應(ying)的PT二次勵(li)磁電(dian)流，80%，100%和(he)120%額定電壓位置(zhi)處(chu)的比差和角差值

5.12生(sheng)成試(shi)驗報(bao)告

使用(yong)C T分(fen)析儀(yi)的軟件可以(yi)自動(dong)生(sheng)成(cheng)WORD格(ge)式的試(shi)驗(yan)報告，試(shi)驗(yan)報告以MS WORD2003的"*.DOC"格(ge)式保存。試(shi)驗完(wan)成后在“查(cha)(cha)看結果(guo)"或查(cha)(cha)看歷史結果(guo)界(jie)面點擊生成按(an)鈕(niu)，則儀器會自動制(zhi)作對應試(shi)驗項目的試(shi)驗報，圖5.15展示了CT分析試驗報(bao)告的(de)首頁。

                  &nbsp;   圖(tu)5.15 CT分析(xi)試驗報告首頁

第六章 自動評估與銘(ming)牌推測

6.1 自動評估

6.1.1 自動評估(gu)定義

自(zi)動評估(gu)是指將實(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)的(de)(de)(de)參(can)數與當(dang)前(qian)所選(xuan)(xuan)標(biao)準規定值進行(xing)對(dui)比，如(ru)果(guo)實(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)參(can)數全(quan)部符合(he)(he)標(biao)準的(de)(de)(de)規定則互感器(qi)(qi)檢測(ce)(ce)(ce)是合(he)(he)格的(de)(de)(de)，否(fou)則互感器(qi)(qi)檢測(ce)(ce)(ce)不合(he)(he)格。由于互感器(qi)(qi)的(de)(de)(de)很多參(can)數與互感器(qi)(qi)所連(lian)接的(de)(de)(de)負(fu)載有關，因此儀器(qi)(qi)的(de)(de)(de)自(zi)動評估(gu)選(xuan)(xuan)項有“僅對(dui)操作負(fu)荷(he)評估(gu)"和“對(dui)額定和操作負(fu)荷(he)評估(gu)"評估(gu)兩種選(xuan)(xuan)擇。

選擇(ze)(ze)“僅對操(cao)作負(fu)荷(he)評(ping)估"時(shi)，儀(yi)器僅僅將操(cao)作負(fu)荷(he)條(tiao)件下(xia)(xia)計(ji)算的參數(shu)與標準規定的值進(jin)行(xing)對比。如果選擇(ze)(ze)了(le)“對額定負(fu)荷(he)和操(cao)作負(fu)荷(he)評(ping)估"，則儀(yi)器將額定負(fu)荷(he)和操(cao)作負(fu)荷(he)兩(liang)種(zhong)條(tiao)件下(xia)(xia)計(ji)算得到(dao)參數(shu)都與標準規定值進(jin)行(xing)對比，只有兩(liang)種(zhong)條(tiao)件下(xia)(xia)計(ji)算所得的參數(shu)都合(he)格時(shi)，互(hu)感器檢測才顯示為合(he)格

注意：自動評估(gu)和銘(ming)牌推測僅僅是針(zhen)對與CT分析項目進行(xing)，對于其(qi)他(ta)的試(shi)驗(yan)項目無效

6.1.2 自動評估項目和合格條件

對于(yu)不同(tong)等級(ji)的(de)(de)互感器(qi)，自動評估的(de)(de)項(xiang)目是不一樣的(de)(de)，詳細的(de)(de)評估項(xiang)目和評估合格條件(jian)見表(biao)6.1，~表6.5

表(biao)6.1 IEC60044-1計量(liang)類電流(liu)互感器的評估項目和合(he)格(ge)條件

 

互感器等級	評估項目(mu)	評估(gu)合格條件
0.1級	1） 儀表(biao)安保系(xi)數FS 2） 25%，100%額(e)定負荷和操作負荷條件下二次電流為5%，20%，50%，100%，120%額定電(dian)流時的(de)電(dian)流比差角差	1）實測FS<=FS額定 2）5%額(e)定(ding)二(er)次電(dian)流比差<=0.4% 20%額定二次電流比差<=0.2% 100，120%額(e)定(ding)二次電流比差<=0.1% 5%額定二次電流角差<=15分(fen) 20%額定二次電流比差<=8分 100，120%額定二次電流比差<=5分
0.2級(ji)	1） 儀表安保系(xi)數FS 2） 25%，100%額定負(fu)荷和操(cao)作(zuo)負(fu)荷條件(jian)下二次電流為5%，20%，50%，100%，120%額(e)定電流時的電流比差(cha)和角差(cha)	1）實測FS<=FS額定 2）5%額定二次電流比差<=0.75% 20%額定二次電流比(bi)差<=0.35% 100，120%額定二(er)次電(dian)流比(bi)差<=0.2% 5%額定二次電流角差<=30分 20%額定二次電流比差<=15分 100，120%額定二(er)次電流比差<=10分
0.2S級	1） 儀表安保系數(shu)FS 2） 25%，100%額定負荷和操作(zuo)負荷條件下(xia)二次電流(liu)為1%，5%，20%，50%，100%，120%額定電流時(shi)的(de)電流比差(cha)和(he)角(jiao)差(cha)	1）實測FS<=FS額(e)定 2）1%額定二次電(dian)流比差(cha)<=0.75% 5%額(e)定二(er)次電流比差<=0.35% 20，100，120%額定(ding)二次電流(liu)比差<=0.2% 1%額(e)定二(er)次電流(liu)角差<=30分 5%額定二次電流(liu)比差<=15分 20，100，120%額定二(er)次電流比差<=10分(fen)
0.5級(ji)	1） 儀表安保系數FS 2） 25%，100%額定負荷和操作負荷條件下二次(ci)電流為5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電流(liu)時的電流(liu)比差和角差	1）實測FS<=FS額定 2）5%額(e)定二次(ci)電流(liu)比差<=1.5% 20%額定二次電流比差(cha)<=0.75% 100，120%額定二(er)次電流比差<=0.5% 5%額定二次電(dian)流角差<=90分 20%額定二次電流比差<=45分 100，120%額定(ding)二次電流(liu)比差<=30分(fen)
0.5S級	1） 儀(yi)表安保系數FS 2） 25%，100%額定負荷(he)和操(cao)作負荷(he)條件下(xia)二次電流(liu)為1%，5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電(dian)流時的電(dian)流比差和角差	1）實測FS<=FS額(e)定 2）1%額定(ding)二次電流比差<=1.5% 5%額定(ding)二次電(dian)流比差(cha)<=0.75% 20，100，120%額定(ding)二次電(dian)流比(bi)差(cha)<=0.5% 1%額定二次電(dian)流角差<=90分 5%額定二次電流比差<45分 20，100，120%額定二次電(dian)流(liu)比差(cha)<30分
1.0級	1） 儀表安(an)保系數FS 2） 25%，100%額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操(cao)作(zuo)負(fu)荷(he)條(tiao)件下(xia)二(er)次電(dian)流為(wei)5%，20%，50%，100%，120%額定電(dian)(dian)流時的(de)電(dian)(dian)流比差和(he)角(jiao)差	1）實測(ce)FS<=FS額定 2）5%額定二次電流比差(cha)<=3% 20%額(e)定二次電流(liu)比差<=1.5% 100，120%額定二次電(dian)流比差(cha)<=1.0% 5%額定(ding)二次(ci)電(dian)流角差<=180分(fen) 20%額定二次電流比差<=90分(fen) 100，120%額定二(er)次電流比差<=60分
3.0級	1） 儀表安(an)保系數FS 2） 50%，100%額定負(fu)荷和操作(zuo)負(fu)荷條件下二次(ci)電流為50%，120%額定電(dian)流時的電(dian)流比差(cha)	1）實測FS<=FS額定 2）50%額定二次電流(liu)比(bi)差<=3% 120%額定(ding)二(er)次電流(liu)比差<=3%
5.0級	1） 儀(yi)表安(an)保(bao)系數FS 2） 50%，100%額定負荷和操作負荷條件下(xia)二次電流為50%，120%額(e)定電流時的電流比(bi)差	1）實測FS<=FS額定 2）50%額定二次電流(liu)比差<=5% 120%額定二次電流比差<=5%

 

表(biao)6.2 IEC60044-1 保護類(lei)電流互感(gan)器等評估項目(mu)和(he)評估合格條(tiao)件

 

互感器等級	評估項目(mu)	評估合格條件
5P	準(zhun)確限值系數(shu)ALF 100%額定電流處(chu)比差 100%額定電流(liu)處(chu)角差(cha)	實測(ce)ALF>=額定ALF 100%額定電流(liu)比差<=1% 100%額(e)定電流角差<=60分
10P	準(zhun)確限(xian)值系數(shu)ALF 100%額定(ding)電流(liu)處比差	實測ALF>=額定ALF 100%額定電流比(bi)差<=3%
5PR	準確限值系數ALF 2）100%額定電(dian)流處比(bi)差 3）100%額定電流處(chu)角(jiao)差 4）剩磁系數(shu)Kr	1）實測ALF>=額定ALF 2）100%額定電(dian)流比(bi)差<=1% 3）100%額定電流角差<=60分 4）Kr<=10%
10PR	準確(que)限值(zhi)系數ALF 2）100%額定(ding)電流處比差 3）剩(sheng)磁系數Kr	1）實測ALF>=額定ALF 2）100%額定電流比差(cha)<=3% 3）Kr<=10%
PX	匝(za)數比(bi) 準確限制(zhi)電(dian)壓Ek 準確限(xian)制電流Ie 面積系數Kx 75攝氏度線圈電阻	1）匝數比誤差<=0.25% 2）Ek實測(ce)值>=Ek額定值 3）Ie實測值>=Ie額(e)定值 4）Kx實測值>=額定Kx值 5）75攝氏度(du)實測線圈電阻<=額(e)定(ding)值(zhi)

 

表(biao)6.3 IEC60044-6 暫態電流互感器評估(gu)項目和評估(gu)合格條件(jian)

 

互感器等(deng)級	評估項目(mu)	評估(gu)合格(ge)條件(jian)
S	匝數比 準確(que)限制電壓Val 準確限(xian)制電流Ial 對稱短路電流系數(shu)Kssc 75攝氏度線圈電(dian)阻(zu)	匝數(shu)比(bi)誤差<=0.25% Val實測值>=Val額定(ding)值 Ial實(shi)測(ce)值<=Ial額定(ding)值(zhi) K*Kssc測量(liang)>=K*Kssc額定值(zhi) 5）75攝氏度(du)實測線圈電阻(zu)<=額定值
X	額定電流(liu)處(chu)比差(cha) 額定電流處角差 額定Kssc和(he)實測Ktd處峰瞬誤差(cha) Kssc*Ktd額定值與(yu)實測值 75攝氏度線(xian)圈電阻	額定(ding)電(dian)流處(chu)比(bi)差<=0.5% 額(e)定電流處(chu)角(jiao)差<=30分 額定(ding)Kssc*實(shi)測Ktd處(chu)峰瞬誤差<=10% (Kssc*Ktd)實(shi)測(ce)值>=(Kssc*Ktd)額(e)定值 75攝氏度實測線圈電阻<=額(e)定值
Y	額定電流處比差 額(e)定電(dian)流處角(jiao)差 額定Kssc和(he)實測Ktd處峰瞬(shun)誤(wu)差 Kssc*Ktd額(e)定值(zhi)與(yu)實(shi)測值(zhi) 二次時間(jian)常數Ts 剩磁系(xi)數Kr 7）75攝氏度線圈電阻	額定電(dian)流(liu)處比差<=1.0% 額定電流處(chu)角差<=60分 額定Kssc*實測Ktd處峰瞬誤差<=10% (Kssc*Ktd)實測值>=(Kssc*Ktd)額(e)定值 Ts實測<=30%Ts額定 Kr<=10% 7）75攝氏度實測線圈電阻<=額定值
Z	額(e)定電流(liu)處比差(cha) 額定電流(liu)處角差 Kssc*Ktd額定(ding)值與實測(ce)值 二次時間常(chang)數Ts 5）75攝(she)氏(shi)度(du)線圈電(dian)阻(zu)	額定(ding)電流處比差<=1.0% 2）額定電流處角差(cha)<=180分 3）(Kssc*Ktd)實測值>=(Kssc*Ktd)額定值 4）Ts實測<=30%Ts額定 5）75攝氏(shi)度(du)實測線圈(quan)電(dian)阻<=額定值

 

表6.4 C57.13計(ji)量類互感(gan)器(qi)自動(dong)評估項目和自動(dong)評估條件

 

互(hu)感器等級	自動評估項目	自動評估合格條件(jian)
0.3級	額定負荷(he)和操作(zuo)負荷(he)下(xia)10%，100%，100%*RF額(e)定二次電(dian)流處的電(dian)流比差	10%額定電流比差<=0.6% 100,100*RF%額定電(dian)流比差<=0.3%
0.6級	額定負(fu)荷和操作負(fu)荷下10%，100%，100%*RF額(e)定(ding)二次電流處的電流比差	10%額定電流比差<=1.2% 100,100*RF%額定電流比差(cha)<=0.6%
1.2級(ji)	額(e)定負荷和操作負荷下10%，100%，100%*RF額(e)定二次電流(liu)處的電流(liu)比差	10%額定電流比差<=2.4% 100,100*RF%額定電流比差(cha)<=1.2%

 

表6.5 C57.13保(bao)護類互感器自動(dong)評(ping)估(gu)項目(mu)和自動(dong)評(ping)估(gu)條(tiao)件

 

互(hu)感(gan)器(qi)等級	自動評估項(xiang)目	自動評估合格條件(jian)
C	1）Vbmax與VB額定值比較 2）Vbmax處的(de)二次電流Isec 3）20*Isn處(chu)的(de)比(bi)差 4）Vb額定值處的比差(cha)	1）Vbmax>=Vb額定值(如未輸入Vb額定值，則自動(dong)設置(zhi)Vb額定值為20Isec額定值，額定負荷下的二次端電(dian)壓Vb) 2）Vbmax處(chu)Isec>=20*Isec額定 3）20*Isn額定處電流比差(cha)<=10% 4）Vb額(e)定(ding)值處電(dian)流比(bi)差<=10%
K	1）Vbmax與VB額(e)定值(zhi)比較 2）Vbmax處的二次電(dian)流Isec 3）拐點電(dian)壓 4）20*Isn處的(de)比差 5）Vb額定值處的比(bi)差	1）Vbmax>=Vb額(e)定值 2）Vbmax處(chu)Isec>=20*Isec額定(ding) 3）拐(guai)點電壓>=70%Vb額定值 4）20*Isn額定處電流(liu)比差<=10% 5）Vb額定(ding)值處電(dian)流比(bi)差(cha)<=10%
T	1）Vbmax與VB額定值比較(jiao) 2）Vbmax處的(de)二次(ci)電流Isec 3）20*Isn處的比差(cha) 4）Vb額定值處的比差(cha)	1）Vbmax>=Vb額(e)定值 2）Vbmax處Isec>=20*Isec額定 3）20*Isn額定處電流比差<=10% 4）Vb額定(ding)值處電流(liu)比差<=10%

 

6.2 勵磁參數計算(suan)

在CT分析的(de)試驗結果(guo)展(zhan)示界(jie)面，有(you)一頁(ye)為勵磁參數(shu)和(he)自動評估，其(qi)中的(de)勵磁參數(shu)計算項目是由所選擇的(de)測試標準和(he)互感器(qi)等級(ji)決定，其(qi)對應關系如表(biao)6.6，表6.7和(he)表6.8所(suo)示。

表6.6 IEC60044-1 勵磁參數計算項目(mu)

 

參數名稱(cheng)	參數說明(ming)	IEC60044-1計量(liang)類	IEC60044-1保(bao)護類(lei)
V-kn	電壓(ya)拐點，詳細定義見表6.9	√	√
I-kn	電流拐(guai)點，詳(xiang)細(xi)定義見表6.9	√	√
Ek	PX級互感(gan)器準(zhun)確(que)限(xian)制電壓		√
Ie	PX級互(hu)感(gan)器準確限制(zhi)電流		√
FS	儀表安保系數	√
ALF	準確限值(zhi)系數(shu)		√
Kx	PX級互感器(qi)定義的面積系數		√
Ls	飽和電感(gan)	√	√
Lu	不飽和電感	√	√
Ts	二次時間常數	√	√
Kr	剩磁系數	√	√
Ktd	暫態面積系數		√

 

其中部分參數(shu)的含(han)義(yi)如下：

1）Ek 為IEC60041曲線拐點位置處(chu)的電動勢

2）Ie 為IEC60041曲線拐點位(wei)置(zhi)處的勵(li)磁電流

3）FS儀器保安系(xi)數是CT誤差(cha)達到10%時一次電流對額定電流的(de)倍數，此參數僅對測量(liang)類互感(gan)器有效(xiao)

4）準確限值系數是指CT誤差(cha)達到(dao)5%或10%時一次電(dian)流對(dui)額(e)定電(dian)流的倍數

5）Kx面(mian)積系數(shu)是指實測準確限制系數(shu)對(dui)額(e)定(ding)準確限制系數(shu)的(de)比值

6）Ls飽(bao)和電感是指互感器在飽(bao)和狀態下(xia)二次(ci)線圈的(de)等效電感，用于(yu)推算二次(ci)回路在飽(bao)和狀態下(xia)的(de)時(shi)間常數

7）Lu不飽和電感(gan)是指互感(gan)器在非飽和情況下的二次線(xian)圈等效電感(gan)，用于(yu)推算二次回路(lu)在非飽和狀態下的時間常(chang)數

8）Kr是指互感(gan)器(qi)線圈勵磁(ci)電流過零時，鐵芯中剩余的磁(ci)通(tong)量(liang)

表 6.7 IEC60044-6 勵(li)磁(ci)參數(shu)計算項目(mu)

 

參(can)數名稱	參數說明(ming)	S	X/Y	Z
V-Kn	電壓拐點，詳(xiang)細定(ding)義見表6.9	√	√	√
I-Kn	電流拐點，詳(xiang)細(xi)定義見表6.9	√	√	√
V-al	S級互感器定義的準確限(xian)制電壓	√
I-al	S級(ji)互感器定義的準確限制電流	√
Kssc	實測的(de)對稱短路電流系數(shu)
Eerror	電壓Emax處的峰瞬誤差		√
Emax	zui大電動勢		√
Ls	飽和電感	√	√	√
Lu	不飽和電感	√	√	√
Ts	二次回路時間常數	√	√	√
Kr	剩磁系(xi)數	√	√	√
Ktd	實際計算得到的暫態面積系(xi)數		√	√

 

其中部分參數的含義如下：

1）V-al 按照IEC60046定義的曲線拐(guai)點位置處(chu)的電動勢

2）I-al 按照(zhao)IEC60046定義的曲(qu)線(xian)拐(guai)點位(wei)置處(chu)的勵磁電流

3）Kssc 互感(gan)器一(yi)(yi)次(ci)回路(lu)中zui大短路(lu)電流對(dui)額定(ding)一(yi)(yi)次(ci)電流的倍數

4）Emax互感器額(e)定極限電動勢，此(ci)數值有(you)一次zui大短路(lu)電流，線圈內阻和(he)二次負荷共同決(jue)定

5）Eerror 額(e)定極限電動(dong)勢處(chu)對應的互感器(qi)瞬時值測(ce)量(liang)誤差

表6.8 C57.13的勵磁(ci)參數計算項目

 

參數名稱	參數說明	C57.13計量類	C57.13保護類
V-kn	電(dian)壓拐點，詳細定義見表6.10	√	√
I-kn	電(dian)流拐點，詳細定義見(jian)表6.10	√	√
FS	儀表安保系數(shu)	√
ALF	準(zhun)確限值系數		√
Kx	PX級互感(gan)器定義的面積系數		√
Ls	飽和電感(gan)	√	√
Lu	不飽和電(dian)感	√	√
Ts	二次(ci)時間常(chang)數	√	√
Kr	剩磁系數	√	√

 

6.3 拐點和磁(ci)化曲線定(ding)義(yi)

不同測試標(biao)準的磁化曲(qu)線，拐點(dian)電(dian)壓和拐點(dian)電(dian)流的定義是不一(yi)樣的，詳細的定義說(shuo)明如(ru)表6.9和表6.10所(suo)示。

表(biao)6.9 三種測試標準(zhun)的磁(ci)化曲(qu)線定(ding)義

 

標準名稱	磁化曲線(xian)橫坐標	磁化曲線縱(zong)坐標(biao)
IEC60044-1	二次端電壓有效值	勵磁電流有效值
IEC60044-6	電動勢電壓有(you)效值(zhi)	勵磁電流峰值(zhi)
C57.13	電動(dong)勢電壓有(you)效值	勵磁電流有(you)效值

 

表6.10 拐點(dian)定(ding)義

 

標準名稱(cheng)	拐點定義
IEC60044-1	勵磁曲(qu)線(xian)上二(er)次端(duan)電壓上升10%，導致勵磁電流有效值上升超過50%的(de)那個點
IEC60044-6	電動勢(shi)電壓上升10%，導致勵磁(ci)電流(liu)峰(feng)值上升(sheng)超過50%的那(nei)個點
C57.13	對于C57.13的ANSI45拐(guai)點是(shi)指對于橫坐(zuo)標正切為45度角的那個(ge)點，對于C57.13的ANSI30拐點是指對于橫坐標正切為30度角(jiao)的那(nei)個(ge)點

 

6.4 銘(ming)牌推測邏輯

CT分(fen)析儀(yi)的(de)(de)銘(ming)牌(pai)自(zi)動推(tui)測功能(neng)用于在銘(ming)牌(pai)部分(fen)信(xin)息未知時猜測銘(ming)牌(pai)的(de)(de)部分(fen)信(xin)息，推(tui)測的(de)(de)參數包(bao)括額定(ding)一次電(dian)(dian)流，額定(ding)二次電(dian)(dian)流和互感器(qi)等級。銘(ming)牌(pai)推(tui)測的(de)(de)所使用的(de)(de)順(shun)序和判斷條(tiao)件如下：

1） 如果額定二次電流未知，則根據當(dang)前所測得(de)的線圈(quan)電阻大小與(yu)1A/5A判斷閾值進行比(bi)較(jiao)（見系(xi)統參數設(she)置章節），如(ru)果小于閾值則將額定二次電(dian)流設(she)為5A，否(fou)則設(she)為(wei)1A

2）根據(ju)實際(ji)測量獲得的匝數(shu)比(bi)和額(e)定(ding)二次(ci)(ci)電(dian)流(liu)值(zhi)，對照當前(qian)所(suo)選(xuan)擇標準對一次(ci)(ci)電(dian)流(liu)取值(zhi)規則的規定(ding)，猜(cai)測額(e)定(ding)一次(ci)(ci)電(dian)流(liu)值(zhi)。

3）互感器等(deng)級的猜測

為了(le)猜測(ce)互感(gan)器的(de)等級(ji)首先(xian)需要判斷互感(gan)器鐵芯的(de)類型，根據1A或5A鐵芯判定閾值(zhi)（見(jian)系統參數設(she)置章節）獲取當前鐵芯類型，如果飽和電壓小于閾值(zhi)則為(wei)測量鐵芯否(fou)則為(wei)保護鐵芯。

如(ru)果猜測(ce)的互(hu)感(gan)器(qi)(qi)鐵芯為測(ce)量鐵芯，則儀器(qi)(qi)按照如(ru)下規(gui)則推(tui)測(ce)互(hu)感(gan)器(qi)(qi)等級。

1）如果選擇(ze)的是IEC60044-1則分別對如下精度等(deng)級順(shun)序分進行自(zi)動評估，直至(zhi)評估合格(ge)則為止(zhi)，*個評估合格(ge)的等(deng)級就是互感器的精度等(deng)級

0.1->0.2S->0.2->0.5S->0.5->1.0->3.0->5.0

2）如(ru)果選擇的是C57.13則分別對如下(xia)精度等(deng)級順序分進行自動評(ping)估(gu)，直至評(ping)估(gu)合格則為止(zhi)，*個評(ping)估(gu)合格的等(deng)級就(jiu)是互感器的精度等(deng)級

0.3->0.6->1.2

如(ru)果(guo)猜測的(de)鐵芯(xin)為(wei)保護鐵芯(xin)，則(ze)儀器(qi)按(an)照如(ru)下規則(ze)推測互感(gan)器(qi)等(deng)級

1）如(ru)果(guo)選擇的(de)是IEC60044-1，則分(fen)別(bie)對(dui)如下(xia)等級(ji)順序分(fen)進行自動評估(gu)，直至評估(gu)合格則為止(zhi)，*個評估(gu)合格的等級(ji)就是互(hu)感器的精(jing)度等級(ji)

5PR->10PR->PX->5P->10P

2）如果選(xuan)擇(ze)的是IEC60044-6，則(ze)分別對如下等級(ji)(ji)順序分進行自動(dong)評估(gu)(gu)，直至評估(gu)(gu)合(he)格則(ze)為止，*個評估(gu)(gu)合(he)格的(de)等級(ji)(ji)就是互(hu)感器的(de)精(jing)度(du)等級(ji)(ji)

Y-> X-> Z-> S

3）如(ru)果選擇(ze)的是C57.13，則分(fen)別對如下(xia)等(deng)(deng)級順序(xu)分(fen)進行自動評(ping)估(gu)，直至評(ping)估(gu)合格(ge)則為止，*個(ge)評(ping)估(gu)合格(ge)的等(deng)(deng)級就是(shi)互感器(qi)的精度等(deng)(deng)級

K->C->T

 

第七章 PC數據分析軟件(jian)

7.1 概述

分析儀的(de)產(chan)品(pin)光盤中包(bao)含2個(ge)PC應用程(cheng)序,數據分(fen)析軟件“C T ANALYZER FOR PC"和批(pi)量報告制作工具(ju)“C T ANALYZER BULK REPORTS"，這2個應用程序都是(shi)免安裝的綠色軟件(jian)，使用時將2個應用程序對(dui)應的(de)文件夾復制到計算(suan)機硬盤即(ji)可。

7.2 數據分析(xi)軟(ruan)件

在分(fen)析(xi)儀的數(shu)據分(fen)析(xi)軟件中雙擊(ji)“C T ANALYZER FOR PC"，出現如(ru)圖7.1所示數據分析軟件主界面。

 

 

分析儀的PC數據(ju)分析軟件(jian)操(cao)作與界面和儀器應用軟件(jian)基本*，其不同之處如下：

讀取(qu)文件(jian)時PC數據分析軟件需要用戶(hu)文件所(suo)在位置如圖7.2

保(bao)存文件時PC數據分析軟件需(xu)要用戶(hu)文件存儲位置如圖7.2

曲線(xian)對比(bi)窗口中讀取(qu)參(can)考曲線(xian)時需要用戶參(can)考文件所在位置如(ru)圖7.2

曲線對(dui)比(bi)中復制圖片時需要(yao)用戶文件存儲位(wei)置如(ru)圖7.2

生成WORD報(bao)告時需要用戶(hu)文件存儲位置如圖7.2

 

 

除以上所(suo)列不同之處外,數(shu)據(ju)分析(xi)軟件所有的操作方法(fa)與儀(yi)器(qi)數(shu)據(ju)處(chu)理軟件**，詳細說明請(qing)參(can)照儀(yi)器(qi)數(shu)據(ju)處(chu)理軟件說明

7.3 批量報告制(zhi)作工具(ju)

在儀器(qi)版(ban)本(ben)為(wei)V1.27.129以上的(de)機型中，分析儀的(de)產品光盤提供WORD報告批處理應(ying)用程序，此程序可(ke)以(yi)實現一(yi)次性生成(cheng)多個WORD報(bao)告(gao)文檔，在儀(yi)器產品(pin)光盤中雙擊C T分(fen)析儀批量(liang)報告制作(zuo)工具文件(jian)夾下的(de)“C T ANALYZER BULK REPORTS"，出(chu)現圖7.3所示窗口(kou)。

 

 

窗(chuang)口(kou)中各個按(an)鈕和(he)控件定義如下(xia)：

WORD報告批量(liang)生成(cheng)

點擊WORD報告批量(liang)生(sheng)成(cheng)時，進入報告配置窗(chuang)口如圖(tu)7.4所示(shi)，在(zai)該(gai)窗口中可以添加，移(yi)除需(xu)要制作報告(gao)的試驗文件(jian)。圖7.4窗口中(zhong)各個按鈕(niu)的定(ding)義(yi)如下：

添加文件

點擊“添(tian)加文件"出現圖7.5所示的試驗結果文件添加窗口，可以將試驗結果文件添加到WORD報告待生成(cheng)隊列。

注(zhu)意：圖7.5所示窗口中(zhong)可以通過(guo)鼠標同(tong)時(shi)選擇(ze)多個文件

移除文件

點(dian)擊移除文件，將WORD報告待生成隊(dui)列中(zhong)選中(zhong)的試驗結果文件從隊(dui)列中(zhong)移(yi)除

注意：此項功能僅僅將(jiang)試驗結(jie)果文(wen)件從(cong)隊列中(zhong)移除(chu)，并(bing)不會刪(shan)除(chu)計算機中(zhong)對應(ying)的試驗結(jie)果文(wen)件

移(yi)除所有(you)文件

點擊移除所(suo)有文件，清空(kong)WORD報告(gao)待生成隊列中所有(you)的試(shi)驗結果文件

注意(yi)：此項功能僅僅將試驗結(jie)果文件(jian)從隊列(lie)中移除(chu)，并不會刪除(chu)計算機中對應的試驗結(jie)果文件(jian)批量生(sheng)成WORD報告(gao)一次性(xing)生成WORD報告待生成隊列中所有的試驗結果文件(jian)

注意：當待生成(cheng)隊列中文件的數量很多時(shi)，生成(cheng)過程會耗費很長(chang)的時(shi)間，在此過程中應用軟(ruan)件不能響應其他控制命令，如果(guo)此時(shi)需要終止生成(cheng)過程，可以通過Ctrl+ALT+DEL關閉此應用程(cheng)序的進程(cheng)。

取消

退出WORD報告批量生成配置(zhi)窗口

試驗報告生(sheng)成過程控制

生(sheng)成WORD報告時包含(han)磁滯回路曲線(xian)，此項被(bei)選中時，在所(suo)有(you)的CT分(fen)析試驗結果(guo)文(wen)件的(de)WORD報(bao)告(gao)中會包含磁滯(zhi)回路(lu)曲線及數據(ju)，這樣的(de)配置會消耗較長(chang)的(de)生成WORD報(bao)告時間(jian)，否(fou)則這些曲線和數(shu)據不(bu)會出現在這些生成的WORD報告中并且生成WORD報告時(shi)間較(jiao)短

誤(wu)差曲線(xian)中(zhong)使用(yong)整(zheng)數一次電流倍(bei)數，此項(xiang)被選中(zhong)時，在所有的IEC60044-1保護類(lei)CT的試(shi)驗(yan)結果文件中，誤差曲線(xian)數(shu)據會顯示整數(shu)一次電(dian)流倍數(shu)的數(shu)值(zhi)

顯示簡化的勵磁數據，此項被選中時，在(zai)所有的CT分析試驗結果(guo)文件的WORD報告中顯示的(de)磁化曲(qu)線為30個點，這樣可(ke)以縮短生成WORD報(bao)告的時間，否則顯示點數為實測點并且生成(cheng)WORD報告的時間較長。

語言(yan)選擇

選擇此應用程序的(de)語言環境，目前版本支(zhi)持的(de)語言為(wei)中文和英文

進度(du)條

應用程(cheng)序主界(jie)面(mian)包含(han)2個進度(du)條指示(shi)生(sheng)成過(guo)程的(de)(de)狀態，位于主程序(xu)上部的(de)(de)進度(du)條是所有試驗(yan)結(jie)果文件WORD報告生成過程的總進(jin)度(du)指示，位于主程序下(xia)部的進(jin)度(du)條是單(dan)個試(shi)驗(yan)結(jie)果文件WORD報告(gao)生成過程的進度指示(shi)。

 

 

 

 

第八章(zhang) 附(fu)件清單

8.1 C T分析儀的(de)標準配置

C T分(fen)析儀(yi)的標準配(pei)置(zhi)如表7.1所示：

 

名稱	數(shu)量	說(shuo)明(ming)
C T分析儀主機	1
3M雙芯帶屏蔽測(ce)試電纜	2	CT二(er)次和(he)功率(lv)輸出連接線，每根電纜的兩頭(tou)都帶有紅色(se)和(he)黑色(se)香蕉頭(tou)，線徑(jing)大于1.5MM
10M雙(shuang)芯帶(dai)屏蔽測(ce)試電纜	1	CT一次連接線，每根電纜的兩頭都帶(dai)有(you)紅色和黑(hei)色香蕉頭，線徑大于(yu)1.5MM
接地線	1
大號測試鉗	2	紅黑各(ge)2個
測試冷壓片	4	紅黑各(ge)2個
測試(shi)針	4	紅黑各2個
鱷(e)魚夾	6	紅黑各3個
測試(shi)短接線	1	含(han)6個連接(jie)頭(tou)，用于短接(jie)CT二次的剩余非(fei)測試(shi)繞組
PT勵磁試驗模塊	1	用于(yu)PT勵磁試驗
5A電源保險	3
供電電纜	1
附(fu)件(jian)包	1	放置測(ce)試的各種附件
產品光盤	1	包含產(chan)品說明書和數據分析(xi)軟件
產(chan)品使用說明書	1
產品出廠(chang)檢測報告	1
合格證	1

 

 

附錄A. 低頻法測試原理(li)

IEC60044-6 標準（對應國家(jia)標準GB16847-1997）聲稱，CT 的(de)測(ce)試可以在(zai)比額定頻率(lv)低的(de)情(qing)況(kuang)下進行，避(bi)免(mian)繞組和(he)二次端子承(cheng)受不能容(rong)許(xu)的(de)電壓。的(de)要求就是(shi)，在(zai)鐵心上產生同樣大小的(de)磁通。

IEC60044-6 標準中給(gei)出的磁(ci)通計算公式：

其中，

R CT ：二次繞組電阻

U CT ：二次繞(rao)組端(duan)電(dian)壓

I CT ：二次電流

Ψ0  ：初始交(jiao)鏈磁(ci)通

Ψ(t)：t 時刻的交鏈磁通(tong)

定義鐵心電壓：

當鐵心(xin)電壓U C (t) 為正弦信號時，有：

其中：

f ：為(wei)正弦(xian)信號頻率

可以(yi)看出，在(zai)相同的(de)zui大交鏈(lian)磁通Ψm 下，鐵(tie)心電壓與頻(pin)率(lv)成正比。因此，只要在鐵(tie)心上產生同樣大小(xiao)的磁通(tong)，那么CT的(de)測(ce)試(shi)便可(ke)以(yi)(yi)在比(bi)額(e)定頻率低(di)的(de)情況下(xia)進行，此時所(suo)需(xu)的(de)鐵心電壓幅(fu)值(zhi)要求也(ye)(ye)降低(di)，二次繞(rao)組測(ce)試(shi)所(suo)需(xu)的(de)端電壓也(ye)(ye)相應(ying)降低(di)。對低(di)頻測(ce)試(shi)結(jie)果進行頻率折算后(hou)可(ke)以(yi)(yi)得(de)到額(e)定頻率下(xia)的(de)CT測試結果。

附(fu)錄B.10%誤差曲線計(ji)算

電流互感器(qi)的誤差主要是由(you)于勵磁電流I0的存在，它使二次電流I2與換算到二次側后的一次電流I1′不但在數(shu)值上不相等，而(er)且相位也不相同，這就造(zao)成了(le)電流互感(gan)器(qi)的誤差。

繼(ji)電保護(hu)要求(qiu)電流(liu)(liu)互(hu)感(gan)器的一次電流(liu)(liu)I1等于zui大短路電流時，其比值(zhi)差小(xiao)于或等于10％。在(zai)比值差等于10％時，二次電流I2 與(yu)換算到二次側(ce)后(hou)的一次電流I1′以及勵磁電流I0  之間滿(man)足下述關系(xi)：

定(ding)義(yi)M 為一(yi)次側zui大短(duan)路電流倍數(shu)，K 為(wei)電流互感器(qi)的變比，則有

 

其中(zhong)：

Z2  為電流互(hu)感器二次(ci)繞組(zu)阻抗

E0  為電流互感器二次繞組感應電動勢E0和I0的關系由勵磁特性曲線描述。

根據上述算式，zui后可以(yi)得到(dao)用zui大(da)短(duan)路電流倍數M 和(he)允許的zui大負荷阻抗ZB描述的10％誤差(cha)曲

5%誤差曲(qu)線的計算方式與10%誤差曲線(xian)計算方(fang)式*，只是誤差點從10%變(bian)成(cheng)了5%。對于(yu)5P/5PR的電(dian)流互感器通(tong)常計算5%誤差曲(qu)線，對于10P/10PR的保(bao)護類電流互感器通常計算10%誤差(cha)曲線。

 

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